[發(fā)明專利]一種用于圖像的測量系統(tǒng)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201710031437.5 | 申請日: | 2017-01-17 |
| 公開(公告)號: | CN106839994B | 公開(公告)日: | 2019-09-27 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 程容和 | 申請(專利權(quán))人: | 上海與德信息技術(shù)有限公司 |
| 主分類號: | G01B11/02 | 分類號: | G01B11/02 |
| 代理公司: | 北京品源專利代理有限公司 11332 | 代理人: | 孟金喆;胡彬 |
| 地址: | 200233 上海市金*** | 國省代碼: | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 用于 圖像 測量 系統(tǒng) | ||
1.一種用于圖像的測量系統(tǒng),其特征在于,包括:第一測距儀(11)、第二測距儀(12)和控制器(13),所述第一測距儀(11)和所述第二測距儀(12)的輸出端分別與所述控制器(13)的輸入端相連,所述第一測距儀(11)和所述第二測距儀(12)的連線與圖像(14)所在平面平行,所述連線在所述圖像(14)中待測物體上的投影所在直線與所述待測物體的邊緣相交于第一點(diǎn)(15)和第二點(diǎn)(16);
所述第一測距儀(11)輸出與所述圖像(14)中待測物體的最短距離X和/或所述第二測距儀(12)輸出與所述待測物體的最短距離X;所述第一測距儀(11)輸出與所述第一點(diǎn)(15)的第一距離M1和與所述第二點(diǎn)(16)的第二距離M2,所述第二測距儀(12)輸出與所述第一點(diǎn)(15)的第三距離L1和與所述第二點(diǎn)(16)的第四距離L2,所述控制器(13)用于根據(jù)所述第一距離M1、第二距離M2、第三距離L1、第四距離L2、最短距離X和所述第一測距儀(11)與所述第二測距儀(12)之間的距離h1得到所述第一點(diǎn)(15)和第二點(diǎn)(16)之間的距離,所述第一點(diǎn)(15)和第二點(diǎn)(16)之間的距離作為所述待測物體在投影方向上的尺寸,所述投影方向?yàn)樗鲞B線在所述待測物體上的投影方向。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測量系統(tǒng),其特征在于:所述第二距離M2小于所述第四距離L2。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測量系統(tǒng),其特征在于:所述第一點(diǎn)(15)和第二點(diǎn)(16)之間的距離h根據(jù)h=h1+h2+h3得到,其中,所述
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的測量系統(tǒng),其特征在于:所述控制器(13)還用于根據(jù)所述第一距離M1、所述第四距離L2和最短距離X對所述第一點(diǎn)(15)和第二點(diǎn)(16)之間的距離進(jìn)行校驗(yàn)。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的測量系統(tǒng),其特征在于:校驗(yàn)距離Y根據(jù)Y=Y(jié)1+Y2得到,其中,所述控制器(13)具體用于如果校驗(yàn)距離Y等于2倍所述第一點(diǎn)(15)和第二點(diǎn)(16)之間的距離h,則校驗(yàn)成功;否則,校驗(yàn)失敗。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的測量系統(tǒng),其特征在于:所述控制器(13)還用于如果校驗(yàn)失敗,則重新獲取所述第一測距儀(11)輸出的第一距離M1和第二距離M2以及所述第二測距儀(12)輸出的第三距離L1和第四距離L2,并重新計(jì)算所述第一點(diǎn)(15)和第二點(diǎn)(16)之間的距離h。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測量系統(tǒng),其特征在于:還包括顯示器(10),所述顯示器(10)的輸入端與所述控制器(13)的輸出端相連,所述顯示器(10)用于顯示第一點(diǎn)(15)和第二點(diǎn)(16)之間的距離h。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測量系統(tǒng),其特征在于:所述用于圖像的測量系統(tǒng)設(shè)置在攝像設(shè)備中,所述第一測距儀(11)設(shè)置在攝像設(shè)備的第一攝像頭上,所述第二測距儀(12)設(shè)置在攝像設(shè)備的第二攝像頭上。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的測量系統(tǒng),其特征在于:所述攝像設(shè)備包括相機(jī)。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測量系統(tǒng),其特征在于:所述第一測距儀(11)和第二測距儀(12)為激光測距儀。
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