[發明專利]一種低基座光譜壓縮和高量化精度的全光量化裝置及其方法

有效

• 申請號: 201710023312.8
• 申請日: 2017-01-12
• 公開（公告）號: CN106647095B
• 公開（公告）日: 2019-05-07
• 發明（設計）人: 張戌艷;張旨遙;鄒新海;楊帆;王舒冰;劉永
• 申請（專利權）人: 電子科技大學
• 主分類號: G02F1/35
• 分類號: G02F1/35;G02F1/365;G02F2/00;G02F7/00
• 代理公司: 成都弘毅天承知識產權代理有限公司 51230
• 代理人: 楊保剛

1.一種低基座光譜壓縮和高量化精度的全光量化裝置，其特征在于：包括第一光環行器(1)、第一高非線性光纖(2)、第二光環行器(3)、第一單模光纖(4)、摻鉺光纖放大器(5)、第二單模光纖(6)、光耦合器(7)、第二高非線性光纖(8)；

第一光環行器(1)的a端口作為輸入端，第一光環形器(1)的b端口依次連接第一高非線性光纖(2)和第二光環行器(3)的e端口，第二光環行器(3)的f端口依次連接第一單模光纖(4)和第二光環行器(3)的d端口構成具有反射功能的環路；第一光環行器(1)的c端口依次連接摻鉺光纖放大器(5)、第二單模光纖(6)和光耦合器(7)的g端口，光耦合器(7)的i端口依次連接第二高非線性光纖(8)和光耦合器(7)的j端口組成環形回路，光耦合器(7)的h端口作為光量化裝置的輸出端。

2.根據權利要求1所述的一種低基座光譜壓縮和高量化精度的全光量化裝置，其特征在于：光耦合的耦合比為α:1-α，并且α≠0.5。

3.一種低基座光譜壓縮和高量化精度的全光量化方法，其特征在于，包括以下步驟：

步驟1、輸入光脈沖從第一光環形器(1)的a端口輸入，由第一光環形器(1)的b端口輸出，正向進入第一高非線性光纖(2)，通過孤子自頻移效應使得光脈沖的光譜發生紅移，完成“強度到波長”映射，得到自頻移后的光脈沖；

步驟2、自頻移后的光脈沖通過反射，重復利用反常群速度色散和自相位調制的共同作用實現二級光譜壓縮，同時降低譜壓縮伴隨產生的光譜基底，實現高精度光量化。

4.根據權利要求3所述的一種低基座光譜壓縮和高量化精度的全光量化方法，其特征在于，所述步驟2的二級光譜壓縮方法為，

通過步驟1得到的自頻移后的光脈沖正向通過第二光環形器(3)和第一單模光纖(4)構成的環形結構實現反射，并由反常群速度色散效應引入負啁啾，然后反向經過第一高非線性光纖(2)，由自相位調制效應引入正啁啾，兩啁啾相互補償抵消，實現第一級光譜壓縮；

第一級光譜壓縮后的光脈沖從第一光環行器(1)b端口輸入，第一光環形器(1)的c端口輸出,依次經過摻鉺光纖放大器(5)、第二單模光纖(6)，引入負啁啾，再經過一個由光耦合器(7)和第二高非線性光纖(8)組成的環路，通過自相位調制效應進行啁啾補償，實現第二級光譜壓縮。