[發明專利]計算方法、判定方法、挑選方法以及挑選裝置

有效

• 申請號: 201710008672.0
• 申請日: 2017-01-06
• 公開（公告）號: CN106950230B
• 公開（公告）日: 2020-01-31
• 發明（設計）人: 川上唯;藤井宣行;中慈朗;平野則子
• 申請（專利權）人: 三菱電機株式會社
• 主分類號: G01N23/02
• 分類號: G01N23/02;B07C5/34
• 代理公司: 11038 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所
• 代理人: 金春實

本發明提供一種計算方法、判定方法、挑選方法以及挑選裝置。用于判定構成被檢查物的材料的種類的判定方法包括以下步驟：向被檢查物照射X射線，檢測透過了被檢查物的低能量X射線的透過強度和透過了被檢查物的高能量X射線的透過強度；關于被檢查物，計算對低能量X射線的透過強度和高能量X射線的透過強度進行加權差分得到的差分值與使用于該加權差分的權重系數的關系；以及基于與材料的種類已知且互不相同的多個參照物體分別對應的多個關系以及對應于被檢查物的關系，判定構成被檢查物的材料的種類。

技術領域

本公開涉及一種計算方法、判定方法、挑選方法以及挑選裝置，特別是涉及一種用于判定構成被檢查物的材料的種類的計算方法、使用該計算方法的判定方法、用于挑選被檢查物的挑選方法以及挑選裝置。

背景技術

以往，在食品行業和藥品行業等各種行業中進行使用透過X射線的異物檢查。該檢查中，向物體照射X射線并根據透過了該物體的X射線的透過強度(吸收的大小)的差異來進行異物的檢測。X射線的透過強度依賴于物體的材質、厚度、密度、構成物體的元素的種類以及元素的濃度等。

在此，在元素濃度、厚度以及密度的差異對X射線透過強度的影響小于元素的種類對X射線透過強度的影響的情況下，通過參照X射線透過強度來能夠確定含有作為對象的元素的物體。但是，在前者的影響大于后者的影響的情況下，難以確定包含作為對象的元素的物體。

因此，作為考慮了物體的厚度的材質的判定方法，已知被稱為能量減影(energysubtraction)法的方法。該方法是如下方法：分別測定2種不同能量(低能量和高能量)的X射線的透過強度，對它們進行對數變換之后使用參數來進行加權差分處理，由此分離異成分圖像。然而，在該方法中，存在適當地設定參數的作業微妙且繁瑣的情況，因此例如提出了如下技術。

日本特開2010-91483號公報公開了如下方法：對從雙能量X射線圖像生成的低能量和高能量的等價厚圖像對應用獨立成分分析來求出分離矩陣，使用作為分離矩陣的要素的2個分離矢量來設定差分處理的權重參數。

在專利文獻1中，對等價厚圖像對應用獨立成分分析來求出分離矩陣，但是無法基于2個透過X射線圖像來區分3種以上的物質。即，能夠判定的構成被檢查物的物質(材料)的種類被限制到2個為止。因此，存在如下問題：在多個被檢查物中有可能含有3種以上的被檢查物的情況下，無法高精度地判定構成該被檢查物的材料的種類。

發明內容

本公開是為了解決上述問題而完成的，某方面的目的在于提供一種用于即使在多個被檢查物中含有3種以上的被檢查物的情況下也高精度地判定構成被檢查物的材料的種類的計算方法、使用該計算方法的判定方法。另外，其它方面的目的在于提供一種即使在多個被檢查物中含有3種以上的被檢查物的情況下也能夠高精度地挑選由特定種類的材料構成的被檢查物的挑選方法以及挑選裝置。

按照某實施方式，提供一種用于判定構成被檢查物的材料的種類的計算方法。計算方法包括以下步驟：向被檢查物照射X射線，檢測透過了被檢查物的低能量X射線的透過強度和透過了被檢查物的高能量X射線的透過強度；以及關于被檢查物，計算對低能量X射線的透過強度和高能量X射線的透過強度進行加權差分得到的差分值與使用于該加權差分的權重系數的關系。

按照其它實施方式，提供一種使用上述計算方法的判定方法。判定方法包括以下步驟：基于對應于被檢查物的關系、以及與材料的種類已知且互不相同的多個參照物體分別對應的、對低能量X射線的透過強度和高能量X射線的透過強度進行加權差分得到的差分值與使用于該加權差分的權重系數的關系，判定構成被檢查物的材料的種類。