[發明專利]一種應用于混響室中的測試系統

在審

• 申請號: 201710047217.1
• 申請日: 2017-01-22
• 公開（公告）號: CN106788794A
• 公開（公告）日: 2017-05-31
• 發明（設計）人: 王衛民;劉元安;賈晨宇;吳永樂;蘇明;余建國;張志華
• 申請（專利權）人: 北京郵電大學
• 主分類號: H04B17/10
• 分類號: H04B17/10;H04B17/12;H04B17/15;G01R31/00
• 代理公司: 北京柏杉松知識產權代理事務所(普通合伙)11413
• 代理人: 孫翠賢,項京

1.一種應用于混響室中的測試系統，所述測試系統包括攪拌器和設置于所述混響室內的工作區域中的接收天線，其特征在于，還包括：

設置于所述工作區域以及攪拌區域以外的至少兩根發射天線，其中，所述攪拌區域為所述攪拌器的工作區域；

每根發射天線所位于的目標位置通過遺傳算法確定，其中，所述目標位置為能夠使所述工作區域內磁場具有穩定的均勻性的位置。

2.根據權利要求1所述的系統，其特征在于，通過所述遺傳算法確定每根發射天線對應的目標位置的方式為：

生成第一預設數量個第一代個體，其中，每個第一代個體中包含多組初始位置信息，每組初始位置信息包括至少兩對天線參考位置信息和天線參考方向信息，其中，每對天線參考位置信息和天線參考方向信息唯一確定一個發射天線位置，每組中的天線參考位置信息和天線參考方向信息的對數與所述至少兩根發射天線的數量相同；

將所述第一預設數量個第一代個體作為當前個體；

根據每組初始位置信息所包括的每對天線參考位置信息和天線參考方向信息，確定每個當前個體對應的適應度值；

根據每個當前個體對應的適應度值，生成新的第一預設數量個當前個體；

判斷進化代數是否達到預設閾值，如果是，提取新的第一預設數量個當前個體中最小適應度值對應的當前個體，將所提取的當前個體所包括的每對天線參考位置信息和天線參考方向信息分別作為所述至少兩根發射天線的目標位置，如果否，返回執行根據每組初始位置信息所包括的每對天線參考位置信息和天線參考方向信息，確定每個當前個體對應的適應度值的步驟。

3.根據權利要求2所述的系統，其特征在于，所述根據每組初始位置信息所包括的每對天線參考位置信息和天線參考方向信息，確定每個當前個體對應的適應度值的步驟，包括：

根據每組初始位置信息所包括的每對天線參考位置信息和天線參考方向信息，確定每個當前個體對應的X軸方向的場強信息、Y軸方向的場強信息、Z軸方向的場強信息和總場強信息；

根據每個當前個體對應的X軸方向的場強信息、Y軸方向的場強信息、Z軸方向的場強信息和總場強信息，確定每個當前個體對應的適應度值。

4.根據權利要求2或3所述的系統，其特征在于，所述根據每個當前個體對應的適應度值，生成新的第一預設數量個當前個體的步驟，包括：

從所述第一預設數量個當前個體中提取適應度值大于預設適應度值的第二預設數量個當前個體，根據預設交叉算法將所述第二預設數量個當前個體進行交叉，生成第二預設數量個第二個體；

根據預設變異算法將所述第二預設數量個第二個體和第三預設數量個第三個體變異，生成新的第一預設數量個當前個體，其中，所述第三預設數量個第三個體為所述第一預設數量個當前個體中除所述第二預設數量個當前個體以外的其它當前個體。

5.根據權利要求1所述的系統，其特征在于，所述至少兩根發射天線的數量為偶數。