[發明專利]觸摸顯示屏的測試方法和測試裝置

有效

• 申請號: 201710001678.5
• 申請日: 2017-01-03
• 公開（公告）號: CN106782244B
• 公開（公告）日: 2020-11-13
• 發明（設計）人: 王闊海;孫亮;徐洪亮;郭立勇;苗立彬;樊振寧
• 申請（專利權）人: 京東方科技集團股份有限公司;北京京東方光電科技有限公司
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00
• 代理公司: 北京風雅頌專利代理有限公司 11403
• 代理人: 李弘;楊紅梅

本發明公開了一種觸摸顯示屏的測試方法和測試裝置，所述方法包括：在觸摸顯示屏成盒階段的電學性能檢測過程中，一個檢測階段為所述顯示屏的柵極驅動電路提供直流信號使所述顯示屏的全部柵極同時打開，以檢測所述顯示屏的顯示不良現象。由于為觸摸顯示屏的柵極驅動電路提供直流信號，觸摸顯示屏的畫面將均勻顯示，Touch線消失，檢測人員可以免受Touch線的視覺干擾，從而大大提高檢測人員對顯示不良現象的視認性，從而有助提高觸摸顯示屏的不良檢出率。

技術領域

本發明涉及液晶觸摸屏技術領域，特別是指一種觸摸顯示屏的測試方法和測試裝置。

背景技術

TFT-LCD(Liquid Crystal Display-Thin Film Transistor，液晶顯示-薄膜晶體)是以液晶為介質、以薄膜晶體管為控制元件的集大規模半導體集成電路技術和平板光源技術于一體的光電子產品。隨著便攜式產品的觸摸面板功能的發展，將觸摸面板功能與液晶面板一體化的研究日漸盛行，將原本外置的觸摸面板部件與液晶面板實現一體化，可以進一步實現面板的薄型化和輕量化。

IN-CELL技術是指將觸摸面板功能嵌入到液晶像素中的方法。目前行業內的IN-CELL技術主要分為兩種，分別為Hybrid IN CELL(HIC，復合式IN-CELL)和FULL IN CELL(FIC，完全式IN-CELL)。其中，FIC被稱作“革命性IN-CELL”或者“真正”IN-CELL。

TFT-LCD Full In Cell Touch(內嵌式觸摸顯示)產品制造流程主要包括三部分：陣列(Array)工程，液晶成盒(Cell)工程和模組(Module)工程。Array工程主要是完成TFT玻璃基板的制備；Cell工程主要是液晶成盒工程；Module工程主要是在封口的液晶盒上綁定IC(芯片)和FPC(軟板)的工程，從而基本完成觸摸顯示產品的制造過程。

為保證產品質量，需要在產品生產過程中進行性能測試。在觸摸顯示屏的Cell工程之后的液晶成盒(Cell)階段進行測試可以篩選出不合格的顯示屏，避免這些顯示屏進入下一步Module工序而浪費IC等原材料。

目前，Cell階段的電學性能測試(ET)過程，主要是將成盒的觸摸顯示屏(或稱液晶盒)的GOA(Gate driver on Array，柵極驅動器陣列)引腳，即柵極驅動電路外接一個數字信號源，由數字信號源輸出測試時序進行檢測。如圖1所示，數字信號源分別向液晶盒GOA的STV1、STV2等引腳輸出時序交流信號。檢測人員觀察觸摸顯示屏的顯示情況，甄別出不合格產品。

然而，實際應用中，發明人發現利用現有的檢測方法，仍有部分不良品不能被檢出，這些未檢測出的不良品進入Module階段，成為成品后才被檢測出來，造成原材料浪費。本發明的發明人通過對現有測試方法進行分析，發現觸摸顯示屏成盒階段進行電學性能測試時，由于Full In Cell Touch產品其特有的設計方式，導致數字信號在經過SW(Switch，幀開關)后驅動能力減弱，從而顯示屏的畫面顯示出如圖2所示的橫紋，通常稱之為Touch(觸摸)線。由于Touch線的存在，干擾了檢測人員對點、線、污漬等常規不良現象的視認性，導致部分不良品不能被檢出。

發明內容

有鑒于此，本發明的目的在于提出一種觸摸顯示屏的測試方法和測試裝置，用以在成盒階段的電學性能測試過程中，提高對點、線、污漬等常規不良現象的視認性，有助提高觸摸顯示屏的不良檢出率。

基于上述目的本發明提供一種觸摸顯示屏的測試方法，包括：

在觸摸顯示屏成盒階段的電學性能檢測過程中，一個檢測階段為所述顯示屏的柵極驅動電路提供直流信號使所述顯示屏的全部柵極同時打開，以檢測所述顯示屏的顯示不良現象。

較佳地，在所述電學性能檢測過程中，還包括：

在另一個檢測階段為所述顯示屏的柵極驅動電路提供時序交流信號，以檢測所述顯示屏的柵極驅動器陣列GOA不良現象。