[發明專利]一種ORVIS測速系統中干涉儀零程差的調節方法有效
| 申請號: | 201710048619.3 | 申請日: | 2017-01-23 |
| 公開(公告)號: | CN106772418B | 公開(公告)日: | 2019-02-19 |
| 發明(設計)人: | 舒樺;方智恒;黃秀光;賈果;葉君建;王偉;曹兆棟;吳江;涂昱淳;張帆;賀芝宇;謝志勇 | 申請(專利權)人: | 中國工程物理研究院上海激光等離子體研究所 |
| 主分類號: | G01S17/58 | 分類號: | G01S17/58;G01S7/481 |
| 代理公司: | 上海智力專利商標事務所(普通合伙) 31105 | 代理人: | 周濤 |
| 地址: | 201899 上*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 orvis 測速 系統 干涉儀 零程差 調節 方法 | ||
本發明公開了一種ORVIS測速系統中干涉儀零程差的調節方法,該干涉儀包括第一半透半反鏡、第二半透半反鏡、第一全反鏡和第二全反鏡,所述第一半透半反鏡、第二半透半反鏡上均鍍有針對660nm激光半透半反的膜,所述第一全反鏡和第二全反鏡上均鍍有針對660nm激光全反射的膜,該干涉儀零程差的調節方法包括以下步驟:步驟1,建立基準,步驟2,鏡子角度的調節,步驟3,零程差粗調,步驟4,零程差精確調節。與現有技術相比,本發明的有益效果為:①該方法可以將零程差調整時間縮短到一小時以內,提高了工作效率;②內調焦望遠鏡可作為干涉儀零程差位置的監測工具,在使用過程中可以隨時判斷系統是否偏離零程差位置,可快速的對零程差位置進行恢復。
技術領域
本發明屬于瞬態速度精密測量領域,具體涉及一種ORVIS測速系統中干涉儀零程差的調節方法。
背景技術
成像型任意反射面速度干涉儀(ORVIS),在凝聚態物理、等離子體物理及慣性約束(ICF)等領域都有廣泛的應用,是沖擊波傳播相關的各種物理實驗的主要診斷設備。該系統利用多普勒和差頻干涉原理并結合高速掃描相機,實現對超高速、瞬態運動物體速度的精密測量。ORVIS系統由探針光源、探針激光注入系統、反射激光收集和傳輸系統、干涉系統和記錄系統組成。其中干涉系統是ORVIS測速系統的重要組成部分,干涉儀由四塊鏡子組成。其中兩塊為反射鏡,鍍有針對660nm激光全反射膜;兩塊是半透半反鏡,鍍有針對660nm激光半透半反的膜。ORVIS系統調節中一個非常重要的工作就是干涉系統零程差的調節和系統使用過程中干涉儀零程差的保持和檢測。
一般以出現白光干涉條紋作為系統零程差調節好的標準,傳統方法采用激光粗調加白光精調的方法來完成零程差調節。傳統調節方法存在以下幾點缺點:1.由于調節參量較多(涉及角度調節和距離調節兩種),通常需要角度和距離逐步逼近,整個白光干涉條紋的調節過程非常花費時間,一般需要花費3-5個小時才能完成干涉儀零程差調節。2.系統調節完后沒有任何監測工具,不能及時發現使用過程中系統零程差位置是否已經被破壞。3.在使用過程中,系統一旦偏離零程差位置。很難判斷是鏡子角度發生變化還是鏡子前后距離發生變化。只能從新調節整個系統,將耗費大量的時間。
發明內容
針對現有技術中存在的問題,本發明提供一種ORVIS測速系統中干涉儀零程差的調節方法,能夠大大縮短干涉儀零程差調整時間,并且可以隨時判斷系統是否偏離零程差位置。
為實現上述目的,本發明采用以下技術方案:
一種ORVIS測速系統中干涉儀零程差的調節方法,該干涉儀包括第一半透半反鏡、第二半透半反鏡、第一全反鏡和第二全反鏡,所述第一半透半反鏡、第二半透半反鏡上均鍍有針對660nm激光半透半反的膜,所述第一全反鏡和第二全反鏡上均鍍有針對660nm激光全反射的膜,該干涉儀零程差的調節方法包括以下步驟:
步驟1,建立基準:a.首先,用兩個固定高度h的第一小孔和第二小孔在光學平臺上確定一條光軸x;b. 調節內調焦望遠鏡的高度和角度,使內調焦望遠鏡的光軸y和兩小孔所確定的光軸x重合;c. 在距離第二小孔右側30厘米處放置精密旋轉臺,在所述精密旋轉臺上放置光學平板玻璃;d. 將內調焦望遠鏡調焦到無窮遠位置,并打開內調焦望遠鏡自帶的照明燈,旋轉光學平板玻璃,直到在內調焦望遠鏡中看到光學平板玻璃的自準像,用精密旋轉臺對光學平板玻璃的角度進行微調,使光學平板玻璃的自準像和內調焦望遠鏡目鏡中的十字叉絲完全重合;e. 調節精密旋轉臺,使光學平板玻璃按順時針方向轉動5度,保持光學平板玻璃位置不動;f. 調節內調焦望遠鏡,使光學平板玻璃的自準像和內調焦望遠鏡目鏡中的十字叉絲完全重合,固定內調焦望遠鏡的位置,內調焦望遠鏡的光軸y為基準光軸;
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