[發(fā)明專利]一種加工光束空間傳輸指向精度檢測裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201710014871.2
• 申請日: 2017-01-09
• 公開（公告）號: CN106735963B
• 公開（公告）日: 2018-08-21
• 發(fā)明（設計）人: 章云;賈默涵;董洋;張大興
• 申請（專利權）人: 西安電子科技大學
• 主分類號: B23K26/70
• 分類號: B23K26/70;B23K26/067;B23K26/064
• 代理公司: 西安吉盛專利代理有限責任公司 61108
• 代理人: 何銳

1.一種加工光束空間傳輸指向精度檢測裝置，包括底板(1)，其特征在于，還包括激光發(fā)生部分、光路部分、振鏡系統(tǒng)(10)以及檢測部分；

所述激光發(fā)生部分包括固定在底板(1)上的用以產生激光的激光器(2)；

所述光路部分包括擴束鏡(3)、反射鏡一(4)、方位旋轉通光軸(5)、力矩電機一(6)、反射鏡二(7)、俯仰旋轉通光軸(8)、力矩電機二(9)以及方位旋轉通光軸支架(16)；其中擴束鏡(3)固定于底板(1)上，并位于激光器(2)的激光光束輸出端一側，實現對激光光束直徑和發(fā)散角的改變；所述反射鏡一(4)固定于底板(1)上，并位于擴束鏡(3)的右側，用以實現對擴束鏡(3)輸出的激光光束的方向改變，使激光光束方向變?yōu)樨Q直向上；所述方位旋轉通光軸(5)與反射鏡二(7)通過方位旋轉通光軸支架(16)固定于反射鏡一(4)反射后的出光方向，俯仰旋轉通光軸(8)與方位旋轉通光軸(5)相連且垂直于方位旋轉通光軸(5)，并位于經反射鏡二(7)反射后的出光方向；所述方位旋轉通光軸(5)與力矩電機一(6)連接，力矩電機一(6)驅動方位旋轉通光軸(5)旋轉并實現光路改變；所述俯仰旋轉通光軸(8)與力矩電機二(9)連接，力矩電機二(9)驅動俯仰旋轉通光軸(8)旋轉并實現光路改變；

所述檢測部分包括工控機(13)、位置敏感芯片陣列一(11)、位置敏感芯片陣列二(12)、位置敏感芯片陣列三(14)、位置敏感芯片陳列架(15)以及電子水平儀(17)；所述位置敏感芯片陳列架(15)由水平陳列架和垂直于水平陳列架的豎直陳列架組成；所述位置敏感芯片陣列一(11)、位置敏感芯片陣列三(14)分別設于水平陳列架上，其中位置敏感芯片陣列一(11)設于振鏡系統(tǒng)(10)光路出口正下方，位置敏感芯片陣列一(11)、位置敏感芯片陣列三(14)用于檢測方位旋轉通光軸(5)旋轉后光束指向精度；位置敏感芯片陣列二(12)設于豎直陳列架上，用于檢測方位旋轉通光軸(5)與俯仰旋轉通光軸(8)同時旋轉后的光束指向；位置敏感芯片陣列一(11)、位置敏感芯片陣列二(12)以及位置敏感芯片陣列三(14)分別與工控機(13)相連接，以實現激光光束指向的控制；所述電子水平儀(17)固定于振鏡系統(tǒng)(10)的頂部，實現對振鏡系統(tǒng)(10)傾角的測量。

2.根據權利要求1所述的一種加工光束空間傳輸指向精度檢測裝置，其特征在于：所述激光器(2)與擴束鏡(3)軸線相重合并且軸線平行于底板(1)所在平面。

3.根據權利要求1所述的一種加工光束空間傳輸指向精度檢測裝置，其特征在于：所述反射鏡一(4)、反射鏡二(7)均與光路呈45度夾角。

4.根據權利要求1所述的一種加工光束空間傳輸指向精度檢測裝置，其特征在于：所述激光器(2)、擴束鏡(3)均使用調整架作為其夾持裝置，所述調整架豎直設于底板(1)上。

5.根據權利要求1所述的一種加工光束空間傳輸指向精度檢測裝置，其特征在于：所述位置敏感芯片陣列一(11)、位置敏感芯片陣列二(12)、位置敏感芯片陣列三(14)將電壓信號發(fā)送給工控機(13)，通過工控機(13)對力矩電機一(6)、力矩電機二(9)以及振鏡系統(tǒng)(10)進行控制。

6.根據權利要求1所述的一種加工光束空間傳輸指向精度檢測裝置，其特征在于：所述方位旋轉通光軸(5)的端面與方位旋轉通光軸支架(16)通過螺栓連接。