[發明專利]一種測量雙光子吸收截面的方法

在審

• 申請號: 201710030738.6
• 申請日: 2017-01-16
• 公開（公告）號: CN106770130A
• 公開（公告）日: 2017-05-31
• 發明（設計）人: 錢駿;努爾尼沙·阿力甫;汪亞倫
• 申請（專利權）人: 浙江大學
• 主分類號: G01N21/64
• 分類號: G01N21/64
• 代理公司: 杭州求是專利事務所有限公司33200
• 代理人: 忻明年

1.一種測量雙光子吸收截面的方法，所使用的裝置包括飛秒激光光源、振鏡掃描單元、二色鏡、光電倍增管、信號放大器和計算機，其特征在于：

外置的飛秒激光光源所發出的激光進入振鏡掃描單元后經掃描透鏡與鏡筒透鏡形成擴束光束，再經一塊長反短通二向色鏡反射，由物鏡會聚激發熒光材料，產生雙光子熒光信號，材料激發出的熒光沿原光路返回，通過長反短通二向色鏡，以及用于濾除飛秒激發光的濾光片后被響應靈敏的光電倍增管接收；光電倍增管將模擬信號轉換為數字信號，經過信號放大器放大后被計算機采集；所述的振鏡掃描單元與計算機連接以實現信號掃描的同步；

通過上述過程，得到材料的雙光子熒光顯微成像圖，再從該顯微成像圖獲取熒光強度F₁；然后以同樣的方式得到參照熒光染料羅丹明Rh6G的雙光子熒光強度F₀；由此計算得到雙光子吸收截面。

2.根據權利要求1所述的一種測量雙光子吸收截面的方法，其特征在于：雙光子熒光顯微成像圖還需要做減背景光處理。

3.根據權利要求1所述的一種測量雙光子吸收截面的方法，其特征在于：長反短通二向色鏡的截止波長為980nm。

4.根據權利要求1所述的一種測量雙光子吸收截面的方法，其特征在于：濾光片為590nm的長通濾光片。

5.根據權利要求1所述的一種測量雙光子吸收截面的方法，其特征在于：光電倍增管可響應185-800 nm波段的光信號。

6.根據權利要求1所述的一種測量雙光子吸收截面的方法，其特征在于：物鏡是奧林巴斯的25倍水鏡，工作距離為2mm。