[發明專利]高電導率的共摻雜氧化鎵晶體及其制備方法有效
| 申請號: | 201710011291.8 | 申請日: | 2017-01-06 |
| 公開(公告)號: | CN106868593B | 公開(公告)日: | 2019-04-19 |
| 發明(設計)人: | 夏長泰;張宏哲;王林軍;賽青林;周威;齊紅基;潘明艷 | 申請(專利權)人: | 中國科學院上海光學精密機械研究所 |
| 主分類號: | C30B29/16 | 分類號: | C30B29/16;C30B13/00 |
| 代理公司: | 上海恒慧知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 31317 | 代理人: | 張寧展 |
| 地址: | 201800 上海市*** | 國省代碼: | 上海;31 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 電導率 摻雜 氧化 晶體 及其 制備 方法 | ||
1.一種共摻雜氧化鎵單晶晶體,其特征在于,通過Sn和In離子摻雜形成n型導電的晶體,化學式為Ga2-2x-2yIn2xSn2yO3+y,其中x=10~30mol%,y=0.005~1mol%。
2.根據權利要求1所述的共摻雜氧化鎵單晶晶體,其特征在于,所述x=10~30mol%,y=0.1~1mol%。
3.根據權利要求1所述的共摻雜氧化鎵單晶晶體,其特征在于,所述x=20~30mol%,y=0.005~1mol%。
4.根據權利要求1所述的共摻雜氧化鎵單晶晶體,其特征在于,所述x=20~30mol%,y=0.1~1mol%。
5.根據權利要求1所述的共摻雜氧化鎵單晶晶體,其特征在于,所述y=1mol%。
6.根據權利要求4所述的共摻雜氧化鎵單晶晶體,其特征在于,所述x=30mol%。
7.一種權利要求1~5任一所述的共摻雜氧化鎵單晶晶體的制備方法,
其特征在于,該方法包括以下步驟:
(1)配料:采用高純Ga2O3、SnO2和In2O3為原料,根據化學式Ga2-2x-2yIn2xSn2yO3+y,x=10~30mol%,y=0.005~1mol%,按摩爾比稱取原料;
(2)混料:將稱取的原料混合在一起,放入清潔后的聚四氟乙烯球磨罐中,然后放入經過清洗的瑪瑙球,并加入無水乙醇,放在球磨機上球磨12h~24h;
(3)烘干:將球磨罐放在烘箱里面,在80℃~100℃下烘烤3h~6h直至乙醇完全揮發;(4)燒結:用有機彈性塑料模具在等靜壓中壓成料棒,然后將料棒放入馬弗爐中燒結;(5)長晶:將燒結好的料棒裝入浮區爐中作為上料棒,以純的β-Ga2O3晶體作為下面生長用的籽晶,在空氣氣氛中進行晶體生長;晶體生長完畢后,待爐溫降至室溫,取出晶體。
8.根據權利要求7所述的共摻雜氧化鎵單晶晶體的制備方法,其特征是在于,晶體的生長速度為4.5-6mm/h,轉速為8-12rpm。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于中國科學院上海光學精密機械研究所,未經中國科學院上海光學精密機械研究所許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201710011291.8/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





