[發明專利]一種用于圖像的測量系統

有效

• 申請號: 201710031437.5
• 申請日: 2017-01-17
• 公開（公告）號: CN106839994B
• 公開（公告）日: 2019-09-27
• 發明（設計）人: 程容和
• 申請（專利權）人: 上海與德信息技術有限公司
• 主分類號: G01B11/02
• 分類號: G01B11/02
• 代理公司: 北京品源專利代理有限公司 11332
• 代理人: 孟金喆;胡彬

1.一種用于圖像的測量系統，其特征在于，包括：第一測距儀(11)、第二測距儀(12)和控制器(13)，所述第一測距儀(11)和所述第二測距儀(12)的輸出端分別與所述控制器(13)的輸入端相連，所述第一測距儀(11)和所述第二測距儀(12)的連線與圖像(14)所在平面平行，所述連線在所述圖像(14)中待測物體上的投影所在直線與所述待測物體的邊緣相交于第一點(15)和第二點(16)；

所述第一測距儀(11)輸出與所述圖像(14)中待測物體的最短距離X和/或所述第二測距儀(12)輸出與所述待測物體的最短距離X；所述第一測距儀(11)輸出與所述第一點(15)的第一距離M1和與所述第二點(16)的第二距離M2，所述第二測距儀(12)輸出與所述第一點(15)的第三距離L1和與所述第二點(16)的第四距離L2，所述控制器(13)用于根據所述第一距離M1、第二距離M2、第三距離L1、第四距離L2、最短距離X和所述第一測距儀(11)與所述第二測距儀(12)之間的距離h1得到所述第一點(15)和第二點(16)之間的距離，所述第一點(15)和第二點(16)之間的距離作為所述待測物體在投影方向上的尺寸，所述投影方向為所述連線在所述待測物體上的投影方向。

2.根據權利要求1所述的測量系統，其特征在于：所述第二距離M2小于所述第四距離L2。

3.根據權利要求2所述的測量系統，其特征在于：所述第一點(15)和第二點(16)之間的距離h根據h＝h1+h2+h3得到，其中，所述

4.根據權利要求3所述的測量系統，其特征在于：所述控制器(13)還用于根據所述第一距離M1、所述第四距離L2和最短距離X對所述第一點(15)和第二點(16)之間的距離進行校驗。

5.根據權利要求4所述的測量系統，其特征在于：校驗距離Y根據Y＝Y1+Y2得到，其中，所述控制器(13)具體用于如果校驗距離Y等于2倍所述第一點(15)和第二點(16)之間的距離h，則校驗成功；否則，校驗失敗。

6.根據權利要求5所述的測量系統，其特征在于：所述控制器(13)還用于如果校驗失敗，則重新獲取所述第一測距儀(11)輸出的第一距離M1和第二距離M2以及所述第二測距儀(12)輸出的第三距離L1和第四距離L2，并重新計算所述第一點(15)和第二點(16)之間的距離h。

7.根據權利要求1所述的測量系統，其特征在于：還包括顯示器(10)，所述顯示器(10)的輸入端與所述控制器(13)的輸出端相連，所述顯示器(10)用于顯示第一點(15)和第二點(16)之間的距離h。

8.根據權利要求1所述的測量系統，其特征在于：所述用于圖像的測量系統設置在攝像設備中，所述第一測距儀(11)設置在攝像設備的第一攝像頭上，所述第二測距儀(12)設置在攝像設備的第二攝像頭上。

9.根據權利要求8所述的測量系統，其特征在于：所述攝像設備包括相機。

10.根據權利要求1所述的測量系統，其特征在于：所述第一測距儀(11)和第二測距儀(12)為激光測距儀。