[發明專利]色譜數據處理方法以及色譜數據處理裝置有效
| 申請號: | 201680083134.1 | 申請日: | 2016-01-06 |
| 公開(公告)號: | CN108780074B | 公開(公告)日: | 2021-03-02 |
| 發明(設計)人: | 野田陽 | 申請(專利權)人: | 株式會社島津制作所 |
| 主分類號: | G01N30/86 | 分類號: | G01N30/86 |
| 代理公司: | 上海立群專利代理事務所(普通合伙) 31291 | 代理人: | 楊楷;毛立群 |
| 地址: | 日本國*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 色譜 數據處理 方法 以及 裝置 | ||
色譜數據處理方法以及色譜數據處理裝置,提取在基于處理對象即觀測數據的色譜上檢測的各峰的波長光譜,制作將其強度值歸一化的光譜集合。然后,選擇其中一個波長光譜,并以與該光譜的向量方向正交的方式,對基于觀測數據的在各測量時間點的波長光譜的向量進行投影。此外,對集合內的各波長光譜的向量也同樣地投影。由此,選擇的光譜從集合消失。然后,重復上述處理,直到集合內光譜消失,合計所得到的信號。合計后的信號變成表示未知的基線的波形形狀的信號,因此通過將其與從觀測數據得到的每個波長的色譜進行擬合求出基線的光譜,根據該基線光譜與基線色譜計算每個波長的基線信號。由此,無需用戶進行參數的設定等,能夠自動推定基線。
技術領域
本發明涉及對三維色譜數據進行處理的色譜數據處理方法以及色譜數據處理裝置,更詳細而言,涉及用于推定色譜的基線或獲取從色譜去除基線后的峰色譜的色譜數據處理方法以及裝置,所述三維色譜數據是通過將光電二極管陣列(PDA)檢測器等的多通道型檢測器或質譜儀用作檢測器的液相色譜儀(LC)或氣相色譜儀(GC)收集的、除了時間、信號強度以外還具有波長或質荷比等的其他參數。
背景技術
在使用了PDA檢測器等的多通道型檢測器的LC中,將向流動相注入試樣的注入時間點作為基點,相對于從色譜柱出口洗脫的試樣液重復獲取規定波長范圍內的吸收光譜,由此能夠得到具有時間、波長以及吸光度(信號強度)這三個維度的三維色譜數據。此外,在液相色譜質譜儀 (LC-MS)或氣相色譜質譜儀(GC-MS)中,通過在質譜儀中重復進行規定的質荷比范圍內的掃描測量,能夠得到具有時間、質荷比以及信號強度(離子強度)這三個維度的三維色譜數據。
圖2(a)是由上述LC得到的三維色譜數據的概念圖。通過從這樣的三維色譜數據提取在特定波長(例如,波長λ0)的時間方向上的吸光度數據,能夠制作如圖2(b)所示的在該波長λ0中的色譜(以下稱為“波長色譜”)。此外,通過從三維色譜數據提取在特定的測量時刻(例如時刻tp)的波長方向上的吸光度數據,能夠制作該時刻tp的吸收光譜。
在基于這樣的色譜數據而對試樣所包含的已知的化合物進行定量的情況下,通常,制作該目標化合物對光的吸收最大地顯現的吸收波長的波長色譜。然后,在該波長色譜上找出來自目標化合物的峰,計算該峰的面積值,并與預先求出了其面積值的標準曲線進行對照,計算定量值。因此,為了進行準確的定量,重要的是在色譜上精度良好地求出與目標化合物相對應的峰的面積值。
然而,一般來說,波長色譜上存在來自流動相等的基線。此外,也存在來自目標化合物的峰與來自其它化合物的峰重疊的情況。因此,為了準確地求出與目標化合物相對應的峰面積值,需要準確地推定來自流動相等的基線并找出去除了該基線的影響的、真正的峰區域。
用于LC系統的一般的數據處理裝置,具備基于由測量得到的色譜波形而自動地推定基線的峰波形處理功能。然而,在自動的波形處理中,無法根據色譜波形的形狀而推定適當的基線的情況也較多。因此,如非專利文獻1所公開的那樣,在以往的數據處理裝置中,用戶通過手動適當地改變或設定波形處理的參數或適用的波形處理的算法,由此能夠推定更適當的基線。
圖8是表示基于非專利文獻1記載的波形處理,根據色譜波形推定的基線以及峰P的面積值計算對象區域(圖中用斜線所示區域)的一例的圖。在圖8中,(a)是在去除負峰之后將信號零電平作為基線將峰垂直分割的例子,(b)是將各峰的底部之間用直線連接而作為基線的例子, (c)是將各峰的底部之間用曲線連接而作為基線的例子。根據這些例子可知,峰面積值因基線的繪制方法而大不相同。
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