[發明專利]一種用于金相觀察時調節試樣角度的裝置

在審

• 申請號: 201710034273.1
• 申請日: 2017-01-18
• 公開（公告）號: CN106769826A
• 公開（公告）日: 2017-05-31
• 發明（設計）人: 苗偉行;高志明;劉永長;夏大海;胡文彬
• 申請（專利權）人: 天津大學
• 主分類號: G01N17/00
• 分類號: G01N17/00;G01N17/02;G01N21/01;G01N21/84
• 代理公司: 天津創智天誠知識產權代理事務所(普通合伙)12214
• 代理人: 王秀奎

技術領域

本發明涉及金相觀察裝置，尤其是一種用于金相觀察時調節試樣角度的裝置。

背景技術

金屬的性能和與其顯微結構息息相關，因此對金屬材料進行金相觀察是鑒定、判斷金屬材料性能的良好方法。在研究金屬的腐蝕時，金相與金屬的腐蝕形貌同樣可以對金屬腐蝕的類型起到指導性的作用。然而，在對腐蝕電化學測試試樣進行金相觀察時，由于金相顯微鏡本身通常只提供鏡頭的升降功能，并不具備試樣的角度調節功能。同時，由于電化學所封裝試樣通常采用pvc管和環氧樹脂封裝并在背面焊接導線，此時pvc管的兩個端面難以完全平行，并且由背面伸出的導線也會妨礙試樣的放置。因此，在對其進行金相觀察時，難以將其磨制好的觀察面控制為與樣品臺平行。當試樣非水平放置時，在金相觀察時，其聚焦平面與觀察面不平行，便導致拍攝出的照片部分清晰部分模糊。從而致使對金相以及腐蝕類型的判斷出現難度。同時，對于某些要求固定角度照攝而非平行放置的試樣，使用金相顯微鏡對其進行景深拍攝時，其試樣同樣難以固定角度。

發明內容

本發明克服了現有技術中的缺點，提供了一種用于金相觀察時調節試樣角度的裝置。

為了解決上述技術問題，本發明是通過以下技術方案實現的：

一種用于金相觀察時調節試樣角度的裝置，包括內圈、中圈、外圈、內圈螺絲、中圈螺絲、外圈螺絲和支撐柱，內圈、中圈、外圈為由內至外依次設置的三個圓形金屬圈，且具有相同圓心，在內圈上設置有第一螺紋孔和第二螺紋孔，其中第一螺紋孔與內圈螺絲相匹配，用于將電化學封裝試樣固定于內圈中央，第二螺紋孔與設置于中圈上的中圈螺紋孔具有相同的孔徑，且均與中圈螺絲相匹配，中圈螺絲將內圈與中圈連接，使內圈可沿中圈螺絲旋轉，同理，在外圈上設置有外圈螺紋孔，外圈螺紋孔與中圈螺紋孔具有相同的孔徑，且均與外圈螺絲相匹配，外圈螺絲將中圈與外圈連接，使中圈可沿外圈螺絲旋轉，在外圈上設置有支撐柱。

而且，所述的內圈螺絲數量為4-6個。

而且，所述的第一螺紋孔數量為4-6個，在內圈上等距分布。

而且，所述的第二螺紋孔數量為2-4個，在內圈上相對設置。

而且，所述的中圈螺紋孔數量為4-6個，在中圈上等距分布。

而且，所述的外圈螺紋孔數量為2-4個，在外圈上相對設置。

而且，所述的支撐柱數量為4-6個，所述支撐柱與設置于外圈上的支撐柱螺紋孔相連接。

一種用于金相觀察時調節試樣角度的裝置的使用方法，按照下列步驟進行：

1.將固定柱通過支撐柱螺紋孔旋入外圈，對固定柱進行調節以保證固定柱底端保持在同一平面；

2.使用中圈螺絲和外圈螺絲將內中外三個金屬圈進行連接，裝配時使中圈螺絲和外圈螺絲互相垂直(即旋轉軸垂直)，以確保內圈與中圈、中圈與外圈之間可沿螺絲旋轉；

3.使用內圈螺絲將電化學封裝試樣固定在內圈中央；

4.將組裝好的本裝置放置于金相顯微鏡下端，使用高度游標卡尺的測量爪輕壓所需觀察的試樣表面，此時，其中內金屬圈與螺栓會自動旋轉使試樣觀察面調節至水平，通過對試樣的旋轉調節觀察的角度，即可對試樣進行金相觀察。

與現有技術相比，本發明的有益效果是：本裝置通過金屬圈與螺絲的配合，形成了兩個相互垂直的旋轉軸，使固定于內圈中央的電化學封裝試樣可以進行任意角度的旋轉，配合金相顯微鏡使用時，可以更好的對金相以及腐蝕類型進行觀察。

附圖說明

圖1為本發明各部件結構示意圖。

圖2為本發明整體裝配結構示意圖。

圖3為本發明試樣局部示意圖。

其中，1為內圈，1-1為第一螺紋孔，1-2為第二螺紋孔，2為中圈，2-1為中圈螺紋孔，3為外圈，3-1為外圈螺紋孔，3-2為支撐柱螺紋孔，4為內圈螺絲，5為中圈螺絲，6為支撐柱，7為電化學封裝試樣，7-1為封裝塊，7-2為導線，8為外圈螺絲。

具體實施方式

下面結合附圖與具體的實施方式對本發明作進一步詳細描述：