[發明專利]基于里德堡原子量子相干效應的射頻電場校對方法及裝置有效
| 申請號: | 201710010392.3 | 申請日: | 2017-01-06 |
| 公開(公告)號: | CN106842095B | 公開(公告)日: | 2019-06-28 |
| 發明(設計)人: | 趙建明;焦月春;賈鎖堂 | 申請(專利權)人: | 山西大學 |
| 主分類號: | G01R35/00 | 分類號: | G01R35/00 |
| 代理公司: | 山西五維專利事務所(有限公司) 14105 | 代理人: | 雷立康 |
| 地址: | 030006*** | 國省代碼: | 山西;14 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 基于 里德堡 原子 量子 相干 效應 射頻 電場 校對 方法 裝置 | ||
1.一種基于里德堡原子量子相干效應的射頻電場校對方法,其特征在于,包括如下步驟:
(a)將裝有一對平行電極板的玻璃銫泡作為銫原子樣品池(1);
(b)第一激光光源(2)發出波長852nm的激光作為探測光,將探測光的頻率鎖定在銫原子的基態|g>和第一激發態|e>兩個能級的共振位置,探測光經過高反射率反射鏡(5)從銫原子樣品池(1)的一端入射到銫原子樣品池(1)中,作用于銫原子的基態|g>和第一激發態|e>,透過銫原子樣品池(1)的探測光通過雙色鏡(6)入射到光電探測器(7)上進行探測;第二激光光源(3)發出波長510nm的激光作為耦合光,耦合光通過雙色鏡(6)從銫原子樣品池(1)的另一端入射進銫原子樣品池(1)中,與探測光在銫原子樣品池(1)中的兩平行電極板間反向重疊,耦合光耦合銫原子的第一激發態|e>與里德堡nD5/2能級|r>;所述第一激光光源(2)和第二激光光源(3)發出的兩種激光頻率應滿足銫nD5/2態里德堡原子階梯型三能級系統電磁感應透明的條件;
(c)掃描510nm耦合光的頻率,使光電探測器(7)獲得852nm探測光的無多普勒背景的電磁感應透明光譜;
(d)射頻源(4)在電極板的接線端加一個弱的射頻電場,使(c)步驟中所得的電磁感應透明光譜發生Stark頻移和分裂,同時產生由射頻電場調制里德堡能級的偶級邊帶,在Stark光譜中,磁量子數mj=5/2的Stark光譜與磁量子數mj=1/2,3/2的二級邊帶形成多個能級交叉點,每個能級交叉點作為一個校準射頻電場的基準點,每一個基準點對應一個精確的射頻電場值;
(e)利用確定的射頻電場值對電場測量儀器進行校準,然后用校對過的電場測量儀器對射頻電場進行測量,從而實現射頻電場的校準。
2.根據權利要求1所述的基于里德堡原子量子相干效應的射頻電場校對方法,其特征在于:所述射頻源(4)的頻率范圍為1MHz-1GHz。
3.一種用于權利要求1所述的基于里德堡原子量子相干效應的射頻電場校對方法的裝置,其特征在于,包括銫原子樣品池(1)、第一激光光源(2)、第二激光光源(3)、射頻源(4)、高反射率反射鏡(5)、雙色鏡(6)和光電探測器(7),所述銫原子樣品池(1)是裝有一對平行電極板的玻璃銫泡,平行電極板的兩個接線端裸露在銫原子樣品池(1)的外面,所述第一激光光源(2)和高反射率反射鏡(5)設在銫原子樣品池(1)的一側,所述第二激光光源(3)和雙色鏡(6)設在銫原子樣品池(1)的另一側,所述高反射率反射鏡(5)和雙色鏡(6)的正面與水平面成45度夾角,所述射頻源(4)的兩個接線分別與平行電極板的兩個接線端相連接,所述光電探測器(7)設在雙色鏡(6)反面的一側。
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