[發(fā)明專利]一種低滲巖石顆粒的滲透率測量系統(tǒng)及測量方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201710040427.8
• 申請日: 2017-01-20
• 公開（公告）號: CN106769778B
• 公開（公告）日: 2019-05-10
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 胥蕊娜;周博;姜培學(xué)
• 申請（專利權(quán)）人: 清華大學(xué)
• 主分類號: G01N15/08
• 分類號: G01N15/08
• 代理公司: 北京高沃律師事務(wù)所 11569
• 代理人: 杜陽陽

1.一種低滲巖石顆粒的滲透率測量系統(tǒng)，其特征在于，所述滲透率測量系統(tǒng)包括高壓氣源裝置、參考腔、樣品腔、入口壓強(qiáng)檢測裝置、自動閥、球閥、壓差檢測裝置及控制裝置，其中，

所述參考腔與所述樣品腔之間連通的管道上依次設(shè)置有所述自動閥和所述球閥；所述壓差檢測裝置與所述自動閥并聯(lián)設(shè)置，且連接在所述參考腔與所述球閥之間；所述控制裝置分別連接所述自動閥和所述壓差檢測裝置，用于根據(jù)所述壓差檢測裝置檢測的壓強(qiáng)脈沖信號控制所述自動閥的開閉；

所述高壓氣源裝置的輸出管道與所述參考腔或者所述樣品腔連通，所述高壓氣源裝置的輸出管道上設(shè)置有所述入口壓強(qiáng)檢測裝置，所述入口壓強(qiáng)檢測裝置與所述高壓氣源裝置之間的管道上設(shè)置有氣體排放口。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的低滲巖石顆粒的滲透率測量系統(tǒng)，其特征在于，所述滲透率測量系統(tǒng)還包括：

恒溫裝置，所述參考腔、樣品腔、入口壓強(qiáng)檢測裝置、自動閥、球閥及壓差檢測裝置均設(shè)置在所述恒溫裝置中。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的低滲巖石顆粒的滲透率測量系統(tǒng)，其特征在于，所述滲透率測量系統(tǒng)還包括：

入口閥，設(shè)置在所述入口壓強(qiáng)檢測裝置與氣體排放口之間的管道上。

4.根據(jù)權(quán)利要求1-3中任一項(xiàng)所述的低滲巖石顆粒的滲透率測量系統(tǒng)，其特征在于，所述樣品腔包括：

腔體，所述腔體內(nèi)部中空，用于放置待測巖石顆粒；所述腔體的上部設(shè)有開口，所述腔體的下部設(shè)有通氣孔，所述通氣孔與所述球閥連通；

密封蓋，活動設(shè)置在所述腔體上，用于蓋合 所述開口；

篩網(wǎng)，設(shè)置在所述腔體的內(nèi)壁上，且所述待測巖石顆粒放置在所述篩網(wǎng)上。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的低滲巖石顆粒的滲透率測量系統(tǒng)，其特征在于，所述樣品腔還包括：

第一密封件，設(shè)置在所述密封蓋與所述開口之間，用于密封所述密封蓋與所述開口之間的連接處；和/或

第二密封件，設(shè)置在所述通氣孔與所述球閥之間，用于密封所述通氣孔與所述球閥之間的連接處。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的低滲巖石顆粒的滲透率測量系統(tǒng)，其特征在于，所述滲透率測量系統(tǒng)還包括：

第一溫度測量裝置，設(shè)置在所述參考腔的內(nèi)部，用于測量所述參考腔的內(nèi)部環(huán)境的溫度；和/或

第二溫度測量裝置，設(shè)置在所述樣品腔的內(nèi)部，用于測量所述樣品腔的內(nèi)部環(huán)境的溫度。