[發明專利]一種測定被測物電磁性能的補償系統和補償方法

有效

• 申請號: 201710021868.3
• 申請日: 2017-01-12
• 公開（公告）號: CN108303600B
• 公開（公告）日: 2023-07-28
• 發明（設計）人: 蔣宇
• 申請（專利權）人: 深圳市新益技術有限公司
• 主分類號: G01R29/10
• 分類號: G01R29/10;G01R29/08
• 代理公司: 北京維正專利代理有限公司 11508
• 代理人: 楊春女

本發明公開了一種測定被測物電磁性能的補償系統和補償方法，旨在解決現有的測試裝置中探頭滑移的過程中探頭的高度會有一定的起伏，從而對測試結果產生誤差的缺點，其技術方案要點是：一種測定被測物電磁性能的補償系統，包括承載臺、設置在承載臺上方的滑移架和具有至少一個能夠沿滑移架滑移的探頭的多探頭陣列裝置，承載臺上設有檢測平面，滑移架上滑移連接有至少一組距離檢測裝置，且所述距離檢測裝置和所述探頭均耦接有具有初始距離預設值并搭載有用于根據距離檢測值進行計算處理以生成補償數據的信號處理軟件的信號分析儀。本發明的補償系統具有能夠補償探頭在滑移過程中產生高度變化而對測試結果造成的影響以提高測試精度的優點。

技術領域

本發明涉及天線測量技術領域，更具體地說，它涉及一種測定被測物電磁性能的補償系統和補償方法。

背景技術

在天線測試技術中，為了能夠更加準確地測試出被測物的電磁性能，通常需要對被測物的不同位點采集多組數據，而移動探頭對被測物進行測量是使用較多的方法之一。

如公開號為CN204789774U的中國專利公開了一種天線方向圖平面近場掃描測試設備，其技術方案要點是：包括計算機，網絡分析儀，伺服電機，工作臺和打印機，還包括暗室，所述暗室內壁為圓弧面，其采用吸波材料制成；所述工作臺位于暗室的底部中央，其一側邊緣安裝有導軌，所述導軌上通過支撐塊安裝有用于測試的探頭，所述探頭的一端通過電纜連接到被測天線上，另一端通過電纜與所述網絡分析儀的端口連接；所述計算機通過GPIB與所述網絡分析儀連接，所述計算機通過R323接口與控制系統連接；所述控制系統用于控制所述伺服電機。

但是由于一般導軌無法做到完全水平的狀態，因此在探頭滑移的過程中探頭的高度會有一定的起伏，從而對測試結果產生誤差。

發明內容

針對現有技術存在的不足，本發明的第一個目的在于提供一種測定被測物電磁性能的補償系統，具有能夠補償探頭在滑移過程中產生高度變化而對測試結果造成的影響以提高測試精度的優點。

本發明的上述技術目的是通過以下技術方案得以實現的：一種測定被測物電磁性能的補償系統，包括承載臺、設置在所述承載臺上方的滑移架和具有至少一個能夠沿所述滑移架滑移的探頭的多探頭陣列裝置，所述承載臺上設有檢測平面，所述滑移架上滑移連接有與所述探頭同步移動以檢測所述探頭變化高度并生成距離檢測值的距離檢測裝置，且所述距離檢測裝置和所述探頭均耦接有具有初始距離預設值并搭載有用于根據距離檢測值進行計算處理以生成補償數據的信號處理軟件的信號分析儀。

通過采用上述技術方案，測試時，先將被測物放置在承載臺上，通過滑移探頭對被測物進行探測，探頭在滑移的過程中可以對被測物的多個位點進行探測，探頭從滑移架的一端滑移至另一端即形成覆蓋被測物的檢測面，而在探頭滑移的過程中，距離檢測裝置跟隨探頭同步滑移，從而距離檢測裝置與探頭發生同步的高度變化，距離檢測裝置檢測出自身與檢測平面之間的距離并生成距離檢測值，并通過信號分析儀將距離檢測至與初始距離預設值進行作差計算，得出的差值即表示了探頭的變化高度值，差值為正值表示探頭升高，差值為負值表示探頭下降；信號處理軟件根據這個變化高度值進行運算處理，從而得出補償數據，對探頭的探測到的數據進行補償，從而減少了探頭位置相對于地面部水平或探頭因高度變化對測試結果造成的影響，提高了測試精度。

本發明進一步設置為：所述多探頭陣列裝置包括滑移連接于所述滑移架用于固定所述探頭的滑移桿和設置所述滑移架上用于驅動所述滑移桿移動的驅動機構。

通過采用上述技術方案，通過驅動機構驅動滑移桿沿滑移架移動，從而帶動探頭滑移，即可實現對被測物的多個位點進行測試。

本發明進一步設置為：所述驅動機構包括固定于所述滑移架的驅動電機、固定在所述驅動電機轉軸上的主動輪、轉動連接在所述滑移架上的從動輪、以及套設于所述主動輪和所述從動輪且固定于所述滑移桿的傳送帶。