[發(fā)明專利]一種杜絕偷電的單相液晶電表的控制方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201710002786.4
• 申請(qǐng)日: 2017-01-03
• 公開（公告）號(hào): CN106771440B
• 公開（公告）日: 2019-08-13
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 張涉應(yīng)
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 寧夏隆基寧光儀表股份有限公司
• 主分類號(hào): G01R11/04
• 分類號(hào): G01R11/04;G01R11/24;G01R11/25
• 代理公司: 杭州聚邦知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 33269
• 代理人: 周美鋒

1.一種杜絕偷電的單相液晶電表的控制方法，所述杜絕偷電的單相液晶電表，包括表殼、供市電接入的火線零線接線孔、安裝在表殼內(nèi)的微處理器以及與之連接的電源模塊、時(shí)鐘模塊、存儲(chǔ)模塊、電參數(shù)綜合檢測(cè)模塊、顯示模塊、通信模塊；其特征在于：在表殼內(nèi)設(shè)置有屏蔽罩，所述電源模塊、時(shí)鐘模塊、存儲(chǔ)模塊、電參數(shù)綜合檢測(cè)模塊、顯示模塊均安裝在屏蔽罩內(nèi)，通信模塊則位于屏蔽罩外、表殼內(nèi)；還包括自檢測(cè)模塊，包括并聯(lián)在火線零線之間的數(shù)字控制模擬開關(guān)、與數(shù)字控制模擬開關(guān)串聯(lián)的測(cè)試電阻，數(shù)字控制模擬開關(guān)的信號(hào)端與微處理器連接；所述電參數(shù)綜合檢測(cè)模塊包括火線和零線上分別設(shè)置的電子電流互感器和在火線零線之間設(shè)置的電子電壓互感器；所述屏蔽罩為金屬框架加附著在其上的金屬網(wǎng)構(gòu)成；所述屏蔽罩的材料為銅或鋁；所述微處理器通過(guò)散熱片與屏蔽罩相連，或者微處理器直接安裝在屏蔽罩內(nèi)表面上；所述自檢測(cè)模塊中還設(shè)置有與測(cè)試電阻串聯(lián)的LED燈，其安裝位置應(yīng)保證燈光能傳出表體被肉眼可見(jiàn)；

其特征在于，包括以下步驟：

1）正常工作

市電的火線零線通過(guò)接線孔進(jìn)入表殼，通過(guò)電參數(shù)綜合檢測(cè)模塊檢測(cè)出火線零線中的電流和二者之間的電壓，并傳輸給微處理器，配合時(shí)鐘模塊進(jìn)行用電量計(jì)算；

2）自判斷，發(fā)生異常自動(dòng)報(bào)警

①如果火線和零線的電流出現(xiàn)不同，以較大的為準(zhǔn)，并且微處理器發(fā)出一般警報(bào)信號(hào)，經(jīng)通信模塊發(fā)送到服務(wù)器；

②微處理器將電流和電壓波形與存儲(chǔ)模塊中的波形進(jìn)行比較，當(dāng)波形出現(xiàn)異常波動(dòng)時(shí)，則發(fā)出較高等級(jí)警報(bào)信號(hào)，經(jīng)通信模塊發(fā)送到服務(wù)器；

3）自檢測(cè)

①應(yīng)激自檢測(cè)

在2）中報(bào)警條件觸發(fā)時(shí)，微處理器自動(dòng)發(fā)出信號(hào)給數(shù)字控制模擬開關(guān)使之閉合，測(cè)試電阻接入電路，并且LED燈點(diǎn)亮可見(jiàn)，經(jīng)過(guò)指定時(shí)長(zhǎng)測(cè)試后數(shù)字控制模擬開關(guān)斷開，微處理器將測(cè)試過(guò)程中的波形和電參數(shù)與測(cè)試前進(jìn)行比較，發(fā)現(xiàn)異常則發(fā)出測(cè)試結(jié)果和高等級(jí)警報(bào)到服務(wù)器；

②主動(dòng)自檢測(cè)

在監(jiān)控人員或者現(xiàn)場(chǎng)人員發(fā)現(xiàn)某電表可疑時(shí)，可主動(dòng)通過(guò)服務(wù)器或手持儀器對(duì)通信模塊發(fā)出自檢測(cè)指令，微處理器發(fā)出信號(hào)給數(shù)字控制模擬開關(guān)使之閉合，測(cè)試電阻接入電路，并且LED燈點(diǎn)亮可見(jiàn)，經(jīng)過(guò)指定時(shí)長(zhǎng)測(cè)試后數(shù)字控制模擬開關(guān)斷開，微處理器將測(cè)試過(guò)程中的波形和電參數(shù)與測(cè)試前進(jìn)行比較，發(fā)現(xiàn)異常則發(fā)出測(cè)試結(jié)果和高等級(jí)警報(bào)到服務(wù)器；

③測(cè)試用電自動(dòng)扣除

因?yàn)棰佟ⅱ趦蓚€(gè)自檢測(cè)步驟中測(cè)試電阻本身會(huì)消耗電能，所以微處理器能自動(dòng)計(jì)算并扣減在測(cè)試過(guò)程中測(cè)試電阻發(fā)生的電能消耗。