[發(fā)明專利]數(shù)據(jù)檢測裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201710044766.3
• 申請日: 2014-10-22
• 公開（公告）號: CN106813688B
• 公開（公告）日: 2019-11-01
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 海老根徹;奧村宏克;小田切秀行;常田晴宏
• 申請（專利權(quán)）人: 日本電產(chǎn)三協(xié)株式會社
• 主分類號: G01D5/12
• 分類號: G01D5/12
• 代理公司: 上海專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 31100
• 代理人: 沈捷

一種即使在采用過采樣的情況下也能夠提高來自兩個檢測部的數(shù)據(jù)的同時性的數(shù)據(jù)檢測裝置。本發(fā)明的數(shù)據(jù)檢測裝置具有：第一檢測部；第二檢測部；數(shù)據(jù)獲取部，其在按照每一固定時間設(shè)定有多個時點的數(shù)據(jù)檢測期間內(nèi)，在第奇數(shù)次與第偶數(shù)次中的一方的時點獲取來自所述第一檢測部的第一數(shù)據(jù)，并且在第奇數(shù)次與第偶數(shù)次中的另一方的時點獲取來自所述第二檢測部的第二數(shù)據(jù)；以及檢測值決定部，其基于所述第一數(shù)據(jù)決定所述數(shù)據(jù)檢測期間內(nèi)的第一檢測值，基于所述第二數(shù)據(jù)決定所述數(shù)據(jù)檢測期間內(nèi)的第二檢測值，在所述數(shù)據(jù)獲取部中，將在所述數(shù)據(jù)檢測期間內(nèi)獲取所述第一數(shù)據(jù)的次數(shù)與獲取所述第二數(shù)據(jù)的次數(shù)之和設(shè)為三次以上。

本申請是申請人于2014年10月22日提交的、申請?zhí)枮椤?01410566904.0”，名稱為“檢測裝置的數(shù)據(jù)檢測方法以及檢測裝置”的發(fā)明專利申請的分案申請。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種旋轉(zhuǎn)編碼器等的檢測裝置的數(shù)據(jù)檢測方法以及檢測裝置。

背景技術(shù)

在檢測旋轉(zhuǎn)體相對于固定體的旋轉(zhuǎn)的旋轉(zhuǎn)編碼器中，例如設(shè)置有磁傳感器裝置(檢測裝置)，所述磁傳感器裝置在旋轉(zhuǎn)體側(cè)設(shè)置有磁鐵，在固定體側(cè)具有磁阻元件或霍爾元件。在這樣的磁傳感器裝置中，例如，在具有磁阻元件的磁傳感器裝置中，在基板的一面形成有磁阻膜，并基于從由磁阻膜構(gòu)成的兩相(A相和B相)的橋接電路輸出的兩個輸出，檢測旋轉(zhuǎn)體的角速度和角度位置等(例如，參考專利文獻(xiàn)1)。

即如圖7所示，由于A相的輸出表示正弦波，B相的輸出表示余弦波，因此若以在固定的時點獲取的A相數(shù)據(jù)與B相數(shù)據(jù)來求反正切，則能夠求得磁鐵相對于磁傳感器裝置的角度位置。

專利文獻(xiàn)1：日本特開2012-118000號公報

在上述的旋轉(zhuǎn)編碼器中，對A相數(shù)據(jù)和B相數(shù)據(jù)均要求要有很高的可靠性。因此，如圖7示意表示那樣，采用在數(shù)據(jù)檢測期間T內(nèi)按照每一固定時間設(shè)定有多個時點，并利用在第奇數(shù)次的時點(時間t1、t3、t5)獲取的A相數(shù)據(jù)的算數(shù)平均數(shù)和在第偶數(shù)次的時點(時間t2、t4、t6)獲取的B相數(shù)據(jù)的算數(shù)平均數(shù)求反正切的過采樣。

然而，在圖7所示的過采樣中，由于A相數(shù)據(jù)的算數(shù)平均數(shù)與時間t3的數(shù)據(jù)對應(yīng)，而B相數(shù)據(jù)的算數(shù)平均數(shù)與時間t4的數(shù)據(jù)對應(yīng)，因此在A相數(shù)據(jù)的算數(shù)平均數(shù)與B相數(shù)據(jù)的算數(shù)平均數(shù)之間存在時間差。因而，存在根據(jù)A相數(shù)據(jù)與B相數(shù)據(jù)求反正切時，不能夠高精度地求得磁鐵相對于磁傳感器裝置的角度位置的問題。

發(fā)明內(nèi)容

鑒于以上問題，本發(fā)明的課題在于提供一種即使在采用過采樣的情況下，也能夠提高來自兩個檢測部的數(shù)據(jù)的同時性的檢測裝置的檢測方法以及檢測裝置。

為了解決上述課題，本發(fā)明所涉及的檢測裝置的數(shù)據(jù)檢測方法的特征在于，具有數(shù)據(jù)獲取工序以及檢測值決定工序，所述數(shù)據(jù)獲取工序在按照每一固定時間設(shè)定有多個時點的數(shù)據(jù)檢測期間內(nèi)，在第奇數(shù)次與第偶數(shù)次中的一方的時點獲取來自第一檢測部的第一數(shù)據(jù)，并且在第奇數(shù)次與第偶數(shù)次中的另一方的時點獲取來自第二檢測部的第二數(shù)據(jù)；所述檢測值決定工序基于所述第一數(shù)據(jù)決定所述數(shù)據(jù)檢測期間內(nèi)的第一檢測值，并且基于所述第二數(shù)據(jù)決定所述數(shù)據(jù)檢測期間內(nèi)的第二檢測值，在所述數(shù)據(jù)獲取工序中，將在所述數(shù)據(jù)檢測期間內(nèi)獲取所述第一數(shù)據(jù)的次數(shù)與獲取所述第二數(shù)據(jù)的次數(shù)之和設(shè)為三次以上的奇數(shù)次。

并且，本發(fā)明所涉及的檢測裝置的特征在于，具有：第一檢測部；第二檢測部；數(shù)據(jù)獲取部，其在按照每一固定時間設(shè)定有多個時點的數(shù)據(jù)檢測期間內(nèi)，在第奇數(shù)次與第偶數(shù)次中的一方的時點獲取來自所述第一檢測部的第一數(shù)據(jù)，并且在第奇數(shù)次與第偶數(shù)次中的另一方的時點獲取來自所述第二檢測部的第二數(shù)據(jù)；以及檢測值決定部，其基于所述第一數(shù)據(jù)決定所述數(shù)據(jù)檢測期間內(nèi)的第一檢測值，基于所述第二數(shù)據(jù)決定所述數(shù)據(jù)檢測期間內(nèi)的第二檢測值。