[發(fā)明專利]一種光電倍增管自動(dòng)靜態(tài)測(cè)試臺(tái)

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201710049108.3
• 申請(qǐng)日: 2017-01-23
• 公開（公告）號(hào): CN106646067A
• 公開（公告）日: 2017-05-10
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 鄭毅松;呂繼東;楊紅軍;李紅偉;李昌
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 海南展創(chuàng)光電技術(shù)有限公司
• 主分類號(hào): G01R31/00
• 分類號(hào): G01R31/00
• 代理公司: 廣州三環(huán)專利代理有限公司44202
• 代理人: 郝傳鑫,陳歡

1.一種光電倍增管自動(dòng)靜態(tài)測(cè)試臺(tái)，其特征在于，包括測(cè)試底座、傳送帶、測(cè)試箱、位置傳感器、氣動(dòng)控制系統(tǒng)和計(jì)算機(jī)，所述測(cè)試底座可在所述傳送帶上移動(dòng)，所述測(cè)試底座上設(shè)有分壓板，所述測(cè)試箱用于測(cè)試光電倍增管的靜態(tài)參數(shù)且安裝在所述傳送帶上，所述位置傳感器安裝在所述傳送帶上且置于所述測(cè)試箱的輸入側(cè)，所述氣動(dòng)控制系統(tǒng)用于控制測(cè)試箱的運(yùn)動(dòng)，所述計(jì)算機(jī)用于控制傳送帶、測(cè)試箱和氣動(dòng)控制系統(tǒng)的運(yùn)動(dòng)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種光電倍增管自動(dòng)靜態(tài)測(cè)試臺(tái)，其特征在于，所述測(cè)試底座包括底板、插座和插針，所述插座置于所述底板上方，所述插座用于安裝光電倍增管，安裝在所述插座上的光電倍增管管針通過導(dǎo)線與所述插針連接。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種光電倍增管自動(dòng)靜態(tài)測(cè)試臺(tái)，其特征在于，所述測(cè)試箱包括P1測(cè)試箱和P2測(cè)試箱，所述P1測(cè)試箱為陰極、增益測(cè)試箱，所述P2測(cè)試箱為暗電流測(cè)試箱，所述P1測(cè)試箱和P2測(cè)試箱均設(shè)有箱門、攔截開關(guān)和機(jī)械手。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種光電倍增管自動(dòng)靜態(tài)測(cè)試臺(tái)，其特征在于，所述P1測(cè)試箱設(shè)有色溫為2856K的鎢絲燈光源，所述光源通過濾光片調(diào)節(jié)光波波段、通過衰減片可以調(diào)節(jié)光強(qiáng)、通過孔徑光闌可以控制光照面積。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種光電倍增管自動(dòng)靜態(tài)測(cè)試臺(tái)，其特征在于，所述氣動(dòng)控制系統(tǒng)用于控制濾光片、衰減片和孔徑光闌的更換、用于控制所述機(jī)械手將測(cè)試底座移入或移出測(cè)試箱、用于控制測(cè)試箱的箱門和攔截開關(guān)的開或關(guān)。

6.根據(jù)權(quán)利要求2和3所述的一種光電倍增管自動(dòng)靜態(tài)測(cè)試臺(tái)，其特征在于，所述底板的前端設(shè)有與所述機(jī)械手匹配的插孔。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種光電倍增管自動(dòng)靜態(tài)測(cè)試臺(tái)，其特征在于，還包括與所述計(jì)算機(jī)連接的高壓供電系統(tǒng)，所述高壓供電系統(tǒng)用于供給所述分壓板高壓。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種光電倍增管自動(dòng)靜態(tài)測(cè)試臺(tái)的測(cè)試方法，其特征在于，包括以下步驟：

(1)設(shè)置參數(shù)：在計(jì)算機(jī)中設(shè)置測(cè)試條件，所述測(cè)試條件包括光陰極測(cè)試電流，濾光片，衰減片的衰減倍數(shù)，孔徑光闌的孔徑直徑；

(2)安裝連接：將分壓板與高壓供電系統(tǒng)連接，光電倍增管插到測(cè)試底座并置于傳送帶上；

(3)檢測(cè)測(cè)試：當(dāng)測(cè)試底座觸碰位置傳感器時(shí)，計(jì)算機(jī)記錄測(cè)試底座位置狀態(tài)，測(cè)試箱中的機(jī)械手伸出，插入測(cè)試底座的插孔中接著縮回測(cè)試箱，將測(cè)試底座豎起向所述光源方向收縮，測(cè)試箱的箱門關(guān)上，測(cè)試開始；

(4)測(cè)試光陰極靈敏度：不加濾光片先測(cè)白光靈敏度，先遮住光源，測(cè)試光陰極暗電流I_d1，然后打開光源，測(cè)試光陰極的電流I_k1，計(jì)算得到光陰極光電流I_k＝I_k1-I_d1，計(jì)算機(jī)會(huì)根據(jù)孔徑光闌孔徑的尺寸計(jì)算光通量，光電流與光通量的比值為光陰極靈敏度；

(5)測(cè)試藍(lán)光靈敏度：計(jì)算機(jī)控制將濾光片調(diào)整為藍(lán)光濾光片，測(cè)試高壓不變，先遮住光源，測(cè)試光陰極暗電流I_db1，然后打開光源，測(cè)試光陰極的電流I_kb1，由計(jì)算得到光陰極光電流I_kb＝I_kb1-I_db1，計(jì)算機(jī)根據(jù)孔徑光闌孔徑的尺寸計(jì)算光通量，光電流與光通量的比值為光陰極藍(lán)光靈敏度；

(6)測(cè)試增益：改用衰減倍數(shù)更大的衰減片，衰減倍數(shù)為W，測(cè)試陽極光源被遮住時(shí)電流輸出的電流大小I_abd1，以及光源沒有被遮住時(shí)陽極電流輸出I_ab1，通過計(jì)算I_ab＝I_ab1-I_abd1可得陽極光電流大小I_ab，則此時(shí)光電倍增管的增益G₁＝I_ab*W/I_kb，同樣通過增大電壓，可以測(cè)試到不同高壓下的增益G₂、G₃、G₄、G₅，通過數(shù)據(jù)擬合可以得到電倍增管增益隨光電倍增管的關(guān)系，得到光電倍增管增益斜率；

(7)輸出：測(cè)試完光電倍增管增益后測(cè)試箱的箱門打開，機(jī)械手將測(cè)試底座送出測(cè)試箱，攔截開關(guān)放行，進(jìn)行暗電流測(cè)試；

(8)測(cè)試暗電流：測(cè)試底座移動(dòng)到暗電流測(cè)試箱前時(shí)會(huì)觸動(dòng)位置傳感器，測(cè)試的箱門打開，機(jī)械手將測(cè)試底座連同光電倍增管一塊兒移入測(cè)試箱，待3分鐘后記錄測(cè)試陽極電流大小即為暗電流，測(cè)試結(jié)束時(shí)測(cè)試箱門打開，機(jī)械手將測(cè)試底座移出測(cè)試箱，攔截開關(guān)放行。