[發明專利]測定用光學裝置

有效

• 申請號: 201680069698.X
• 申請日: 2016-11-22
• 公開（公告）號: CN108291839B
• 公開（公告）日: 2021-07-13
• 發明（設計）人: 門脅豊;小坂明
• 申請（專利權）人: 柯尼卡美能達株式會社
• 主分類號: G01J3/50
• 分類號: G01J3/50;G01J1/02
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所 11105
• 代理人: 張思寶

1.一種測定用光學裝置，其特征在于，具有：

入射部，其使來自被測定物的光入射；

光電轉換部，其將接收到的光轉換為電信號；

導光部，其將通過所述入射部入射的光引導至所述光電轉換部；

安裝第一電子器件的第一基板及安裝第二電子器件的第二基板，其配置在所述導光部的光軸的周圍，并且以所述導光部的所述第一基板側的溫度分布與所述第二基板側的溫度分布繞所述導光部的光軸對稱的方式在周向上彼此錯開地配置。

2.如權利要求1所述的測定用光學裝置，其特征在于，

在從通過所述入射部入射的光的光軸方向觀察的情況下，所述第一基板及所述第二基板隔著所述導光部彼此相對地配置。

3.如權利要求1或2所述的測定用光學裝置，其特征在于，

在所述第一基板上，作為所述第一電子器件，安裝有控制測定用光學裝置的測定動作的控制部，

在所述第二基板上，作為所述第二電子器件，安裝有對從外部供給的電力進行變壓的電源部。

4.如權利要求1或2所述的測定用光學裝置，其特征在于，

所述導光部包含光纖和保護部件，所述光纖使光傳播，所述保護部件以覆蓋所述光纖的方式設置，保護所述光纖。

5.如權利要求4所述的測定用光學裝置，其特征在于，

在所述光纖與所述保護部件之間形成有空氣層。

6.如權利要求4所述的測定用光學裝置，其特征在于，

所述保護部件由金屬形成，將熱量在所述光纖的周向上傳導。

7.如權利要求4所述的測定用光學裝置，其特征在于，

所述保護部件由絕熱材料形成。

8.如權利要求1或2所述的測定用光學裝置，其特征在于，

所述導光部在通過所述入射部入射的光的光軸方向上具有與所述入射部相對的第一相對面和與所述光電轉換部相對的第二相對面，

所述第一基板及所述第二基板在通過所述入射部入射的光的光軸方向上配置在所述第一相對面與所述第二相對面之間。