[發(fā)明專利]用于測(cè)試電路的系統(tǒng)和診斷測(cè)量方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201680078186.X | 申請(qǐng)日: | 2016-11-04 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN108603845B | 公開(kāi)(公告)日: | 2019-12-03 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | C.內(nèi)米羅;N.萊斯利 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | FEI公司 |
| 主分類號(hào): | G01N21/88 | 分類號(hào): | G01N21/88;G01R31/317;H01L21/66 |
| 代理公司: | 72001 中國(guó)專利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 張健;申屠偉進(jìn)<國(guó)際申請(qǐng)>=PCT/US |
| 地址: | 美國(guó)俄*** | 國(guó)省代碼: | 美國(guó);US |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 測(cè)試信號(hào) 映射 選通 刺激 響應(yīng) 集成電路 數(shù)字化 激光掃描顯微鏡 計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì) 單次掃描 給定周期 激光電壓 記錄波形 位置處 成像 調(diào)試 重復(fù) | ||
1.一種用于測(cè)試電路的系統(tǒng),包括:
測(cè)試循環(huán)生成器,被配置為向電路供應(yīng)測(cè)試循環(huán)信號(hào),其中測(cè)試循環(huán)信號(hào)包括重復(fù)每個(gè)測(cè)試循環(huán)周期的刺激信號(hào);
激光源;
第一光學(xué)器件,被配置為將來(lái)自激光源的連續(xù)波激光束引導(dǎo)到電路上;
傳感器,被配置為檢測(cè)來(lái)自電路的反射激光光并響應(yīng)于其生成傳感器輸出;和
高速數(shù)字信號(hào)平均器,被配置為基于傳感器輸出和同步信號(hào)生成數(shù)字輸出信號(hào),其中高速數(shù)字信號(hào)平均器針對(duì)連續(xù)波激光束的光柵掃描的每個(gè)位置生成數(shù)字輸出信號(hào)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng),其中第一光學(xué)器件包括激光掃描顯微鏡(LSM),所述激光掃描顯微鏡被配置為跨電路的區(qū)域光柵掃描所述連續(xù)波激光束以產(chǎn)生所述光柵掃描。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的系統(tǒng),其中傳感器輸出包括直流(DC)分量和交流(AC)分量。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的系統(tǒng),其中AC分量對(duì)應(yīng)于電路對(duì)測(cè)試循環(huán)信號(hào)的響應(yīng)信號(hào)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng),還包括被配置為針對(duì)每個(gè)位置存儲(chǔ)數(shù)字輸出信號(hào)的存儲(chǔ)器。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng),其中數(shù)字輸出信號(hào)在每個(gè)位置處基于在多個(gè)完整測(cè)試循環(huán)周期內(nèi)的由刺激信號(hào)所產(chǎn)生的傳感器輸出的AC分量。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的系統(tǒng),還包括被配置為針對(duì)每個(gè)位置存儲(chǔ)數(shù)字輸出信號(hào)的存儲(chǔ)器。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng),其中高速數(shù)字信號(hào)平均器被配置為接收選通信號(hào),其中選通信號(hào)定義小于測(cè)試循環(huán)周期的至少一個(gè)選通周期。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的系統(tǒng),其中數(shù)字輸出信號(hào)在每個(gè)位置處基于在多個(gè)測(cè)試循環(huán)周期內(nèi)的選通周期期間的由刺激信號(hào)所產(chǎn)生的傳感器輸出的AC分量。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的系統(tǒng),還包括被配置為存儲(chǔ)數(shù)字輸出信號(hào)的存儲(chǔ)器。
11.根據(jù)權(quán)利要求3所述的系統(tǒng),其中DC分量對(duì)應(yīng)于LSM圖像。
12.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng),其中高速數(shù)字信號(hào)平均器包括高速積分器電路。
13.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng),其中同步信號(hào)包括來(lái)自測(cè)試循環(huán)生成器的信號(hào)。
14.根據(jù)權(quán)利要求11所述的系統(tǒng),其中同步信號(hào)包括來(lái)自LSM的像素時(shí)鐘。
15.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng),其中高速數(shù)字信號(hào)平均器生成波形映射圖,并且其中所述波形映射圖的每個(gè)像素可被擴(kuò)展以揭示在該位置處獲取的波形。
16.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng),還包括第二光學(xué)器件,所述第二光學(xué)器件被配置為收集來(lái)自電路的反射激光光。
17.一種用于測(cè)試電路的系統(tǒng),包括:
測(cè)試循環(huán)生成器,被配置為向電路供應(yīng)測(cè)試循環(huán)信號(hào),其中測(cè)試循環(huán)信號(hào)包括重復(fù)每個(gè)測(cè)試循環(huán)周期的刺激信號(hào);
激光源;
第一光學(xué)器件,被配置為將來(lái)自激光源的激光束引導(dǎo)到電路上;
傳感器,被配置為檢測(cè)來(lái)自電路的反射激光光并響應(yīng)于其生成傳感器輸出;
高速數(shù)字信號(hào)平均器,被配置為基于傳感器輸出和同步信號(hào)生成數(shù)字輸出信號(hào);和
選通生成器電路,所述選通生成器電路電耦合到高速信號(hào)平均器并且被配置為輸出具有選通開(kāi)始時(shí)間和選通持續(xù)時(shí)間的選通信號(hào),其中所述持續(xù)時(shí)間小于測(cè)試循環(huán)周期。
18.根據(jù)權(quán)利要求17所述的系統(tǒng),其中數(shù)字輸出信號(hào)還基于選通信號(hào)。
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G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
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