[發(fā)明專利]一種基于后方交會測量的云鏡攝系統(tǒng)參數(shù)測量方法及系統(tǒng)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201710023142.3 | 申請日: | 2017-01-12 |
| 公開(公告)號: | CN108303117B | 公開(公告)日: | 2020-06-02 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 王建侖;何燦;鄭鴻旭;劉文生;張成林 | 申請(專利權(quán))人: | 中國農(nóng)業(yè)大學(xué) |
| 主分類號: | G01C25/00 | 分類號: | G01C25/00 |
| 代理公司: | 北京路浩知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11002 | 代理人: | 湯財寶 |
| 地址: | 100193 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 基于 后方 交會 測量 云鏡攝 系統(tǒng) 參數(shù) 測量方法 | ||
1.一種基于后方交會的云鏡攝系統(tǒng)參數(shù)測量方法,其特征在于,包括以下步驟:
S1、在固定焦距下利用同一像片獲取的多組交匯點坐標(biāo)和前方投影對應(yīng)點坐標(biāo),糾正系統(tǒng)誤差和偶然誤差,獲取交會點坐標(biāo);
S2、獲得相同俯仰角的交會點坐標(biāo)和前方投影對應(yīng)點坐標(biāo)的二維點集,對其進行第二次后方交會和最小二乘光束平差,獲得云鏡攝系統(tǒng)的軸像距、旋轉(zhuǎn)臂長及其一般方程,具體包括:根據(jù)云臺的俯仰角φ及云臺旋轉(zhuǎn)臂長l,獲得軸像距的一般方程:dz=dz0-l tanφ,式中dz0為標(biāo)定板與光軸正交時的軸像距;
S3、利用不同焦距下獲得的正交位軸像距和焦距的擬合函數(shù)與俯仰角建立焦距-軸像距-俯仰角曲面函數(shù)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于后方交會的云鏡攝系統(tǒng)參數(shù)測量方法,其特征在于,所述軸像距為圖像采集設(shè)備的軸心站點與像平面的中心的距離。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于后方交會的云鏡攝系統(tǒng)參數(shù)測量方法,其特征在于,所述步驟S1具體包括:
S11、在固定焦距下對標(biāo)定板和圖像兩個平面上的一組對應(yīng)投影點建立共線條件方程,進行最小二乘光束平差計算,獲取近似交會點坐標(biāo)
S12、對同一像片進行多組不同對應(yīng)投影點交會平差,獲得近似交會點集
S13、對近似交會點集進行一次間接平差獲得交會點坐標(biāo)。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的基于后方交會的云鏡攝系統(tǒng)參數(shù)測量方法,其特征在于,所述步驟S11具體包括:
建立誤差方程:
式中:
V=[vx,vy]T
L=[lx,ly]T
法方程為:
則法方程的解為:
其中P為用以引入矯正系統(tǒng)誤差的觀測值權(quán)陣:
P=[(c11X+c12),(c21Y+c22),0]
迭代運算得到系統(tǒng)誤差矯正后的交會點
其中vx,vy為每個像點坐標(biāo)(x,y)的改正數(shù),V為誤差項,lx,ly為點誤差方程的常數(shù)項;(Xs,Ys,Zs)為交會點坐標(biāo),(φ,ω,κ)為兩平面坐標(biāo)系夾角;A為點誤差方程系數(shù)列矩陣,L為點誤差方程常數(shù)項矩陣,為外方位元素近似值的改正數(shù)矩陣;c11X+c12為控制點X坐標(biāo)系統(tǒng)誤差,c21Y+c22為控制點Y坐標(biāo)系統(tǒng)誤差。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的基于后方交會的云鏡攝系統(tǒng)參數(shù)測量方法,其特征在于,所述步驟S13具體包括:
建立誤差方程為:
式中:L’=[lx’,ly’,lz’];
平方差方程為:
其中:
d=[dx,dy,dz]T
間接平差方程的解為:
其中V’為誤差項,B為點誤差方程系數(shù)列矩陣,lx’,ly’,lz’為點誤差方程的常數(shù)項,L’為點誤差方程常數(shù)項矩陣,d為閉合差,為交會點坐標(biāo)的改正數(shù)矩陣,(Xs,Ys,Zs)為交會點坐標(biāo);
平差結(jié)果為:
迭代運算得到偶然誤差矯正后的一個交會點坐標(biāo)(XS,YS,ZS)。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國農(nóng)業(yè)大學(xué),未經(jīng)中國農(nóng)業(yè)大學(xué)許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201710023142.3/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。





