[發明專利]使用靜電夾盤夾持及解夾持基板的方法及裝置在審
| 申請號: | 201680072132.2 | 申請日: | 2016-12-05 |
| 公開(公告)號: | CN108369921A | 公開(公告)日: | 2018-08-03 |
| 發明(設計)人: | Z·J·葉;塙廣二;J·C·羅查-阿爾瓦雷斯;P·曼納;M·W·蔣;A·高;王文佼;林永景;P·K·庫爾施拉希薩;韓新海;金柏涵;K·D·李;K·T·納拉辛哈;段子青;D·帕德希 | 申請(專利權)人: | 應用材料公司 |
| 主分類號: | H01L21/683 | 分類號: | H01L21/683;H05H1/46;H01J49/10;H01L21/687 |
| 代理公司: | 上海專利商標事務所有限公司 31100 | 代理人: | 汪駿飛;侯穎媖 |
| 地址: | 美國加利*** | 國省代碼: | 美國;US |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 電路 陶瓷主體 上表面 靜電夾盤 電極 基板支撐組件 夾緊電路 圓柱側壁 下表面 真空處理腔室 處理基板 夾持基板 支撐基板 電連接 電耦合 上碟形 夾持 界定 配置 | ||
1.一種基板支撐組件,包含:
實質上碟形的陶瓷主體,所述陶瓷主體具有上表面、圓柱側壁以及下表面,所述上表面經配置以在真空處理腔室中在所述上表面上支撐基板,所述圓柱側壁界定所述陶瓷主體的外直徑,所述下表面與所述上表面相對地設置;
電極,所述電極設置于所述陶瓷主體中;以及
主電路,所述主電路電連接至所述電極并經配置以向所述電極提供夾緊電壓,所述主電路包含:
DC夾緊電路;
第一RF驅動電路;以及
第二RF驅動電路,其中所述DC夾緊電路、所述第一RF驅動電路以及所述第二RF驅動電路一起與所述電極電耦合。
2.如權利要求1所述的基板支撐組件,其中所述主電路進一步包含:
第三RF負載電路。
3.如權利要求1所述的基板支撐組件,其中所述第一RF驅動電路包含:
高通濾波器;以及
RF驅動器。
4.如權利要求3所述的基板支撐組件,其中所述第二RF驅動電路可操作為以約2MHz提供RF功率,且所述第一RF驅動電路可操作為以約13.56MHz提供RF功率。
5.一種處理腔室,包含:
主體,所述主體具有圍繞內部體積的壁與蓋;以及
基板支撐組件,所述基板支撐組件在所述內部體積中設置在所述蓋上,所述基板支撐組件包含:
實質上碟形的陶瓷主體,所述陶瓷主體具有上表面、圓柱側壁以及下表面,所述上表面經配置以在真空處理腔室中在所述上表面上支撐基板,所述圓柱側壁界定所述陶瓷主體的外直徑,所述下表面與所述上表面相對地設置;
底部電極,所述底部電極設置于所述陶瓷主體中;以及
主電路,所述主電路電連接至所述底部電極,所述電路包含:
DC夾緊電路;
第一RF驅動電路;以及
第二RF驅動電路,其中所述DC夾緊電路、所述第一RF驅動電路以及所述第二RF驅動電路一起與所述電極電耦合。
6.如權利要求5所述的處理腔室,其中所述頂部電極與所述底部電極形成電容耦合的等離子體產生器。
7.如權利要求6所述的處理腔室,所述處理腔室進一步包含:
用于驅動所述頂部電極的第一頂部電路。
8.如權利要求7所述的處理腔室,所述處理腔室進一步包含:
用于驅動所述頂部電極的第二頂部電路。
9.如權利要求8所述的處理腔室,其中所述第二頂部電路可操作為以約400KHz將RF功率提供至所述頂部電極,且所述第一頂部電路可操作為以約27MHz將RF功率提供至所述頂部電極。
10.如權利要求5所述的處理腔室,其中所述第二RF驅動電路可操作為以約2MHz提供RF功率,且所述第一RF驅動電路可操作為以約13.56MHz提供RF功率。
11.如權利要求10所述的處理腔室,其中所述主電路進一步包含:
第三RF負載電路。
12.如權利要求5所述的處理腔室,其中所述第一RF驅動電路包含:
高通濾波器;以及
RF驅動器。
13.一種用于構建ESC的方法,所述方法包含:
在ESC的材料塊內插入金屬電極,其中所述金屬電極具有與所述ESC的基板支撐表面相當的尺寸,且所述金屬電極實質上平行于所述基板支撐表面;以及
經由電路將所述金屬電極連接至DC電源供應器,所述DC電源供應器在所述電極處提供電荷,其中來自所述電極的電荷經由所述材料轉移至所述ESC的所述基板支撐表面,且其中所述電路為閉環電路系統,所述閉環電路系統經配置以將夾緊電壓與電荷供應至所述金屬電極。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





