[發(fā)明專利]一種FPGA自測的方法及裝置

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201710003023.1
• 申請(qǐng)日: 2017-01-04
• 公開（公告）號(hào): CN108267683A
• 公開（公告）日: 2018-07-10
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 王敬美;許樂;湯建新;何勃
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 中興通訊股份有限公司
• 主分類號(hào): G01R31/28
• 分類號(hào): G01R31/28;G01R31/3185
• 代理公司: 北京元本知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所 11308
• 代理人: 秦力軍

本發(fā)明公開了一種FPGA自測的方法及裝置，涉及電子以及自動(dòng)化測試技術(shù)領(lǐng)域，其方法包括：配置有FPGA芯片且能夠運(yùn)行FPGA程序的測試單板接收PC發(fā)送的FPGA測試文件及FPGA版本；測試單板通過加載運(yùn)行FPGA版本，生成能夠運(yùn)行FPGA測試文件的FPGA測試版本；所述測試單板通過運(yùn)行所述FPGA測試版本，形成能夠自動(dòng)執(zhí)行FPGA測試文件中各測試任務(wù)的多個(gè)功能單元，由其進(jìn)行測試并將測試結(jié)果返回給所述PC。本發(fā)明可以在真實(shí)場景、真實(shí)處理時(shí)序下對(duì)FPGA邏輯電路進(jìn)行自測，自測結(jié)果更可信。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及電子以及自動(dòng)化測試技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種FPGA(Field-Programmable Gate Array，現(xiàn)場可編程門陣列)自測的方法及裝置。

背景技術(shù)

FPGA由于具有豐富的接口資源、靈活快速的可編程特性，可以定制出專用的集成電路，彌補(bǔ)商用芯片的不足，滿足用戶特殊的功能需求。因此，在通信、多媒體、信息處理等領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用。

在FPGA的開發(fā)應(yīng)用中，對(duì)邏輯功能的測試驗(yàn)證是很重要的一個(gè)步驟。傳統(tǒng)的FPGA測試驗(yàn)證主要通過仿真完成，一般常用的仿真方法有：利用FPGA廠家提供的集成到編譯軟件中的仿真工具，或者采用第三方開發(fā)的專用仿真工具(如ModelSim)，或者搭建專門的集成仿真平臺(tái)。通過仿真對(duì)FPGA內(nèi)部邏輯進(jìn)行測試，需要人為模擬輸入的測試激勵(lì)以及控制時(shí)序，并且需要盡可能多的保存仿真產(chǎn)生的波形文件以及數(shù)據(jù)，在邏輯規(guī)模較大、需要連續(xù)長時(shí)間仿真時(shí)，每一次用例仿真的時(shí)間消耗會(huì)很長，保存的數(shù)據(jù)量也很大，并且對(duì)仿真結(jié)果正確性的判斷也會(huì)比較困難；另外，仿真的一個(gè)缺陷就是有可能模擬不出來邏輯電路真實(shí)運(yùn)行時(shí)的一些場景。

隨著FPGA開發(fā)驗(yàn)證方法的發(fā)展，也有一些比較新穎的方案可以實(shí)現(xiàn)FPGA自動(dòng)化測試、板上測試。這些方法都是需要把完整的輸出數(shù)據(jù)進(jìn)行比較，在大規(guī)模邏輯電路測試中，對(duì)比的數(shù)據(jù)量很大，測試效率會(huì)比較低。

發(fā)明內(nèi)容

根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例提供的方案解決的技術(shù)問題是存在的無法在真實(shí)運(yùn)行環(huán)境測試FPGA邏輯電路、以及自動(dòng)化測試保存數(shù)據(jù)多，效率低。

根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例提供的一種FPGA自測的方法，包括：

配置有FPGA芯片且能夠運(yùn)行FPGA程序的測試單板接收PC(Personal Computer，個(gè)人電腦)發(fā)送的FPGA測試文件及FPGA版本；

測試單板通過加載運(yùn)行FPGA版本，生成能夠運(yùn)行FPGA測試文件的FPGA測試版本；

所述測試單板通過運(yùn)行所述FPGA測試版本，形成能夠自動(dòng)執(zhí)行FPGA測試文件中各測試任務(wù)的多個(gè)功能單元，由其進(jìn)行測試并將測試結(jié)果返回給所述PC。

優(yōu)選地，所述多個(gè)功能單元包括工作模式判斷單元、CRC(Cyclic RedundancyCheck，循環(huán)冗余校驗(yàn))收集單元、多個(gè)具有不同功能的FPGA處理節(jié)點(diǎn)單元以及與每個(gè)FPGA處理節(jié)點(diǎn)單元相對(duì)應(yīng)的節(jié)點(diǎn)輸出數(shù)據(jù)控制單元和CRC生成單元。

優(yōu)選地，所述FPGA處理節(jié)點(diǎn)單元包括比特級(jí)功能子單元、符號(hào)級(jí)功能子單元、資源映射級(jí)功能子單元以及時(shí)域符號(hào)生成級(jí)功能子單元。

優(yōu)選地，所述的FPGA測試文件包含參數(shù)配置文件和FPGA測試數(shù)據(jù)文件；其中，所述的配置有FPGA芯片且能夠運(yùn)行FPGA程序的測試單板接收PC發(fā)送的FPGA測試文件及FPGA版本包括：

PC利用用例生成工具，生成包含參數(shù)配置文件、FPGA測試數(shù)據(jù)文件以及各個(gè)節(jié)點(diǎn)的CRC數(shù)據(jù)的FPGA測試文件；

PC將所述FPGA測試文件中的參數(shù)配置文件和FPGA測試數(shù)據(jù)文件，以及在測試單板上配置用于測試所述FPGA測試文件而配置的FPGA版本發(fā)送給測試單板。

優(yōu)選地，所述測試單板中的多個(gè)功能單元進(jìn)行測試，并將測試結(jié)果返回給所述PC包括：