[發(fā)明專利]一種測量磁光材料光學(xué)參數(shù)的試驗測量系統(tǒng)裝置及方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201710027943.7 | 申請日: | 2017-01-16 |
| 公開(公告)號: | CN106768900A | 公開(公告)日: | 2017-05-31 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 王涵;吳昊;周劍秋 | 申請(專利權(quán))人: | 南京工業(yè)大學(xué) |
| 主分類號: | G01M11/04 | 分類號: | G01M11/04 |
| 代理公司: | 南京瑞弘專利商標(biāo)事務(wù)所(普通合伙)32249 | 代理人: | 徐激波 |
| 地址: | 210000 江蘇省南京市*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 測量 材料 光學(xué) 參數(shù) 試驗 系統(tǒng) 裝置 方法 | ||
1.一種測量磁光材料光學(xué)參數(shù)的試驗測量系統(tǒng)裝置,其特征在于:包括兩個電磁鐵(1)、傅里葉轉(zhuǎn)換紅外光譜分析儀(2)、兩個光束收集器(3)、兩個偏振分析儀(4)、兩個分光光度計(5)、試樣放置臺(6)、全反射棱鏡(7)、光源發(fā)射器(8)和空氣調(diào)節(jié)器(9);
所述試樣放置臺(6)安裝有可旋轉(zhuǎn)的固定裝置,固定裝置上放置有試樣,試樣兩側(cè)分別設(shè)有電磁鐵(1),試樣位于電磁鐵(1)所產(chǎn)生的平行磁場中;
所述光源發(fā)射器(8)發(fā)射探測光束,經(jīng)過全反射棱鏡(7)射向試樣,經(jīng)過試樣的透射光束和反射光束分別依次導(dǎo)向分光光度計(5)、偏振分析儀(4)、傅里葉轉(zhuǎn)換紅外光譜分析儀(2)外接的光束收集器(3);
上述試驗測量系統(tǒng)裝置均設(shè)置在封閉空間內(nèi),并通過空氣調(diào)節(jié)器(9)調(diào)節(jié)環(huán)境溫度,所述傅里葉轉(zhuǎn)換紅外光譜分析儀(2)的輸出端連接處理計算機。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種測量磁光材料光學(xué)參數(shù)的試驗測量系統(tǒng)裝置,其特征在于:所述電磁鐵(1)為SB-130型雙軛雙調(diào)諧可變氣隙電磁鐵,標(biāo)準(zhǔn)極頭磁場范圍0T~2.5T。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種測量磁光材料光學(xué)參數(shù)的試驗測量系統(tǒng)裝置,其特征在于:所述傅里葉轉(zhuǎn)換紅外光譜分析儀(2)為Nicolet IS10型傅里葉變換紅外光譜儀。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種測量磁光材料光學(xué)參數(shù)的試驗測量系統(tǒng)裝置,其特征在于:所述偏振分析儀(4)為PAX-5710型全波段偏振分析儀。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種測量磁光材料光學(xué)參數(shù)的試驗測量系統(tǒng)裝置,其特征在于:所述分光光度計(5)為LAMBDA950型分光光度計。
6.一種采用權(quán)利要求1、2、3、4或5所述裝置的測量磁光材料光學(xué)參數(shù)的試驗方法,其特征在于:包括以下步驟:
1)首先在試樣放置臺(6)上設(shè)有試樣的固定裝置,將試樣放置在固定裝置后,其位于電磁鐵(1)所產(chǎn)生的平行磁場中,電磁鐵(1)自主調(diào)節(jié)所產(chǎn)生的平行磁場大小,固定裝置可在試樣放置臺(6)上旋轉(zhuǎn),選擇磁場方向和被測表面的角度;
2)在試驗開始前將試驗空間進行封閉,利用空氣調(diào)節(jié)器(9)進行溫度調(diào)節(jié),將環(huán)境溫度調(diào)至預(yù)定試驗溫度,定量分析不同溫度下的磁光材料的光學(xué)性能;
3)光源發(fā)射器(8)首先發(fā)射測量所需波長或波段的探測光束,探測光束經(jīng)過全反射棱鏡(7)射向試樣,探測光束通過全反射棱鏡(7)進行相對于被測表面多角度的角度調(diào)整,光源發(fā)射器(8)和全反射棱鏡(7)的位置根據(jù)入射角度的調(diào)整而調(diào)整,并具有固定、調(diào)節(jié)的配套設(shè)備;
4)經(jīng)過試樣的透射光束和反射光束依次導(dǎo)向分光光度計(5)和偏振分析儀(4),進行光束場強與偏振態(tài)分析,所述分光光度計(5)測量不同波長下的光束強度,分析波長與光強度的關(guān)系,所述偏振分析儀(4)在寬的波長范圍內(nèi)進行高精度的測量光束的偏振態(tài);分光光度計(5)和偏振分析儀(4)的位置根據(jù)入射角度的調(diào)整而調(diào)整,并具有固定、調(diào)節(jié)的配套設(shè)備;
5)之后兩束光分別通過光束收集器(3)進入傅里葉轉(zhuǎn)換紅外光譜分析儀(2)進行數(shù)據(jù)采集,光束收集器(3)用來接收來自被測材料的反射、透射或輻射光束,其位置根據(jù)入射角度的調(diào)整而調(diào)整,并具有固定、調(diào)節(jié)的配套設(shè)備;
6)傅里葉轉(zhuǎn)換紅外光譜分析儀(2)的數(shù)據(jù)輸出至處理計算機進行數(shù)據(jù)計算處理; 所述處理計算機具有相應(yīng)的數(shù)據(jù)處理軟件,在測量設(shè)備的測量數(shù)據(jù)輸入后,進行數(shù)據(jù)處理,得到被測材料的介電常數(shù)張量、吸收率、反射率、透射率、偏振態(tài)旋轉(zhuǎn)角度、色散關(guān)系這些光學(xué)參數(shù),定量分析位于不同方向、不同場強的平行磁場作用下,磁光材料的不同波長、入射角度、溫度、摻雜濃度、表面微結(jié)構(gòu)對磁光材料光學(xué)性能的對應(yīng)關(guān)系和非互易性能的對應(yīng)關(guān)系。
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