[發(fā)明專利]逐次逼近寄存器型模數轉換器、校正方法及電子裝置

有效

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• 申請日: 2017-01-18
• 公開（公告）號: CN107017888B
• 公開（公告）日: 2021-01-26
• 發(fā)明（設計）人: 劉純成
• 申請（專利權）人: 聯發(fā)科技股份有限公司
• 主分類號: H03M1/46
• 分類號: H03M1/46;H03M1/42
• 代理公司: 深圳市威世博知識產權代理事務所(普通合伙) 44280
• 代理人: 何青瓦

本發(fā)明實施例提供了一種逐次逼近寄存器型模數轉換器、校正方法及電子裝置。其中該逐次逼近寄存器型模數轉換器包括：比較模塊，用于產生第一比較結果和第二比較結果，其中該第一比較結果是通過比較該逐次逼近寄存器型模數轉換器的輸入電壓值與第一電壓值而產生的，該第二比較結果是通過比較該輸入電壓值與第二電壓值而產生的；以及校正模塊，耦接至該比較模塊，用于根據該第一比較結果和該第二比較結果來產生測量結果，其中該測量結果用來確定該輸入電壓是否在預定的電壓范圍內，并且該校正模塊用于根據該測量結果進入校正模式。本發(fā)明實施例的逐次逼近寄存器型模數轉換器，能夠實現高的分辨率。

技術領域

本發(fā)明涉及電子電路技術領域，尤其涉及一種逐次逼近寄存器型模數轉換器、校正方法及電子裝置。

背景技術

在先進的集成電路工藝中，當無源元件(更具體地，電容器)并不小時，該無源元件(如電容器)很可能有不匹配(mismatch)的問題。如此導致要求高精度的電路的性能低下(如，低的分辨率)，特別是對于含有CDAC(Capacitor-based Digital-to-AnalogConverter，基于電容器的數模轉換器)的ADC(Analog-to-Digital Converter，模數轉換器)，諸如SAR(Successive Approximation Register，逐次逼近寄存器型)ADC。因此，在本領域中，極切地期望一種用于ADC的校正機制，能夠校正由電容器引起的不匹配，從而得到高分辨率。

發(fā)明內容

有鑒于此，本發(fā)明實施例提供了一種逐次逼近寄存器型模數轉換器、校正方法及電子裝置，能夠實現高分辯率。

本發(fā)明提供了一種逐次逼近寄存器型模數轉換器，包括：比較模塊，用于產生第一比較結果和第二比較結果，其中該第一比較結果是通過比較該逐次逼近寄存器型模數轉換器的輸入電壓值與第一電壓值而產生的，該第二比較結果是通過比較該輸入電壓值與第二電壓值而產生的；以及校正模塊，耦接至該比較模塊，用于根據該第一比較結果和該第二比較結果來產生測量結果，其中該測量結果用來確定該輸入電壓是否在預定的電壓范圍內，并且該校正模塊用于根據該測量結果進入校正模式。

其中，當該測量結果確定該輸入電壓值在該預定的電壓范圍內時，該校正電路進入校正模式。

其中，還包括：逐次逼近寄存器型邏輯電路，用于產生n位的輸出信號，其中n為正整數；其中，該校正電路用于根據該測量結果，對該n位的輸出信號中的至少一位執(zhí)行加權數校正操作。

其中，該至少一位中的每一位均對應一個加權數。

其中，該校正電路，用于順序地和反復地對該至少一位中的每一位執(zhí)行該加權數校正操作，其中第n位為該輸出信號的最高有效位。

其中，還包括：數字修正電路，用于調整該至少一位中的每一位對應的加權數。

其中，還包括：基于電容器的數模轉換器，與該比較模塊耦接，用于對輸入電壓進行采樣，以生成采樣輸入電壓，其中該采樣輸入電壓作為該逐次逼近寄存器型模數轉換器的該輸入電壓值；其中，該基于電容器的數模轉換器包括：多個電容器以及對應該多個電容器的多個開關，其中每個電容器對應該輸出信號中的一位。

其中，該逐次逼近寄存器型邏輯電路，用于將該輸出信號中的第k位設置為第一邏輯值，以產生第一輸出結果，其中k為不大于n的正整數；以及，將該輸出信號中的該第k位設置為第二邏輯值，以產生第二輸出結果，其中該第二邏輯值不同于該第一邏輯值；

其中，該第一輸出結果是在該第k位被設置為該第一邏輯值之后，從該輸出信號的加權和產生，以及該第二輸出結果是在該第k位被設置為該第二邏輯值之后，從該輸出信號的加權和產生；

該校正電路，用于根據該第一輸出結果和該第二輸出結果，調整該第k位對應的加權數；