[發(fā)明專(zhuān)利]一種頻譜檢測(cè)裝置和檢測(cè)方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201680087599.4
• 申請(qǐng)日: 2016-07-11
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN109478929B
• 公開(kāi)（公告）日: 2021-01-29
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 余毅;盧彥兆;李良川
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 華為技術(shù)有限公司
• 主分類(lèi)號(hào): H04B10/079
• 分類(lèi)號(hào): H04B10/079
• 代理公司: 廣州三環(huán)專(zhuān)利商標(biāo)代理有限公司 44202
• 代理人: 郝傳鑫;熊永強(qiáng)

1.一種頻譜檢測(cè)裝置，其特征在于，包括：本振光激光器、相位調(diào)制器、第一分偏器、第二分偏器、第一光耦合器、第二光耦合器、接收機(jī)、功率檢測(cè)器以及控制器；

其中，所述本振光激光器、所述相位調(diào)制器和所述第二分偏器依次連接，所述第二分偏器和所述第一分偏器均分別與所述第一光耦合器和所述第二光耦合器連接，所述第一光耦合器和所述第二光耦合器與所述接收機(jī)連接，所述接收機(jī)、所述功率檢測(cè)器和所述控制器依次連接；

所述第一分偏器，用于將輸入的待檢測(cè)光分成第一待相干光和第二待相干光，以及將所述第一待相干光和所述第二待相干光分別輸出至所述第一光耦合器和所述第二光耦合器；

所述相位調(diào)制器，用于對(duì)所述本振光激光器發(fā)出的光進(jìn)行相位調(diào)制，得到本振調(diào)制光；

所述第二分偏器，用于將所述本振調(diào)制光分成第三待相干光和第四待相干光，以及將所述第三待相干光和所述第四待相干光分別輸出至所述第一光耦合器和所述第二光耦合器；

所述第一光耦合器，用于對(duì)所述第一待相干光和所述第三待相干光進(jìn)行相干得到輸出至所述接收機(jī)的第一輸入光和第二輸入光；

所述第二光耦合器，用于對(duì)所述第二待相干光和所述第四待相干光進(jìn)行相干得到輸出至所述接收機(jī)的第三輸入光和第四輸入光；

所述接收機(jī)，用于將輸入的光信號(hào)轉(zhuǎn)換為輸出至所述功率檢測(cè)器的電信號(hào)；

所述功率檢測(cè)器，用于對(duì)所述電信號(hào)進(jìn)行功率檢測(cè)；

所述控制器，用于根據(jù)所述功率檢測(cè)器的檢測(cè)結(jié)果計(jì)算所述待檢測(cè)光的功率；

所述接收機(jī)的帶寬小于所述待檢測(cè)光的帶寬。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的頻譜檢測(cè)裝置，其特征在于，所述接收機(jī)包括第一平衡接收機(jī)和第二平衡接收機(jī)，其中，所述第一光耦合器與所述第一平衡接收機(jī)連接，所述第二光耦合器與所述第二平衡接收機(jī)連接，所述第一輸入光和所述第二輸入光輸出至所述第一平衡接收機(jī)，所述第三輸入光和所述第四輸入光輸出至所述第二平衡接收機(jī)。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的頻譜檢測(cè)裝置，其特征在于，所述功率檢測(cè)器包括第一功率檢測(cè)器和第二功率檢測(cè)器，其中，所述第一平衡接收機(jī)與所述第一功率檢測(cè)器連接，所述第二平衡接收機(jī)與所述第二功率檢測(cè)器連接，所述第一功率檢測(cè)器和所述第二功率檢測(cè)器與所述控制器連接，所述第一平衡接收機(jī)用于將輸入的所述第一輸入光和所述第二輸入光轉(zhuǎn)換為輸出至所述第一功率檢測(cè)器的第一電信號(hào)，所述第一功率檢測(cè)器用于對(duì)所述第一電信號(hào)進(jìn)行功率檢測(cè)，所述第二平衡接收機(jī)用于將輸入的所述第三輸入光和所述第四輸入光轉(zhuǎn)換為輸出至所述第二功率檢測(cè)器的第二電信號(hào)，所述第二功率檢測(cè)器用于對(duì)所述第二電信號(hào)進(jìn)行功率檢測(cè)。

4.根據(jù)權(quán)利要求1-3任一項(xiàng)所述的頻譜檢測(cè)裝置，其特征在于，所述相位調(diào)制為相位差X的周期性相位調(diào)制，所述X的取值范圍為80°～100°。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的頻譜檢測(cè)裝置，其特征在于，所述本振調(diào)制光的偏振態(tài)與所述第二分偏器的偏振方向?qū)R。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的頻譜檢測(cè)裝置，其特征在于，所述功率檢測(cè)器的檢測(cè)時(shí)間為所述相位調(diào)制的周期的整數(shù)倍。

7.根據(jù)權(quán)利要求5或6所述的頻譜檢測(cè)裝置，其特征在于，所述相位調(diào)制器由所述控制器同步并驅(qū)動(dòng)控制。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的頻譜檢測(cè)裝置，其特征在于，所述控制器根據(jù)公式和所述功率檢測(cè)器的檢測(cè)結(jié)果計(jì)算所述待檢測(cè)光的功率；

所述公式為：

P(ω)＝A×P_s(ω)·P_LO(ω)

其中，所述P(ω)為所述接收機(jī)的輸出總功率，所述Ps是所述待檢測(cè)光功率；所述P_LO是所述本振激光器功率；所述ω為所述待檢測(cè)光的光譜頻率，所述A為功率系數(shù)。

9.一種檢測(cè)方法，頻譜檢測(cè)裝置包括本振光激光器、相位調(diào)制器、第一分偏器、第二分偏器、第一光耦合器、第二光耦合器、接收機(jī)、功率檢測(cè)器以及控制器，其特征在于，包括：

所述第一分偏器將輸入的待檢測(cè)光分成第一待相干光和第二待相干光，以及將所述第一待相干光和所述第二待相干光分別輸出至所述第一光耦合器和所述第二光耦合器；

所述相位調(diào)制器對(duì)所述本振光激光器發(fā)出的光進(jìn)行相位調(diào)制，得到本振調(diào)制光；

所述第二分偏器將所述本振調(diào)制光分成第三待相干光和第四待相干光，以及將所述第三待相干光和所述第四待相干光分別輸出至所述第一光耦合器和所述第二光耦合器；

所述第一光耦合器對(duì)所述第一待相干光和所述第三待相干光進(jìn)行相干得到輸出至所述接收機(jī)的第一輸入光和第二輸入光，所述第二光耦合器對(duì)所述第二待相干光和所述第四待相干光進(jìn)行相干得到輸出至所述接收機(jī)的第三輸入光和第四輸入光；

所述接收機(jī)將輸入的光信號(hào)轉(zhuǎn)換為輸出至所述功率檢測(cè)器的電信號(hào)，所述功率檢測(cè)器對(duì)所述電信號(hào)進(jìn)行功率檢測(cè)，所述控制器根據(jù)所述功率檢測(cè)器的檢測(cè)結(jié)果計(jì)算所述待檢測(cè)光的功率；

所述接收機(jī)的帶寬小于所述待檢測(cè)光的帶寬。