[發明專利]一種高度測微儀及其測量方法

在審

• 申請號: 201710014379.5
• 申請日: 2017-01-10
• 公開（公告）號: CN106767294A
• 公開（公告）日: 2017-05-31
• 發明（設計）人: 沈奇;陳繼君
• 申請（專利權）人: 無錫市通達滾子有限公司
• 主分類號: G01B5/06
• 分類號: G01B5/06
• 代理公司: 蘇州廣正知識產權代理有限公司32234
• 代理人: 馬云玉

1.一種高度測微儀，包括測量臺、儀表夾頭座，所述測量臺水平設置，儀表夾頭座垂直于測量臺設置，其特征在于，測量臺上設有高度測量基準和外圓基準座，儀表夾頭座上設有儀表，儀表的測軸上連接有測頭，待測工件設于高度測量基準與測頭之間，外圓基準座上設有與待測工件外表面緊貼的外圓靠山。

2.根據權利要求1所述的高度測微儀，其特征在于，所述高度測量基準為圓柱體，圓柱體的直徑為Ф1mm～Ф10mm，圓柱體上端面為測量平臺，其平面度＜0.1μm。

3.根據權利要求2所述的高度測微儀，其特征在于，基準座件上至少裝配有2個高度測量基準，各高度測量基準的直徑和高度均不相同。

4.根據權利要求1所述的高度測微儀，其特征在于，外圓基準座沿Z軸方向上下位置可調，外圓靠山可左右移動式裝配于外圓基準座上，所述外圓靠山與待測工件緊貼的接觸面呈V型。

5.根據權利要求1所述的高度測微儀，其特征在于，接觸面的V型角度為100°-130°。

6.根據權利要求1所述的高度測微儀，其特征在于，所述儀表為扭簧表，扭簧表豎直設于待測工件上方。

7.根據權利要求1所述的高度測微儀，其特征在于，所述測頭為半圓頭針狀測頭。

8.根據權利要求1所述的高度測微儀的測量方法，其特征在于，包括以下步驟：

1）選用與待測工件同規格的標準件進行零位校正；

2）校正達標后，將被測工件豎直放入測量臺；

3）外圓靠山與待測工件緊貼；

4）待測工件穩定后，儀表上的表示值則為測量值。

9.根據權利要求8所述的高度測微儀的測量方法，其特征在于，所述零位校正包括以下步驟：

1）選擇標準件，取一標準件，其長度在所要求的公差范圍內，選擇兩端面最高點為測點，把標準件放入測量臺內；

2）預調，先將儀表放置到標準件標定值位置，并微微鎖定儀表位置，再將外圓靠山與標準件緊貼，拿出、放入標準件，復測多次，當儀表表示值能重復至標定值附近，則鎖定儀表位置；

3）微調，儀表表示值略偏離標定零位，通過微調零件，使指針達到標定值，達值后再重復拿出、放入標準件多次，儀表指針均能穩定達到標準零位時為校正達標。

10.根據權利要求9所述的高度測微儀的測量方法，其特征在于，所述微調范圍為±0.03mm。