[發(fā)明專利]一種在線折光儀光學(xué)圖像處理方法及系統(tǒng)在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201710043936.6 | 申請日: | 2017-01-19 |
| 公開(公告)號: | CN106918575A | 公開(公告)日: | 2017-07-04 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 徐天龍;俞燕 | 申請(專利權(quán))人: | 上海胤飛自動化科技有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/43 | 分類號: | G01N21/43;G06T7/00 |
| 代理公司: | 北京酷愛智慧知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司11514 | 代理人: | 安娜 |
| 地址: | 201204 上海市浦*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 在線 折光 光學(xué) 圖像 處理 方法 系統(tǒng) | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及光學(xué)測量領(lǐng)域,尤其涉及一種在線折光儀光學(xué)圖像處理技術(shù)領(lǐng)域。
背景技術(shù)
現(xiàn)有的在線折光儀通常是通過使用原始數(shù)字圖像來自動計算和診斷的,使用原始數(shù)字圖像有諸多不便,如不同的儀器所用的組裝部件的加工公差和組裝過程中引入的偏差,會造成原始數(shù)字圖像存在較大差異,后續(xù)的相關(guān)計算誤差大,準(zhǔn)確度不高,同時從原始數(shù)字圖像中,也無法直觀的判斷儀器是否存在故障,這樣會導(dǎo)致在使用過程中,無法及時發(fā)現(xiàn)儀器測量值存在偏差,導(dǎo)致工藝偏差造成生產(chǎn)中的損失。
發(fā)明內(nèi)容
針對現(xiàn)有技術(shù)中的缺陷,本發(fā)明提供一種在線折光儀光學(xué)圖像處理方法及系統(tǒng),通過對原始圖像進行修正,能夠降低原始圖像誤差,使得到的修正圖像更加直觀。
第一方面,本發(fā)明提供了一種在線折光儀光學(xué)圖像處理方法,所述光學(xué)圖像處理方法包括:
獲取第一原始圖像的第一像素點和多個第二像素點;
將所述第一像素點的光信號強度值與多個第二像素點的光信號強度值分別作比較,得到修正數(shù)據(jù)組;
獲取第二原始圖像中的多個第二原始像素點,采用所述修正數(shù)據(jù)組對所述多個第二原始像素點的光信號強度值進行修正,得到第二修正圖像。
進一步地,所述獲取第一原始圖像的第一像素點和多個第二像素點,具體包括:獲取第一原始圖像中的多個第一原始像素點,檢測每個第一原始像素點的光信號強度值;選取所述多個第一原始像素點中光信號強度值最高的原始像素點作為第一像素點,其余的原始像素點中任意一個像素點為第二像素點。
進一步地,所述獲取第一原始圖像的第一像素點和多個第二像素點,具體包括:獲取設(shè)定時間內(nèi)的多個第一原始圖像,所述第一原始圖像的數(shù)量為第一數(shù)量,每個第一原始圖像包括多個第一原始像素點,檢測每個所述第一原始像素點的光信號強度值,得到每個第一原始像素點在設(shè)定時間內(nèi)的一組第一數(shù)量的光信號強度值,得到多組第一數(shù)量的光信號強度值;計算每組第一數(shù)量的光信號強度值的平均值,得到多個平均值;選取所述多個平均值中最高值對應(yīng)的像素點作為第一像素點,其余的平均值對應(yīng)的像素點為第二像素點。
進一步地,所述將所述第一像素點與多個第二像素點作比較,得到修正數(shù)據(jù)組,具體包括:將所述第一像素點的光信號強度值作為第一數(shù)據(jù)值,所述第二像素點的光信號強度值作為第二數(shù)據(jù)值;將多個所述第二數(shù)據(jù)值分別與所述第一數(shù)據(jù)值相減,得到與多個所述第二數(shù)據(jù)值對應(yīng)的多個第一差值,將所述第一差值作為修正數(shù)據(jù)組。
進一步地,所述采用所述修正數(shù)據(jù)組對所述多個第二原始像素點進行修正,具體包括:將多個所述第一差值與多個第二原始像素點的值分別對應(yīng)相加,得到第二修正像素點。
進一步地,所述第一原始像素點和所述第二原始像素點的數(shù)量相同。
進一步地,所述光學(xué)圖像處理方法還包括:確定所述第二修正圖像中明暗分界線的位置。
進一步地,所述確定所述第二修正圖像中明暗分界線的位置,具體包括:獲取所述第二修正圖像的多個第二修正像素點,依次比較所述多個第二修正像素點中相鄰兩個第二修正像素點的光信號強度值,得到多個第二差值;選取第二差值最大的兩個第二修正像素點中光信號強度值較高的第二修正像素點的位置,所述光信號強度值較高的像素點的位置為所述明暗分界線的位置。
第二方面,本發(fā)明還提供了一種在線折光儀光學(xué)圖像處理系統(tǒng),所述光學(xué)圖像處理系統(tǒng)包括:檢測模塊,比較模塊,修正模塊;
所述檢測模塊,用于獲取第一原始圖像的第一像素點和多個第二像素點;所述比較模塊,用于將所述第一像素點的光信號強度值與多個第二像素點的光信號強度值分別作比較,得到修正數(shù)據(jù)組;所述修正模塊,用于獲取第二原始圖像中的多個第二原始像素點,采用所述修正數(shù)據(jù)組對所述多個第二原始像素點的光信號強度值進行修正,得到第二修正圖像。
進一步地,所述光學(xué)圖像處理系統(tǒng)還包括:計算模塊,用于確定所述第二修正圖像中明暗分界線的位置。
由上述技術(shù)方案可知,本發(fā)明提供的一種在線折光儀光學(xué)圖像處理方法及系統(tǒng),能夠?qū)υ紙D像進行修正,降低原始圖像誤差,使后續(xù)的計算過程更加準(zhǔn)確;并使修正圖像能夠更加直觀地反映儀器的問題,從而能直觀地進行故障診斷。
附圖說明
圖1示出了本發(fā)明提供的在線折光儀光學(xué)圖像處理方法的流程示意圖。
圖2示出了本發(fā)明提供的在線折光儀光學(xué)圖像處理系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。
圖3示出了在線折光儀的部分工作原理的示意圖。
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G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
- 用于呈現(xiàn)在線實體在線狀態(tài)的系統(tǒng)和方法
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