[發(fā)明專利]儀表測(cè)試用板卡有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201710029544.4 | 申請(qǐng)日: | 2017-01-16 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN108318751B | 公開(kāi)(公告)日: | 2020-12-04 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 伏曉剛;陳龍;胡之躍 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 大陸汽車車身電子系統(tǒng)(蕪湖)有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/00 | 分類號(hào): | G01R31/00 |
| 代理公司: | 北京市中咨律師事務(wù)所 11247 | 代理人: | 李燁;楊曉光 |
| 地址: | 241009 *** | 國(guó)省代碼: | 安徽;34 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 儀表 測(cè)試 板卡 | ||
本發(fā)明的實(shí)施例提供一種儀表測(cè)試用板卡,包括:通訊模塊,處理器模塊,電源模塊,以及測(cè)試功能模塊。通訊模塊被配置為實(shí)現(xiàn)處理器模塊與上位機(jī)之間的通訊。處理器模塊被配置為:根據(jù)來(lái)自上位機(jī)的指令控制測(cè)試功能模塊完成測(cè)試功能,以及向上位機(jī)反饋測(cè)試狀態(tài)。電源模塊被配置為向通訊模塊、處理器模塊以及測(cè)試功能模塊供電。測(cè)試功能模塊被配置為在處理器模塊的控制下,完成測(cè)試功能。根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的儀表測(cè)試用板卡,能夠降低測(cè)試系統(tǒng)的復(fù)雜程度,并且降低測(cè)試系統(tǒng)的開(kāi)發(fā)和使用成本。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及自動(dòng)測(cè)試技術(shù),尤其涉及儀表測(cè)試用板卡。
背景技術(shù)
目前,各種多功能儀表已經(jīng)被廣泛使用。在多功能儀表工作之前,需要對(duì)于儀表進(jìn)行測(cè)試。在使用儀表測(cè)試用板卡組建測(cè)試系統(tǒng)時(shí),由于現(xiàn)有的儀表測(cè)試用板卡針對(duì)特定的功能而設(shè)計(jì),需要使用多個(gè)儀表測(cè)試用板卡,并且在測(cè)試過(guò)程中需要對(duì)于連接待測(cè)儀表的電路線纜進(jìn)行更換,這使得測(cè)試系統(tǒng)的復(fù)雜程度增加,不利于成本的降低。
儀表測(cè)試用板卡存在改進(jìn)空間。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的實(shí)施例提供了儀表測(cè)試用板卡。
根據(jù)第一個(gè)方面,本發(fā)明的實(shí)施例提供了一種儀表測(cè)試用板卡,包括:通訊模塊,處理器模塊,電源模塊,以及測(cè)試功能模塊。通訊模塊被配置為實(shí)現(xiàn)處理器模塊與上位機(jī)之間的通訊。處理器模塊被配置為:根據(jù)來(lái)自上位機(jī)的指令控制測(cè)試功能模塊完成測(cè)試功能,以及向上位機(jī)反饋測(cè)試狀態(tài)。電源模塊被配置為向通訊模塊、處理器模塊以及測(cè)試功能模塊供電。測(cè)試功能模塊被配置為在處理器模塊的控制下,完成測(cè)試功能。
在本發(fā)明的實(shí)施例中,測(cè)試功能模塊包括:連接矩陣模塊、數(shù)字量輸出模塊、狀態(tài)指示電平隔離輸入模塊、狀態(tài)指示電平隔離輸出模塊、電阻測(cè)量模塊、電流測(cè)量模塊以及電壓測(cè)量模塊。
在本發(fā)明的實(shí)施例中,連接矩陣模塊包括:在第一方向上平行排列的多條第一連接線,在第二方向上平行排列的多條第二連接線,以及多個(gè)輸出端。輸出端與第一連接線連接,并且與第二連接線連接。第一連接線與第二連接線交叉,并且絕緣。在第一連接線與第二連接線的交叉位置,設(shè)置有與該第一連接線導(dǎo)通的第一連接點(diǎn),以及與該第二連接線導(dǎo)通的第二連接點(diǎn)。
在本發(fā)明的實(shí)施例中,連接矩陣模塊還包括可編程電阻。可編程電阻的第一端與第一連接線連接,并且與第二連接線連接。可編程電阻的第二端與第一連接線連接,并且與第二連接線連接。
在本發(fā)明的實(shí)施例中,連接矩陣模塊還包括PWM信號(hào)源。PWM信號(hào)源的第一輸出端與第一連接線連接,并且與第二連接線連接。PWM信號(hào)源的第二輸出端與第一連接線連接,并且與第二連接線連接。
在本發(fā)明的實(shí)施例中,數(shù)字量輸出模塊包括:數(shù)字量高電壓端、數(shù)字量低電壓端、電壓選擇開(kāi)關(guān)、多個(gè)輸出端選擇開(kāi)關(guān)、以及多個(gè)數(shù)字量輸出端。電壓選擇開(kāi)關(guān)的第一可動(dòng)觸點(diǎn)與數(shù)字量高電壓端連接,第二可動(dòng)觸點(diǎn)與數(shù)字量低電壓端連接,固定觸點(diǎn)與多個(gè)輸出端選擇開(kāi)關(guān)的一端連接。多個(gè)輸出端選擇開(kāi)關(guān)的另一端與多個(gè)數(shù)字量輸出端分別連接。
在本發(fā)明的實(shí)施例中,狀態(tài)指示電平隔離輸入模塊包括:狀態(tài)指示電平輸入端,類型選擇開(kāi)關(guān),第一電壓端,第二電壓端,第一分壓電阻,第二分壓電阻,光電耦合器,第三電壓端,I/O芯片。光電耦合器的第一輸入端與類型選擇開(kāi)關(guān)的固定觸點(diǎn)連接。第一電壓端與類型選擇開(kāi)關(guān)的第一可動(dòng)觸點(diǎn)連接。第二電壓端與類型選擇開(kāi)關(guān)的第二可動(dòng)觸點(diǎn)連接。第一電壓端的電壓大于第二電壓端的電壓。在待輸入的狀態(tài)指示電平為高電平有效時(shí),類型選擇開(kāi)關(guān)的固定觸點(diǎn)與第二可動(dòng)觸點(diǎn)導(dǎo)通。在待輸入的狀態(tài)指示電平為低電平有效時(shí),類型選擇開(kāi)關(guān)的固定觸點(diǎn)與第一可動(dòng)觸點(diǎn)導(dǎo)通。第一分壓電阻連接在光電耦合器的第一輸入端和第二輸入端之間。狀態(tài)指示電平輸入端通過(guò)第二分壓電阻與光電耦合器的第二輸入端連接。光電耦合器的第一輸出端與I/O芯片以及第三電壓端連接,第二輸出端接地。I/O 芯片與處理器模塊連接。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
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