[發明專利]開閉蓋檢測裝置

有效

• 申請號: 201680086738.1
• 申請日: 2016-06-21
• 公開（公告）號: CN109312952B
• 公開（公告）日: 2021-05-07
• 發明（設計）人: 青島琢磨
• 申請（專利權）人: 三菱電機株式會社
• 主分類號: F24F11/89
• 分類號: F24F11/89
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 李洋;王培超

本發明的開閉蓋檢測裝置(102)具備：顯示基板(105)，其具有用于對開閉蓋(101)的收納位置進行檢測的傳感器(104)；以及控制基板，其與由顯示基板(105)所檢測出的開閉蓋(101)的收納位置對應地控制通氣口的開閉。

技術領域

本發明涉及對開閉蓋的開閉情況進行檢測的開閉蓋檢測裝置。

背景技術

在以往技術中，作為對門、門扇、面板以及卷簾門這樣的開閉蓋的開閉情況進行檢測的檢測控制，公知有使用了傳感器的電子電路裝置。開閉蓋的開閉是與傳感器所測定的測定值對應地檢測出的。

在以往技術中，公開如下的技術：使用對馬達的磁力進行檢測的磁阻元件來檢測對排出口進行開閉的門的位置(例如，參照專利文獻1)。

專利文獻1：日本特開昭61-276654號公報

然而，在以往技術中，連接有控制器，該控制器具有輸出與馬達的磁通的變化對應的電壓的磁阻元件以及對從磁阻元件輸出的電壓進行整形而生成脈沖信號的波形整形電路。因此，在以往技術中，各電子部件的布線數較多，用于布線的布線空間大型化。

發明內容

本發明是鑒于上述情況而完成的，其目的在于得到能夠抑制布線數的開閉蓋檢測裝置。

為了解決上述的課題并實現目的，本發明的開閉蓋檢測裝置具備：顯示基板，該顯示基板具有用于對開閉蓋的收納位置進行檢測的傳感器；以及控制基板，該控制基板與由第1傳感器檢測出的開閉蓋的收納位置對應地控制通氣口的開閉。

根據本發明，實現如下的效果，即：得到能夠抑制布線數的開閉蓋檢測裝置。

附圖說明

圖1是示出具備實施方式1的開閉蓋檢測裝置的檢測對象設備的立體圖。

圖2是示出實施方式1的檢測對象設備的開閉蓋的閉口時和開口時的動作的圖。

圖3是示出圖2所示的剖面III-III的開閉蓋檢測裝置的放大剖面的圖。

圖4是示出圖2所示的剖面IV-IV的檢測對象設備的剖面的圖。

圖5是示出實施方式1的傳感器與檢測對象部件的配置關系的圖。

圖6是示出具備實施方式1的變形例的開閉蓋檢測裝置的檢測對象設備的圖。

圖7是示出圖6所示的剖面VI-VI的檢測對象設備的剖面的圖。

圖8是示出實施方式2的第1傳感器、第2傳感器、第1檢測對象部件以及第2檢測對象部件的配置關系的圖。

圖9是示出具備實施方式3的開閉蓋檢測裝置的檢測對象設備的圖。

圖10是示出圖9所示的剖面VIII-VIII的檢測對象設備的剖面的圖。

圖11是示出實施方式3的第1傳感器、第2傳感器以及第1檢測對象部件的配置關系的圖。

圖12是示出實施方式3的開閉蓋檢測裝置所具備的顯示基板的圖。

圖13是示出圖12所示的剖面X-X的顯示基板的剖面的圖。

具體實施方式

以下，基于附圖對本發明的實施方式的開閉蓋檢測裝置詳細地進行說明。另外，本發明不限于本實施方式。

實施方式1.