[發明專利]用于測量觸摸輸入設備中的觸摸壓力強度的方法以及用于檢測觸摸壓力強度的觸摸輸入設備

在審

• 申請號: 201680074260.0
• 申請日: 2016-12-06
• 公開（公告）號: CN108369469A
• 公開（公告）日: 2018-08-03
• 發明（設計）人: 南盛植;金真泰
• 申請（專利權）人: 麥孚斯公司
• 主分類號: G06F3/041
• 分類號: G06F3/041;G06F3/044
• 代理公司: 北京英賽嘉華知識產權代理有限責任公司 11204
• 代理人: 王達佐;王艷春

1.測量觸摸輸入設備中的觸摸壓力強度的方法，所述方法包括：

通過所述觸摸輸入設備感測經由觸摸面板的觸摸輸入；

通過所述觸摸輸入設備確定所述觸摸輸入在所述觸摸面板上的位置；

通過所述觸摸輸入設備測量電容根據所述觸摸輸入的變化量；

通過所述觸摸輸入設備根據觸摸輸入位置補償電容的變化量；以及

通過所述觸摸輸入設備基于所補償的電容的變化量來測量根據所述觸摸輸入的壓力強度。

2.如權利要求1所述的方法，其中，所述觸摸輸入設備通過使用存儲有根據所述觸摸輸入位置對測量值進行補償的數據的表來補償電容的變化量。

3.如權利要求1所述的方法，其中，所述觸摸輸入設備通過使用補償函數來補償電容的變化量，所述補償函數將所述觸摸輸入位置用作參數。

4.如權利要求1所述的方法，其中，所述觸摸輸入設備進行補償以使得：對于相同的電容，位于所述觸摸面板的邊緣區域中的觸摸輸入的電容的變化量比位于所述觸摸面板的中央區域中的觸摸輸入的電容的變化量大。

5.如權利要求1所述的方法，其中，所述觸摸輸入設備將所述觸摸面板上的區域分割成多個子區域并進行補償，以使得：對于相同的電容，針對位于所述多個子區域上的觸摸輸入，電容的變化量彼此不同。

6.如權利要求1所述的方法，還包括：通過所述觸摸輸入設備測量參考電容，所述參考電容是沒有觸摸輸入的狀態下的電容。

7.如權利要求6所述的方法，其中，當在所述觸摸面板上的特定位置處所測量的參考電容不等于先前測量的參考電容時，所述觸摸輸入設備根據與所述參考電容的差異來校正用于補償電容的變化量的函數或補償表。

8.觸摸輸入設備，配置成感測觸摸壓力強度，包括：

第一電極層，包括第一電極；

第二電極層，包括第二電極；

分隔層，位于所述第一電極層與所述第二電極層之間；以及

控制器電路，配置成測量電容根據所述第一電極層與所述第二電極層之間的距離變化的變化量，并且根據觸摸輸入位置來補償電容的變化量。

9.如權利要求8所述的觸摸輸入設備，還包括存儲器，所述存儲器存儲表，所述表配置成存儲根據所述觸摸輸入位置對測量值進行補償的數據，

其中，所述控制器電路通過使用所述表來根據所述觸摸輸入位置補償電容的變化量。

10.如權利要求8所述的觸摸輸入設備，其中，所述控制器電路通過使用補償函數來補償電容的變化量，所述補償函數將所述觸摸輸入位置用作參數。

11.如權利要求8所述的觸摸輸入設備，其中，所述控制器電路將所述觸摸面板上的區域分割成多個子區域并進行補償，以使得對于相同的電容，針對位于所述多個子區域上的觸摸輸入，電容的變化量彼此不同。

12.如權利要求8所述的觸摸輸入設備，其中，所述控制器電路測量參考電容并將所測量的參考電容存儲在存儲器中，所述參考電容是沒有觸摸輸入的狀態下的電容。

13.如權利要求12所述的觸摸輸入設備，其中，當在所述觸摸面板上的特定位置處所測量的參考電容不等于先前測量的參考電容時，所述控制器電路根據與所述參考電容的差異來校正用于補償電容的變化量的函數或補償表。