[發明專利]試樣分析用基板、試樣分析裝置、試樣分析系統和記錄介質

有效

• 申請號: 201680076630.4
• 申請日: 2016-12-22
• 公開（公告）號: CN108431610B
• 公開（公告）日: 2022-04-05
• 發明（設計）人: 岡本房俊;城野政博
• 申請（專利權）人: 普和希控股公司
• 主分類號: G01N35/00
• 分類號: G01N35/00;G01N33/543;G01N37/00
• 代理公司: 北京市中咨律師事務所 11247
• 代理人: 段承恩;楊光軍

1.一種試樣分析用基板，是通過旋轉運動進行液體的移送的試樣分析用基板，具備清洗液、基板、第1保持室、反應室、第1流路、主室、第2流路和磁石收納室，

所述基板具有旋轉軸，

所述第1保持室位于所述基板內，具有用于保持清洗液的第1空間，

所述反應室位于所述基板內，具有用于保持包含檢體的液體試樣的空間，

所述第1流路位于所述基板內，具有第1開口和第2開口，所述第1開口和所述第2開口分別與所述第1保持室和所述反應室連接，

所述主室位于所述基板內，具有用于保持所述包含檢體的液體試樣和表面固定有配體的磁性粒子的空間，

所述第2流路位于所述基板內，具有第3開口和第4開口，所述第3開口和所述第4開口分別與所述反應室和所述主室連接，

所述磁石收納室位于所述基板內，能夠收納磁石，

所述第1開口位于比所述第2開口靠近所述旋轉軸的一側，

所述第2開口位于比所述第3開口靠近所述旋轉軸的一側，

所述磁石收納室配置于，在所述磁石收納室收納有磁石的情況下，能夠通過所述磁石將所述主室中的所述磁性粒子捕捉到所述主室內的位置，

所述反應室包含非毛細管空間和毛細管空間，

所述第2開口與所述非毛細管空間相接，

所述第3開口與所述毛細管空間相接，

所述反應室包含第1部分和第2部分，

所述基板具有位于所述反應室的所述第1部分與所述第2部分之間的壁部分，

所述壁部分在朝向所述旋轉軸的方向上形成凸部，

在所述第1部分和所述第2部分中，所述毛細管空間的一部分和所述非毛細管空間的一部分分別位于比圓弧遠的一側，所述圓弧以將所述壁部分的最接近所述旋轉軸的點與所述旋轉軸連結的線段為半徑。

2.根據權利要求1所述的試樣分析用基板，還具備配置在所述反應室的空間內的干燥劑，

所述干燥劑包含所述磁性粒子。

3.根據權利要求1或2所述的試樣分析用基板，

所述反應室包含非毛細管空間。

4.根據權利要求1或2所述的試樣分析用基板，

所述反應室包含毛細管空間。

5.根據權利要求1所述的試樣分析用基板，

所述非毛細管空間具有比所述毛細管空間接近旋轉軸的部分。

6.根據權利要求1所述的試樣分析用基板，

將所述第1部分與所述第2部分連接的所述毛細管空間的一部分，位于在所述第1部分側的所述壁部分的一部分或全部。

7.根據權利要求1或2所述的試樣分析用基板，還具備回收室和第3流路，

所述回收室位于所述基板內，具有空間，

所述第3流路位于所述基板內，具有第5開口和第6開口，所述第5開口和所述第6開口分別與所述主室和所述回收室連接，

所述第5開口位于比所述第6開口接近所述旋轉軸的位置。

8.根據權利要求1或2所述的試樣分析用基板，

所述第1流路是非毛細管路。

9.根據權利要求8所述的試樣分析用基板，

所述第1保持室具有距離所述旋轉軸最遠的最外周側面、和與所述最外周側面相鄰的相鄰側面，

由所述最外周側面和所述相鄰側面形成凹部，

在以預定的角度位置保持所述試樣分析用基板的情況下，在所述凹部保持所述清洗液。

10.根據權利要求1或2所述的試樣分析用基板，

所述第1流路是毛細管路。

11.根據權利要求10所述的試樣分析用基板，

所述第1流路具有虹吸結構。

12.根據權利要求10所述的試樣分析用基板，

所述第1流路的一部分隔著所述第1開口位于比所述第1保持室的一部分接近所述旋轉軸的位置。