[發明專利]芯片燒錄測試設備及方法

有效

• 申請號: 201710036095.6
• 申請日: 2017-01-17
• 公開（公告）號: CN108318799B
• 公開（公告）日: 2020-10-27
• 發明（設計）人: 林宗毅
• 申請（專利權）人: 崇碁科技股份有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 北京律誠同業知識產權代理有限公司 11006
• 代理人: 王玉雙;祁建國

1.一種芯片燒錄測試設備，用以燒錄或測試多個芯片，該多個芯片被各自放置于一托盤的多個凹槽內，并各具有多個接腳，其特征在于，該芯片燒錄測試設備包括：

一基座；

一載盤，包括多個容置槽，該載盤可疊置在該托盤上，并能在疊置后使該多個容置槽正對該托盤的多個凹槽，藉由同時翻轉該托盤與該載盤而使該多個芯片倒置在該載盤的多個容置槽內，使得各該芯片的該多個接腳背向該載盤；

一探針板，設置于該基座上，該探針板包括多個探針；

一放置架，設置于該基座上，用以提供該載盤放置后對應該探針板，以使該多個接腳對準該多個探針；

一驅動機構，設置于該基座上，該驅動機構包括一把手桿、一連動桿、一驅動件及一導軌，該導軌設置于該基座上，該把手桿具有一第一端及一第二端，其中該第二端設有一第一穿孔及一第二穿孔，該把手桿藉由一鎖固件穿設該第一穿孔而可旋轉地設于該基座上，該連動桿的一端連接該驅動件，該連動桿的另一端藉由另一鎖固件穿設該第二穿孔而連接該把手桿的該第二端，該驅動件可移動地結合設置于該導軌中；藉此，通過轉動該把手桿，使該驅動件在該連動桿的帶動及該導軌的限位下朝該探針板移動，以將該載盤朝該探針板推移，以使倒置在該載盤上的該多個芯片的該多個接腳其中的一接腳接觸各該探針；以及

一主機裝置，與該探針板電性連接，該主機裝置用以在該接腳接觸各該探針時，對該多個芯片進行測試或數據燒錄。

2.根據權利要求1所述的芯片燒錄測試設備，其特征在于，該放置架包括一滑軌機構，該載盤能夠拆卸地與該滑軌機構結合，并通過該滑軌機構而于該放置架上位移。

3.根據權利要求1所述的芯片燒錄測試設備，其特征在于，該探針板及該載盤的數量皆為多個，且各該載盤置于該放置架后，各自對應不同的探針板。

4.根據權利要求3所述的燒錄測試設備，其特征在于，各該載盤置于該放置架后，多個載盤與多個探針板相互交錯排列成一直線。

5.根據權利要求1至4任一項所述的芯片燒錄測試設備，其特征在于，更包括一溫度調節箱體，該探針板位于該溫度調節箱體內，該溫度調節箱體用以提供一測試溫度，以使該主機裝置更能在該接腳接觸各該探針時，對該多個芯片進行預燒測試。