[發(fā)明專利]陣列掃描噪聲測量裝置在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201710009960.8 | 申請日: | 2017-01-06 |
| 公開(公告)號: | CN106840374A | 公開(公告)日: | 2017-06-13 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 蔣偉康;張煥強 | 申請(專利權(quán))人: | 上海交通大學(xué) |
| 主分類號: | G01H17/00 | 分類號: | G01H17/00 |
| 代理公司: | 上海交達專利事務(wù)所31201 | 代理人: | 王毓理,王錫麟 |
| 地址: | 200240 *** | 國省代碼: | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 陣列 掃描 噪聲 測量 裝置 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及的是一種機電一體化噪聲測試設(shè)備,具體是一種陣列掃描噪聲測量裝置。
背景技術(shù)
在工業(yè)領(lǐng)域經(jīng)常需要采取降噪的措施來控制產(chǎn)品的噪聲,而要控制產(chǎn)品的噪聲首先需要進行噪聲源診斷,確定噪聲源的位置以及各個噪聲源的特性。若想測得某一產(chǎn)品的噪聲,需要有相關(guān)的噪聲測量裝置。在對噪聲處理的算法研究完成之后,需要這樣一種測量裝置來測得所需數(shù)據(jù)。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明針對現(xiàn)有技術(shù)在噪聲測量時傳感器支架移動麻煩、定位精度低、測試花費時間長、實驗裝置應(yīng)用領(lǐng)域窄以及檢測定位精度較差等缺陷,提出一種陣列掃描噪聲測量裝置,具有高定位精度、高測試效率的能夠在豎直平面內(nèi)實現(xiàn)掃描全部測量點的陣列噪聲測試裝置。
本發(fā)明是通過以下技術(shù)方案實現(xiàn)的:
本發(fā)明涉及一種陣列掃描噪聲測量裝置,包括:二維噪聲采集單元、驅(qū)動單元和控制單元,其中:控制單元根據(jù)測量者的輸入向驅(qū)動單元發(fā)送控制要求,驅(qū)動單元根據(jù)控制要求轉(zhuǎn)化并處理成工作指令并發(fā)送至二維噪聲采集單元,二維噪聲采集單元使傳感器陣列在橫、縱兩個方向電機的驅(qū)動下實現(xiàn)在整個豎直平面內(nèi)的運動,測量給定豎直平面內(nèi)的噪聲信息。
所述的二維噪聲采集單元包括:檢測框架、滑動設(shè)置于檢測框架內(nèi)的橫向滑動機構(gòu)以及設(shè)置于橫向滑動機構(gòu)上的帶有傳感器陣列的縱向滑動機構(gòu),其中:傳感器陣列固定設(shè)置于縱向滑動機構(gòu)上并通過激光傳感定位實現(xiàn)精確縱向位移。
所述的縱向滑動機構(gòu)和橫向滑動機構(gòu)均為獨立的電機驅(qū)動的導(dǎo)塊滑軌機構(gòu)。
所述的傳感器陣列采用但不限于多個并聯(lián)的聲學(xué)傳感器組成,其排列方式優(yōu)選采用直線方式排列。
所述的驅(qū)動單元包括:主控模塊、A/D轉(zhuǎn)換模塊、分別設(shè)置于縱向滑動機構(gòu)和橫向滑動機構(gòu)上的兩組激光位移傳感器、激光定位板以及伺服驅(qū)動器,其中:主控模塊接收來自控制單元的控制要求,將控制單元給定的目標操作值轉(zhuǎn)化為伺服電機需要的脈沖數(shù)目及方向,分別輸出工作指令至縱向滑動機構(gòu)和橫向滑動機構(gòu)上的伺服驅(qū)動器,A/D轉(zhuǎn)換模塊接收二維噪聲采集單元的模擬電壓信號并轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號輸出至主控模塊以實現(xiàn)精確的位置反饋。
所述的控制單元包括:復(fù)位模塊、傳感器標定模塊、單點輸入運行模塊和列表輸入運行模塊,其中:傳感器標定模塊通過對傳感器運行單位長度需要的距離進行標定,得到單位距離所需要的脈沖數(shù)信息并分別輸出至復(fù)位模塊、單點輸入運行模塊和列表輸入運行模塊,復(fù)位模塊向驅(qū)動單元發(fā)出復(fù)位的控制要求,使得二維噪聲采集單元中的傳感器陣列的位置歸零;單點輸入運行模塊向驅(qū)動單元發(fā)出單個坐標移動的控制要求,使得二維噪聲采集單元中的傳感器陣列到達檢測框架中的指定位置;列表輸入運行模塊向驅(qū)動單元發(fā)出多個坐標移動的使得二維噪聲采集單元中的傳感器陣列根據(jù)設(shè)定的時間順序依次到達檢測框架中的若干個指定位置。
本發(fā)明涉及上述裝置的測量方法,包括以下步驟:
第一步:將所測量的物體放置于噪聲測量裝置的相對豎直平面內(nèi)并選定測量物體的測量零點,根據(jù)測試需要選擇合適的測試距離;
第二步:打開測量裝置的總電源開關(guān),操作控制單元,進行X、Y軸的回原點操作;
第三步:操作控制單元,進行激光傳感器系統(tǒng)標定操作;
第四步:操作控制單元,輸入目的點坐標后控制傳感器陣列運行至目標點位置;
第五步:重新調(diào)整物體的位置,將物體的測量零點與第四步傳感器陣列最下面的聲學(xué)傳感器中心位置重合;
第六步:根據(jù)需要選擇單點運行測量或列表進行測量,并控制傳感器陣列運行至第一個目標點位置。
第七步:伺服電機剎車,進行噪聲測量;
第八步:若第六步選擇但點測量,輸入下一測量點的坐標,進行下一個目標點的測量,直至所有目標點均測量完畢;若第六步選擇列表運行測量,則不需輸入下一點坐標,直接操作運行至下一點進行測量至所有目標點測量完畢。
技術(shù)效果
與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明大大縮短了實驗操作所需要的時間,提高了定位精度。手動移動至少1分鐘才能確定一次測量的位置,自動運行僅需幾秒鐘;本發(fā)明提高了定位精度以及噪聲測量的準確度。
附圖說明
圖1為本發(fā)明的總體結(jié)構(gòu)軸測圖;
圖2為本發(fā)明的總體結(jié)構(gòu)正視圖;
圖3為圖1中A處的局部放大圖;
圖4a為圖1中B處的局部放大圖;
圖4b為圖1中B處的局部放大圖;
圖5為圖1中C處的局部放大圖;
圖6為驅(qū)動單元原理圖;
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于上海交通大學(xué),未經(jīng)上海交通大學(xué)許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201710009960.8/2.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。





