[發明專利]RFID標簽性能測試暗箱

在審

• 申請號: 201710047287.7
• 申請日: 2017-01-22
• 公開（公告）號: CN106646066A
• 公開（公告）日: 2017-05-10
• 發明（設計）人: 朱成漢
• 申請（專利權）人: 珠海眾能科技發展有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 北京聯瑞聯豐知識產權代理事務所(普通合伙)11411
• 代理人: 張清彥

1.一種RFID標簽性能測試暗箱，其特征在于，包括箱體，所述箱體包括上箱體和下箱體，在所述上箱體和下箱體的結合部設有第一托盤，在所述第一托盤上設置有固定式條碼掃描器、攝像頭和上位機，在所述第一托盤的中心位置設有一個孔，所述下箱體中設有用于放置RFID標簽的第二托盤，所述RFID標簽上設有條碼，在所述下箱體的背面設有RFID讀寫器，所述固定式條碼掃描器、攝像頭和RFID讀寫器通過一個集線器與所述上位機連接，在所述下箱體內部的底端設有一個RFID讀寫天線，所述固定式條碼掃描器通過所述孔掃描所述條碼并將掃描信息通過所述集線器發送到所述上位機，所述攝像頭通過所述孔拍攝所述RFID標簽的擺放位置，并將拍攝的圖片通過所述集線器發送到所述上位機，所述RFID讀寫器通過所述RFID讀寫天線讀取所述RFID標簽的信息，并將讀取的標簽信息通過所述集線器發送到所述上位機，所述上位機收到所述掃描信息、拍攝的圖片和標簽信息后，進行分析后生成測試報告；所述箱體的高度小于或等于52cm，所述箱體的寬度小于或等于32cm，所述箱體的深度小于或等于28cm。

2.根據權利要求1所述的RFID標簽性能測試暗箱，其特征在于，所述下箱體的內壁上貼附有吸波材料。

3.根據權利要求1所述的RFID標簽性能測試暗箱，其特征在于，所述第二托盤為泡沫托盤。

4.根據權利要求1至3任意一項所述的RFID標簽性能測試暗箱，其特征在于，所述上位機為PC機或平板電腦。

5.根據權利要求1至3任意一項所述的RFID標簽性能測試暗箱，其特征在于，所述箱體的材質為金屬。

6.根據權利要求5所述的RFID標簽性能測試暗箱，其特征在于，所述金屬為鐵。

7.根據權利要求1至3任意一項所述的RFID標簽性能測試暗箱，其特征在于，所述上箱體的一側設有上箱門，所述下箱體的一側設有下箱門。

8.根據權利要求1至3任意一項所述的RFID標簽性能測試暗箱，其特征在于，所述RFID標簽為UHF頻段的RFID電子標簽。