[發明專利]確定輸入裝置內的介電層的厚度分布的裝置、方法和系統

有效

• 申請號: 201680064601.6
• 申請日: 2016-11-10
• 公開（公告）號: CN108351725B
• 公開（公告）日: 2021-04-02
• 發明（設計）人: P.謝佩列夫
• 申請（專利權）人: 辛納普蒂克斯公司
• 主分類號: G06F3/041
• 分類號: G06F3/041;G06F3/044
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 俞華梁;鄭冀之

1.一種輸入裝置，包括：

與導電參考元件附連的感測組件，所述感測組件包括與所述導電參考元件電容性耦合的多個傳感器電極并限定表面；

切換元件，配置成將所述導電參考元件與多個參考電壓中所選的一個參考電壓耦合；以及

處理系統，配置成：

在所述切換元件將所述導電參考元件與所述多個參考電壓中的第一參考電壓耦合時，使用所述多個傳感器電極獲取基線電容性測量結果，以及

在所述切換元件將所述導電參考元件與所述多個參考電壓中的第二參考電壓耦合時，以及基于所述基線電容性測量結果，使用所述多個傳感器電極執行電容性感測，以由此確定響應于施加到所述表面的力的所述感測組件的偏移。

2.如權利要求1所述的輸入裝置，還包括：

殼體組件，與所述感測組件附連并具有與所述導電參考元件的預定布置；

其中所述感測組件延伸到限定在所述感測組件的頂部層與所述殼體組件之間的體積中，其中所述處理系統還配置成：

基于所述基線電容性測量結果，確定設置在所述感測組件與所述導電參考元件之間的所述體積內的介電層的多個厚度值。

3.如權利要求2所述的輸入裝置，其中所述介電層包括分離所述感測組件與所述導電參考元件的空氣間隙。

4.如權利要求2所述的輸入裝置，其中所述殼體組件的殼體元件包括所述導電參考元件。

5.如權利要求1所述的輸入裝置，其中所述切換元件由所述處理系統操作。

6.如權利要求1所述的輸入裝置，其中所述第二參考電壓包括接地。

7.如權利要求1所述的輸入裝置，其中所述第一參考電壓包括接地、浮置電壓和保護信號之一。

8.如權利要求1所述的輸入裝置，其中所述感測組件還包括多個顯示電極，其中所述多個傳感器電極中的至少一個包括所述多個顯示電極中的至少一個。

9.一種結合輸入裝置而執行的方法，所述輸入裝置包括與導電參考元件附連的感測組件，所述感測組件包括與所述導電參考元件電容性耦合的多個傳感器電極，所述方法包括：

在所述導電參考元件與第一參考電壓耦合時，使用所述多個傳感器電極獲取第一電容性測量結果；

在所述導電參考元件與不同于所述第一參考電壓的第二參考電壓耦合時，使用所述多個傳感器電極獲取第二電容性測量結果；以及基于所述第一電容性測量結果和所述第二電容性測量結果，確定設置在所述感測組件與所述導電參考元件之間的介電層的厚度分布。

10.如權利要求9所述的方法，其中所述感測組件限定表面，所述方法還包括：

基于所確定的厚度分布，確定施加到所述表面的力。

11.如權利要求9所述的方法，其中所述輸入裝置包括與所述感測組件附連的并具有與所述導電參考元件的預定布置的殼體組件，其中所述殼體組件的殼體元件包括所述導電參考元件。

12.如權利要求9所述的方法，其中外部裝置通過切換元件將所述導電參考元件與所述第一參考電壓和所述第二參考電壓中所選的一個參考電壓耦合，所述方法還包括：

接收指示所述切換元件的狀態的信號。

13.如權利要求9所述的方法，其中所述輸入裝置還包括與所述多個傳感器電極耦合的處理系統以及切換元件，其中所述處理系統：

在用于使用所述多個傳感器電極執行接近感測的第一預定處理模式內，操作所述切換元件，其處于將所述導電參考元件與所述第一參考電壓耦合的第一預定切換狀態中；以及

在用于獲取所述介電層的厚度測量結果的第二預定處理模式內，操作所述切換元件，其處于將所述導電參考元件與所述第二參考電壓耦合的第二預定切換狀態中。