[發明專利]測定熔融爐中的電極長度

在審

• 申請號: 201680065003.0
• 申請日: 2016-11-03
• 公開（公告）號: CN108291779A
• 公開（公告）日: 2018-07-17
• 發明（設計）人: R·E·弗雷利;W·B·馬汀格力三世;S·Y·波塔潘科
• 申請（專利權）人: 康寧股份有限公司
• 主分類號: F27D21/04
• 分類號: F27D21/04;F27D21/00;F27D21/02;F27D11/10
• 代理公司: 上海專利商標事務所有限公司 31100
• 代理人: 高宏偉;樂洪詠

1.一種為用于熔化批料的設備指示電極長度的方法，所述方法包括：

使用第一溫度傳感器提供第一信號，所述第一信號指示沿著所述電極定位的第一溫度測量點處的溫度；

使用第二溫度傳感器提供第二信號，所述第二信號指示沿著所述電極定位的第二溫度測量點處的溫度；以及

基于所述第一信號和所述第二信號測定到達所述電極的熱面的電極長度。

2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，還包括測量模塊，所述測量模塊接收指示所述第一溫度測量點處溫度的所述第一信號和指示所述第二溫度測量點處溫度的所述第二信號，并且基于所述第一信號和所述第二信號測定到達所述電極的所述熱面的電極長度。

3.如權利要求2所述的方法，其特征在于，所述測量模塊基于所述第一溫度測量點和所述第二溫度測量點的位置信息來測量到達所述電極的所述熱面的電極長度。

4.如權利要求3所述的方法，其特征在于，所述測量模塊基于所述電極的所述熱面處的溫度信息來測量到達所述電極的所述熱面的電極長度。

5.如權利要求4所述的方法，其特征在于，所述測量模塊基于形成電極的材料的熱導率隨溫度而變化的信息來測量到達所述電極的所述熱面的電極長度。

6.如權利要求2所述的方法，其特征在于，還包括將所述第一溫度測量點和所述第二溫度測量點的位置信息輸入所述測量模塊的存儲器中。

7.如權利要求1所述的方法，其特征在于，還包括：

將所述第一溫度傳感器插入所述電極中，以限定所述第一溫度測量點；以及

將所述第二溫度傳感器插入所述電極中，以限定所述第二溫度測量點。

8.如權利要求1所述的方法，其特征在于，還包括：

使用第三溫度傳感器提供第三信號，所述第三信號指示沿著所述電極定位的第三溫度測量點處的溫度；以及

基于所述第一信號、所述第二信號和所述第三信號測定到達所述電極的所述熱面的電極長度。

9.如權利要求1所述的方法，其特征在于，基于所述第一信號和第二信號來測定到達所述電極的所述熱面的電極長度的步驟使用形成所述電極的材料的熱導率。

10.一種用于熔化批料的設備，所述設備包含：

容器；

電極，所述電極位于所述容器中，且具有沿著所述電極的熱面與冷面之間的軸測得的電極長度；以及

熱長度測量組裝件，所述熱長度測量組裝件包含：

第一溫度傳感器，所述第一溫度傳感器排列和配置成提供指示沿著所述電極定位的第一溫度測量點處的溫度的第一信號；以及

第二溫度傳感器，所述第二溫度傳感器排列和配置成提供指示沿著所述電極定位的第二溫度測量點處的溫度的第二信號，所述第一信號和所述第二信號用于測定所述電極長度。

11.如權利要求10所述的設備，其特征在于，還包含測量模塊，所述測量模塊包含接收指示所述第一溫度測量點處溫度的所述第一信號和指示所述第二溫度測量點處溫度的所述第二信號的處理器，所述測量模塊包含可由所述處理器執行的邏輯，所述邏輯基于指示溫度的所述第一信號和所述第二信號來測定所述電極長度。

12.如權利要求11所述的設備，其特征在于，所述測量模塊包含將所述第一溫度測量點和所述第二溫度測量點的位置信息儲存在存儲器中的存儲器組件。

13.如權利要求10所述的設備，其特征在于，還包含在所述電極周圍提供的隔熱體。

14.如權利要求10所述的設備，其特征在于，所述電極的寬度大于所述電極的初始長度。