[發明專利]鞋楦底弧量具及鞋楦比對方法有效
| 申請號: | 201710004692.0 | 申請日: | 2017-01-04 |
| 公開(公告)號: | CN106858912B | 公開(公告)日: | 2019-07-30 |
| 發明(設計)人: | 鄭海濤;朱成魁 | 申請(專利權)人: | 溫州市華煒鞋材科技有限公司 |
| 主分類號: | A43D1/04 | 分類號: | A43D1/04 |
| 代理公司: | 溫州名創知識產權代理有限公司 33258 | 代理人: | 陳加利 |
| 地址: | 325000 浙江省*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 鞋楦底弧 量具 方法 | ||
本發明涉及一種鞋楦底弧量具及鞋楦比對方法,包括比對板體,比對板上設置有與標準鞋楦底弧互補的比對面。采用上述方案,本發明提供一種比對全面的鞋楦底弧量具及鞋楦比對方法。
技術領域
本發明涉及一種量具,具體涉及一種鞋楦底弧量具。
背景技術
鞋子最主要的功能作用在于保護雙腳的同時穿著舒適,傳統的鞋楦包括前腳掌部、足弓部及后跟部,鞋子就是以鞋楦為人腳模型制造的,能最大限度的模擬人的雙腳,所以,鞋楦的精準度直接決定了鞋子的質量。為了增加精準度,在鞋楦完成之后工作人員會拿底弧比對卡來比對鞋楦底部的弧度是否標準,由于底弧比對卡呈片狀,一方面無法同時比對整個鞋楦底面,只能多個位置逐一比對,浪費工時,另一方面逐一比對仍存在遺漏的位置,比對效果不是十分理想。
發明內容
針對現有技術存在的不足,本發明的目的在于提供一種比對全面的鞋楦底弧量具。
為實現上述目的,本發明提供了如下技術方案:包括比對板體,所述的比對板上設置有與標準鞋楦底弧互補的比對面。
通過采用上述技術方案,由面比對替換之前的線比對,一次即可完整比對鞋楦底弧,一方面不存在遺漏的位置,增加比對效果,另一方面,降低比對次數,增加工作效率。
本發明進一步設置為:所述的比對面包括與鞋楦的前掌部相對應的第一分部、與鞋楦的足弓部相對應的第二分部及與鞋楦的后跟部對應的第三分部,所述的第一分部、第二分部及第三部分沿邊緣向中心的方向高度逐漸降低。
通過采用上述技術方案,三部分沿邊緣向中心的方向高度逐漸降低形成內凹的形狀,該形狀更符合足底的實際形狀,所生產的鞋子給予足底更好的包裹及支撐,即所比對后的鞋楦能用于生產更舒適的鞋。
本發明進一步設置為:所述的第一分部與第二分部之間呈下凹的弧形過渡。
通過采用上述技術方案,下凹的弧形過渡使鞋楦位于前掌部和足弓部的過渡更加自然,更符合人體構造。
本發明進一步設置為:所述的第二分部與第三分部之間呈上凸的弧形過渡。
通過采用上述技術方案,上凸的弧形過渡使足弓部和后跟部的鞋楦過渡更加自然,更符合人體構造。
本發明進一步設置為:所述的比對板體對應第一分部的位置設置有弧形缺口,該弧形缺口的開口朝向第一分部相對第二分部的另一側。
通過采用上述技術方案,弧形缺口簡化比對板的結構,從而簡化加工、降低重量,減少使用者的手持負擔,也使單一比對板體可以適用多種頭部不同的鞋楦比對。
本發明進一步設置為:所述的比對面上覆蓋有可轉移的顏料層。
通過采用上述技術方案,增設顏料層,在鞋楦貼合比對之后會在鞋楦底面會附著顏料層,當出現未完全覆蓋整個鞋楦底面的狀況下,則說明鞋楦存在未符合標準的部分,需要重新加工及調試,使比對效果更加明顯且準確,顏料層可為印泥、帶黏性的顏料等等。
本發明進一步設置為:所述的比對板體由透明材質制成。
通過采用上述技術方案,選用透明材質制造比對板,透過比對板體可直接觀察顏料層的排布情況,如顏料層排布均勻,則鞋楦完全貼合比對面,加工準確,如顏料層在某一片區域堆積,則鞋楦加工出現偏差,需要重新加工及調試。
本發明還公開一種鞋楦比對方法,提供了如下技術方案:1、將鞋楦放置于比對板體;2、將鞋楦底面與比對板體的比對面對應相抵;3、透過比對板體觀察顏料層排布狀況;4、取下鞋楦,觀察鞋楦底面的顏料附著狀況。
通過采用上述技術方案,由面比對替換之前的線比對,一次即可完整比對鞋楦底弧,一方面不存在遺漏的位置,增加比對效果,另一方面,降低比對次數,增加工作效率,其次,兩種比對方法依次進行,使比對效果更加全面。
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