[發明專利]一種用于混合現實設備的空間測距方法和系統有效
| 申請號: | 201710037828.8 | 申請日: | 2017-01-18 |
| 公開(公告)號: | CN106842219B | 公開(公告)日: | 2019-10-29 |
| 發明(設計)人: | 李劼 | 申請(專利權)人: | 北京商詢科技有限公司 |
| 主分類號: | G01S17/08 | 分類號: | G01S17/08 |
| 代理公司: | 北京輕創知識產權代理有限公司 11212 | 代理人: | 楊立 |
| 地址: | 100085 北京市海淀*** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 用于 混合 現實 設備 空間 測距 方法 系統 | ||
1.一種用于混合現實設備的空間測距方法,其特征在于,包括以下步驟:
步驟1,選擇待測物體;
步驟2,選擇所述待測物體上的任一點作為參照點,測量所述參照點與所述混合現實設備之間的距離,得到參照距離;
步驟3,獲取所述待測物體的灰度景深圖;
步驟4,根據所述參照距離和所述灰度景深圖得到所述待測物體上任一點與所述混合現實設備之間的距離。
2.根據權利要求1所述的空間測距方法,其特征在于,步驟1包括:
步驟11,對所述混合現實設備的周圍環境進行建模,得到環境模型;
步驟12,從所述環境模型中選擇所述待測物體。
3.根據權利要求1所述的空間測距方法,其特征在于,步驟2中,選擇所述待測物體上的任一點作為參照點,獲取所述參照點的空間向量坐標,根據所述空間向量坐標得到所述參照點與所述混合現實設備之間的參照距離。
4.根據權利要求1至3任一項所述的空間測距方法,其特征在于,步驟3包括:
步驟31,向所述待測物體發射紅外光點陣,并接收所述待測物體返回的所述紅外光點陣;
步驟32,獲取返回的所述紅外光點陣的光強信息;
步驟33,將所述光強信息轉化為與所述待測物體景深相對應的灰度值;
步驟34,根據所述灰度值得到所述待測物體的灰度景深圖。
5.根據權利要求4所述的空間測距方法,其特征在于,步驟4包括:
步驟41,從所述灰度景深圖中定位所述參照點的位置;
步驟42,獲取所述參照點處的灰度值,得到標準灰度值;
步驟43,選取所述灰度景深圖中任一點a,獲取任一點a的灰度值;
步驟44,根據所述任一點a的灰度值和所述標準灰度值得到所述任一點a與所述參照點的灰度差;
步驟45,將所述灰度差轉換為深度差;
步驟46,根據所述深度差與所述參照距離得到所述任一點a與所述混合現實設備之間的距離。
6.一種用于混合現實設備的空間測距系統,其特征在于,包括:
選取模塊,用于選擇待測物體;
第一測距模塊,用于選擇所述待測物體上的任一點作為參照點,測量所述參照點與所述混合現實設備之間的距離,得到參照距離;
第二測距模塊,用于獲取所述待測物體的灰度景深圖,并根據所述參照距離和所述灰度景深圖得到所述待測物體上任一點與所述混合現實設備之間的距離。
7.根據權利要求6所述的空間測距系統,其特征在于,所述選取模塊具體包括:
建模單元,用于對所述混合現實設備的周圍環境進行建模,得到環境模型;
選取單元,用于從所述環境模型中選擇所述待測物體。
8.根據權利要求6所述的空間測距系統,其特征在于,所述第一測距模塊具體包括:
參照點選取單元,用于選擇所述待測物體上的任一點作為參照點;
第一獲取單元,用于獲取所述參照點的空間向量坐標;
第一計算單元,用于根據所述空間向量坐標得到所述參照點與所述混合現實設備之間的參照距離。
9.根據權利要求6至8任一項所述的空間測距系統,其特征在于,所述第二測距模塊具體包括:
紅外光發射器,用于向所述待測物體發射紅外光點陣;
紅外光接收器,用于接收所述待測物體返回的所述紅外光點陣;
第二獲取單元,用于獲取返回的所述紅外光點陣的光強信息;
第一轉換單元,用于將所述光強信息轉化為與所述待測物體景深相對應的灰度值;
制圖單元,用于根據所述灰度值得到所述待測物體的灰度景深圖。
10.根據權利要求9所述的空間測距系統,其特征在于,所述第二測距模塊還包括:
定位單元,用于從所述灰度景深圖中定位所述參照點的位置;
第三獲取單元,用于獲取所述參照點處的灰度值,得到標準灰度值;
隨機選取單元,用于選取所述灰度景深圖中任一點a,獲取所述任一點a的灰度值;
第二計算單元,用于根據所述任一點a的灰度值和所述標準灰度值得到所述任一點a與所述參照點的灰度差;
第二轉換單元,用于將所述灰度差轉換為深度差;
第三計算單元,用于根據所述深度差與所述參照距離得到所述任一點a與所述混合現實設備之間的距離。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于北京商詢科技有限公司,未經北京商詢科技有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201710037828.8/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:屏幕清潔器
- 下一篇:礦用鋼卷尺自動清潔裝置





