[發明專利]一種提高光頻域反射儀的最大測試距離的方法

有效

• 申請號: 201710030861.8
• 申請日: 2017-01-16
• 公開（公告）號: CN106705863B
• 公開（公告）日: 2019-03-22
• 發明（設計）人: 張健一;劉曉平
• 申請（專利權）人: 南京大學
• 主分類號: G01B11/02
• 分類號: G01B11/02
• 代理公司: 南京知識律師事務所 32207
• 代理人: 李媛媛

1.一種提高光頻域反射儀的最大測試距離的方法，其特征在于，該方法實現的系統包括：可調諧掃描激光器、第一耦合器、觸發干涉儀、測量干涉儀、數據采集卡以及電腦；所述觸發干涉儀包括第二耦合器、第三耦合器、產生相位差的器件和第一光電探測器；所述測量干涉儀包括第四耦合器、光環形器和第二光電探測器；所述第一光電探測器和第二光電探測器分別與數據采集卡連接，所述數據采集卡連接到電腦；

所述可調諧掃描激光器的光源通過第一耦合器后，一部分光依次進入觸發干涉儀的第二耦合器、第三耦合器、產生相位差的器件和第一光電探測器，另一部分光進入測量干涉儀的第四耦合器；經第四耦合器后出射的一部分光直接到達第二光電探測器，另一部分光進入光環形器后再到達待測器件，由待測器件反射回來的光通過光環形器后到達第二光電探測器。

2.根據權利要求1所述的一種提高光頻域反射儀的最大測試距離的方法，其特征在于，所述觸發干涉儀作為測量干涉儀的外部時鐘，觸發數據采集卡進行數據采集；通過調節所述產生相位差的器件，以產生不同的相位差然后進行多次數據采集，獲得多個采用數據，然后合并這些采樣數據，達到減小采樣周期，提高最大可測量距離。

3.根據權利要求1所述的一種提高光頻域反射儀的最大測試距離的方法，其特征在于，所述第一耦合器的耦合比為90：10，所述第二耦合器、第三耦合器和第四耦合器的耦合比均為50：50。

4.根據權利要求1所述的一種提高光頻域反射儀的最大測試距離的方法，其特征在于，所述產生相位差的器件為液晶可變波片。