[發明專利]一種自動曝光檢測的X射線平板探測器及其傳感器面板結構

有效

• 申請號: 201710018588.7
• 申請日: 2017-01-11
• 公開（公告）號: CN106725554B
• 公開（公告）日: 2021-12-21
• 發明（設計）人: 金利波;朱翀煜
• 申請（專利權）人: 奕瑞影像科技（太倉）有限公司
• 主分類號: A61B6/00
• 分類號: A61B6/00
• 代理公司: 上海光華專利事務所(普通合伙) 31219
• 代理人: 余明偉

1.一種自動曝光檢測的X射線平板探測器的傳感器面板結構，其特征在于，包括：

第一圖像傳感器陣列層，感應入射光以實現X射線成像；

第二圖像傳感器陣列層，包括多個感光區域，且所述多個感光區域均勻分布在所述第一圖像傳感器陣列層的下方，且在垂直方向上與所述第一圖像傳感器陣列層各像素之間的透光間隙重合，感應穿過所述第一圖像傳感器陣列層的入射光以實現全視野自動曝光檢測；

基板，設于所述第二圖像傳感器陣列層遠離所述第一圖像傳感器陣列層的下方；

其中，在所述第一圖像傳感器陣列層和所述第二圖像傳感器陣列層上均覆蓋有鈍化層。

2.根據權利要求1所述的自動曝光檢測的X射線平板探測器的傳感器面板結構，其特征在于：所述第二圖像傳感器陣列層的傳感器數量少于所述第一圖像傳感器陣列層的傳感器數量。

3.根據權利要求1所述的自動曝光檢測的X射線平板探測器的傳感器面板結構，其特征在于：所述第一圖像傳感器陣列層和所述第二圖像傳感器陣列層的電極焊盤位于所述傳感器面板結構的邊緣。

4.根據權利要求1所述的自動曝光檢測的X射線平板探測器的傳感器面板結構，其特征在于：所述第一圖像傳感器陣列層和所述第二圖像傳感器陣列層的電極焊盤通過穿過所述鈍化層的過孔與外部連接。

5.根據權利要求1所述的自動曝光檢測的X射線平板探測器的傳感器面板結構，其特征在于：在所述第一圖像傳感器陣列層上設有閃爍體層，將入射的X射線轉化為可見光。

6.一種自動曝光檢測的X射線平板探測器，其特征在于，包括：

根據權利要求1-5任一項所述的傳感器面板結構、與所述傳感器面板結構連接的控制及處理模塊，以及與所述控制及處理模塊連接的通信模塊；

其中，所述控制及處理模塊向所述傳感器面板結構的第一圖像傳感器陣列層和第二圖像傳感器陣列層輸出控制信號，根據所述第二圖像傳感器陣列層檢測穿過所述第一圖像傳感器陣列層的入射光讀取所述第一圖像傳感器陣列層的圖像信息，對所述圖像信息進行處理；

所述通信模塊輸出處理后的圖像數據。