[發(fā)明專利]二極管反向特性篩選測(cè)試方法及其應(yīng)用

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201710046039.0
• 申請(qǐng)日: 2017-01-20
• 公開（公告）號(hào): CN106814298A
• 公開（公告）日: 2017-06-09
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 馬志勇;孔玲娜;田振興;張樹寶;王斌;孟鶴;王品東
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 吉林麥吉柯半導(dǎo)體有限公司
• 主分類號(hào): G01R31/26
• 分類號(hào): G01R31/26
• 代理公司: 北京超凡志成知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙)11371
• 代理人: 郭俊霞

1.一種二極管反向特性篩選測(cè)試方法，其特征在于，包括以下步驟：

1)測(cè)試擊穿電壓；

2)選取95％－99.5％擊穿電壓范圍內(nèi)的兩點(diǎn)電壓值，測(cè)試該兩點(diǎn)電壓值下的漏電流，分別記作IR1和IR2；

3)計(jì)算IR1和IR2的比值；

根據(jù)比值確定二極管反向特性是否合格。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的二極管反向特性篩選測(cè)試方法，其特征在于，所述擊穿電壓在1－5mA的反向電流下測(cè)試得到。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的二極管反向特性篩選測(cè)試方法，其特征在于，所述擊穿電壓在1－3mA的反向電流下測(cè)試得到。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的二極管反向特性篩選測(cè)試方法，其特征在于，選取97％－99％擊穿電壓范圍內(nèi)的兩點(diǎn)電壓值，測(cè)試該兩點(diǎn)電壓值下的漏電流，分別記作IR1和IR2。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的二極管反向特性篩選測(cè)試方法，其特征在于，選取98％的擊穿電壓和99％的擊穿電壓這兩個(gè)電壓值，測(cè)試該兩點(diǎn)電壓值下的漏電流，分別記作IR1和IR2。

6.根據(jù)權(quán)利要求1－5任一項(xiàng)所述的二極管反向特性篩選測(cè)試方法，其特征在于，根據(jù)權(quán)利要求1－5任一項(xiàng)所述的測(cè)試方法反復(fù)測(cè)試IR1和IR2的比值。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的二極管反向特性篩選測(cè)試方法，其特征在于，反復(fù)測(cè)試的次數(shù)不少于10次。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的二極管反向特性篩選測(cè)試方法，其特征在于，反復(fù)測(cè)試的次數(shù)為15次。

9.權(quán)利要求1－5任一項(xiàng)所述的二極管反向特性篩選測(cè)試方法在篩選具有曲線分段缺陷的二極管中的應(yīng)用。

10.權(quán)利要求6－8任一項(xiàng)所述的二極管反向特性篩選測(cè)試方法在篩選具有雙曲線缺陷的二極管中的應(yīng)用。