[發明專利]一種拜耳格式圖像的插值方法和裝置

在審

• 申請號: 201710049607.2
• 申請日: 2017-01-23
• 公開（公告）號: CN106713877A
• 公開（公告）日: 2017-05-24
• 發明（設計）人: 張然然
• 申請（專利權）人: 上海興芯微電子科技有限公司
• 主分類號: H04N9/04
• 分類號: H04N9/04;H04N9/64
• 代理公司: 北京品源專利代理有限公司11332
• 代理人: 孟金喆,胡彬

技術領域

本發明實施例涉及圖像處理技術，尤其涉及一種拜耳格式圖像的插值方法和裝置。

背景技術

在數字彩色成像中，最常用的傳感器包括CCD(charge coupled device,電荷耦合器件)傳感器和CMOS(complementary metal oxide semiconductor,互補金屬氧化物半導體)傳感器，這兩類傳感器的感光表面覆蓋有濾色陣列(CFA,color filter array)，由于設計工藝的限制，CFA只允許傳感器的每個像素記錄一種顏色通道的值，而由這種傳感器獲取的圖像被稱為拜耳(bayer)格式圖像。

由于bayer格式圖像的每個像素點只能直接獲取三個顏色通道中的一個，因此，需要通過一定的插值方法對每個像素點缺失的通道進行估算，使每個像素點包含例如紅(R)、綠(G)、藍(B)三個顏色通道而形成全彩色圖像。

現有的插值方法通常是利用中心像素點的鄰域內像素點及計算得到的各自對應的權值進行插值，其中，權重表示鄰域內各像素點對中心像素點的色彩空間的貢獻度。但是，一方面，這種插值方法由于是利用鄰域像素值對當前像素點進行插值，因而容易受噪聲影響，尤其是在圖像細節豐富的區域容易產生偽彩；另一方面，由于在圖像色彩飽和度很高的區域，像素的取值并沒有考慮到方向性，三通道間數據的關聯性差，其邊界位置會出現鋸齒效應，從而影響圖像質量。

發明內容

本發明實施例提供一種拜耳格式圖像的插值方法和裝置，以解決現有技術的插值方法造成偽彩和邊界鋸齒效應，從而影響圖像質量的問題。

第一方面，本發明實施例提供了一種拜耳格式圖像的插值方法，包括：

檢測待處理圖像中的噪聲像素點，并去除檢測到的噪聲像素點，得到去噪圖像；

根據預設插值模板計算所述去噪圖像中用于進行高敏感通道插值的各像素點的插值權重，根據所述插值權重和對應的各像素點的像素值對所述去噪圖像中的高敏感通道進行插值，得到高敏感通道插值圖像；

利用引導濾波對所述高敏感通道插值圖像中的低敏感通道進行插值，得到所述待處理圖像的插值結果圖像。

第二方面，本發明實施例還提供了一種拜耳格式圖像的插值裝置，該裝置包括：

去噪模塊，用于檢測待處理圖像中的噪聲像素點，并去除檢測到的噪聲像素點，得到去噪圖像；

高敏感通道插值模塊，用于根據預設插值模板計算所述去噪圖像中用于進行高敏感通道插值的各像素點的插值權重，根據所述插值權重和對應的各像素點的像素值對所述去噪圖像中的高敏感通道進行插值，得到高敏感通道插值圖像；

引導濾波模塊，利用引導濾波對所述高敏感通道插值圖像中的低敏感通道進行插值，得到所述待處理圖像的插值結果圖像。

本發明實施例通過在插值之前先進行噪聲像素點的去除，然后進行高敏感通道的插值得到高敏感通道插值圖像，最后基于所述高敏感通道插值圖像，利用引導濾波對低敏感通道進行插值，得到插值結果圖像，從而提高插值輸入數據的可靠性和準確性，降低由于可能存在的噪聲對插值結果的影響，降低偽彩的發生，并且可以改善圖像邊界的鋸齒效應，避免三通道間數據關聯性差的情況，從而提高圖像質量。

附圖說明

圖1是本發明實施例一中的bayer格式圖像的插值方法的流程圖；

圖2是本發明實施例二中的bayer格式圖像的插值方法的流程圖；

圖3是本發明實施例二中p_k向量的示意圖；

圖4是本發明實施例二中的預設插值模板的示例；

圖5是本發明實施例三中的bayer格式圖像的插值方法的流程圖；

圖6是本發明實施例四中的bayer格式圖像的插值裝置的結構示意圖。

具體實施方式

下面結合附圖和實施例對本發明作進一步的詳細說明。可以理解的是，此處所描述的具體實施例僅僅用于解釋本發明，而非對本發明的限定。另外還需要說明的是，為了便于描述，附圖中僅示出了與本發明相關的部分而非全部結構。

實施例一

圖1為本發明實施例一提供的bayer格式圖像的插值方法的流程圖，本實施例可適用于對bayer格式圖像進行插值處理，該方法可以由bayer格式圖像的插值裝置來執行，該裝置可以采用軟件和/或硬件的方式實現。如圖1所示，本發明實施例一的方法具體包括：

S101、檢測待處理圖像中的噪聲像素點，并去除檢測到的噪聲像素點，得到去噪圖像。