[發明專利]一種測試控制電路、芯片及測試控制方法

在審

• 申請號: 201710037683.1
• 申請日: 2017-01-18
• 公開（公告）號: CN106771981A
• 公開（公告）日: 2017-05-31
• 發明（設計）人: 張祥杉;高鷹;楊金輝;楊敬
• 申請（專利權）人: 大唐微電子技術有限公司;大唐半導體設計有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 北京安信方達知識產權代理有限公司11262
• 代理人: 韓輝峰,李丹

1.一種測試控制電路，其特征在于，包括：測試使能單元、電源控制單元、驗證單元和測試激勵單元，其中，

所述測試使能單元，用于產生測試使能信號，并將產生的測試使能信號輸出至電源控制單元、驗證單元和測試激勵單元；

所述電源控制單元，用于根據接收的測試使能信號確定是否向驗證單元供電；

所述驗證單元，用于在供電狀態下，當接收的測試使能信號有效時，驗證劃片槽是否被劃片；如果劃片槽未被劃片，產生允許測試的信號至測試激勵單元；

所述測試激勵單元，用于當接收的測試使能信號和允許測試的信號均有效時，產生用于測試被測電路的測試激勵信號。

2.根據權利要求1所述的測試控制電路，其特征在于，所述電源控制單元具體用于：

當所述測試使能信號有效時，產生高電平的電源信號，以為所述驗證單元供電；

當所述測試使能信號無效時，產生高阻態或低電平的電源信號，以關斷所述驗證單元的電源。

3.根據權利要求2所述的測試控制電路，其特征在于，所述電源控制單元為緩沖器或三態門。

4.根據權利要求1所述的測試控制電路，其特征在于，所述驗證單元包括位于芯片內的隨機信號源模塊、第二處理模塊、判斷模塊以及位于所述劃片槽內的第一處理模塊，其中，

所述隨機信號源模塊，用于產生隨機信號，并輸出至所述第一處理模塊和所述判斷模塊；

所述第一處理模塊，用于使用預設的加密算法對接收的隨機信號進行加密處理，并將加密后的信號輸出至所述第二處理模塊；

所述第二處理模塊，用于使用預設的解密算法對接收的加密后的信號進行解密處理，并將解密后的信號輸出至所述判斷模塊；

所述判斷模塊，用于將接收的隨機信號和解密后的信號進行對比，如果相同，輸出允許測試的信號至所述測試激勵單元。

5.根據權利要求4所述的測試控制電路，其特征在于，所述電源控制單元分別與所述第一處理模塊、所述第二處理模塊和所述判斷模塊相連接。

6.根據權利要求5所述的測試控制電路，其特征在于，所述電源控制單元還與所述測試激勵單元相連接，用于當接收的測試使能信號無效時，關斷所述測試激勵單元的電源。

7.一種芯片，其特征在于，包括權利要求1～權利要求6任一項所述的測試控制電路。

8.一種測試控制方法，其特征在于，包括：

產生測試使能信號；

判斷測試使能信號是否有效；

當所述測試使能信號有效時，驗證劃片槽是否被劃片；如果劃片槽未被劃片，產生測試激勵信號，測試被測電路；

當所述測試使能信號無效時，關斷測試控制電路的電源。

9.根據權利要求8所述的測試控制方法，其特征在于，所述驗證劃片槽是否被劃片，具體包括：

芯片產生隨機信號，并輸出至所述劃片槽；

所述劃片槽使用預設的加密算法對所述隨機信號進行加密處理，產生輸出信號至所述芯片；

所述芯片使用預設的解密算法對所述劃片槽的輸出信號進行解密處理，并將其和所述隨機信號進行對比，如果相同，則所述劃片槽未被劃片。

10.根據權利要求8所述的測試控制方法，其特征在于，當所述測試使能信號無效時，通過緩沖器或三態門輸出高阻態或低電平的電源信號，進而關斷所述測試控制電路的電源。