[發(fā)明專利]費米能級可調(diào)的PIN結(jié)構(gòu)石墨烯光探測器及其制備方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201710049335.6 | 申請日: | 2017-01-23 |
| 公開(公告)號: | CN106784115B | 公開(公告)日: | 2018-08-14 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 王軍;潘銳;李凱;茍君;蔣亞東 | 申請(專利權(quán))人: | 電子科技大學 |
| 主分類號: | H01L31/09 | 分類號: | H01L31/09;H01L31/18;H01L31/0216;H01L31/0232 |
| 代理公司: | 成都華風專利事務(wù)所(普通合伙) 51223 | 代理人: | 徐豐 |
| 地址: | 611731 四川省*** | 國省代碼: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 費米 能級 可調(diào) pin 結(jié)構(gòu) 石墨 探測器 及其 制備 方法 | ||
1.一種費米能級可調(diào)的PIN結(jié)構(gòu)石墨烯光探測器,其特征在于,從下到上依次為襯底、金屬層、絕緣層、第一石墨烯層、介質(zhì)層及第二石墨烯層;絕緣層上具有源極電極、漏極電極及第一電極,其中源極電極和漏極電極均與第一石墨烯層相連接,第一電極與第二石墨烯層相連接;其中第一石墨烯層和第二石墨烯層中任意一個為P摻雜,另一個為N摻雜,第一石墨烯層、介質(zhì)層及第二石墨烯層構(gòu)成PIN結(jié)構(gòu);第一石墨烯層、源極電極、漏極電極、絕緣層及金屬層構(gòu)成一個場效應(yīng)晶體管。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的費米能級可調(diào)的PIN結(jié)構(gòu)石墨烯光探測器,其特征在于,所述金屬層為Cu、Au、Al、Ni、NiCr或Ag,且金屬層的厚度為100-1000nm。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的費米能級可調(diào)的PIN結(jié)構(gòu)石墨烯光探測器,其特征在于,所述絕緣層為SiO2、Si3N4、MnO2或MgO,絕緣層的厚度為100-1000nm。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的費米能級可調(diào)的PIN結(jié)構(gòu)石墨烯光探測器,其特征在于,所述介質(zhì)層為Si3N4、MgO、SiO2或未摻雜的石墨烯。
5.根據(jù)權(quán)利要求1或4所述的費米能級可調(diào)的PIN結(jié)構(gòu)石墨烯光探測器,其特征在于,所述介質(zhì)層的厚度為1-500nm。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的費米能級可調(diào)的PIN結(jié)構(gòu)石墨烯光探測器,其特征在于,所述絕緣層上還具有作為備用的第二電極。
7.一種費米能級可調(diào)的PIN結(jié)構(gòu)石墨烯光探測器的制備方法,其特征在于,包括以下步驟:
S1、在襯底表面沉積金屬層;
S2、在金屬層表面生長絕緣層;
S3、在絕緣層表面沉積一層金屬電極層,光刻金屬電極層形成源極電極、漏極電極、第一電極及第二電極;
S4、轉(zhuǎn)移一層石墨烯至絕緣層表面形成第一石墨烯層,第一石墨烯層分別與源極電極和漏極電極相連接,并對第一石墨烯層進行摻雜;
S5、在第一石墨烯層表面生長介質(zhì)層;
S6、轉(zhuǎn)移一層石墨烯至介質(zhì)層表面形成第二石墨烯層,第二石墨烯層與第一電極相連接,其中第二電極位于第二石墨烯層的一側(cè),并對第二石墨烯層進行摻雜;
S7、刻蝕掉器件表面多余的石墨烯,完成器件的制備。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的費米能級可調(diào)的PIN結(jié)構(gòu)石墨烯光探測器的制備方法,其特征在于,所述步驟S4中對第一石墨烯層進行P型摻雜,步驟S6中對第二石墨烯層進行N型摻雜;或者步驟S4中對第一石墨烯層進行N型摻雜,步驟S6中對第二石墨烯層進行P型摻雜。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的費米能級可調(diào)的PIN結(jié)構(gòu)石墨烯光探測器的制備方法,其特征在于,所述P型摻雜采用旋涂Au和甲苯混合溶液的方法對石墨烯層進行摻雜。
10.根據(jù)權(quán)利要求8所述的費米能級可調(diào)的PIN結(jié)構(gòu)石墨烯光探測器的制備方法,其特征在于,所述N型摻雜采用滴涂聯(lián)氨溶液或旋涂PEI溶液的方法對石墨烯層進行摻雜。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進行電能控制的半導體器件;專門適用于制造或處理這些半導體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉(zhuǎn)換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個共用襯底內(nèi)或其上形成的,一個或多個電光源,如場致發(fā)光光源在結(jié)構(gòu)上相連的,并與其電光源在電氣上或光學上相耦合的





