[發明專利]直動旋轉檢測器

在審

• 申請號: 201680059993.7
• 申請日: 2016-10-15
• 公開（公告）號: CN108139233A
• 公開（公告）日: 2018-06-08
• 發明（設計）人: 森山克也;野口直之;有賀英吉;小清水武司
• 申請（專利權）人: 日本電產株式會社
• 主分類號: G01D5/244
• 分類號: G01D5/244;G01D5/245;G01D5/36
• 代理公司: 北京三友知識產權代理有限公司 11127
• 代理人: 李輝;于靖帥

1.一種直動旋轉檢測器，其特征在于，該直動旋轉檢測器具有：

圓筒狀的磁尺，其沿軸線方向直動并且繞軸線旋轉；

直動位置檢測用的第1磁檢測元件；

旋轉位置檢測用的第2磁檢測元件；

反射圖案，其用于檢測所述軸線方向和繞著所述軸線的方向中的至少一方的原點位置；以及

光傳感器，其具有檢測部，該檢測部檢測來自所述反射圖案的檢查光的反射光，

所述磁尺具有格子狀的磁化圖案，該磁化圖案在繞著所述軸線的周面上沿著所述軸線方向交替地排列有S極和N極，并且繞著所述軸線交替地磁化出S極和N極，

所述第1磁檢測元件和所述第2磁檢測元件與所述磁化圖案對置配置，

所述反射圖案設置于所述磁尺中的與所述磁化圖案重疊的位置。

2.根據權利要求1所述的直動旋轉檢測器，其特征在于，

所述直動旋轉檢測器具有片狀部件，該片狀部件具有所述反射圖案，

所述片狀部件粘貼在所述磁尺中的所述磁化圖案的表面上。

3.根據權利要求1或2所述的直動旋轉檢測器，其特征在于，

所述反射圖案在所述磁化圖案的表面上沿著所述軸線方向以恒定寬度延伸，用于檢測繞著所述軸線的方向上的原點位置。

4.根據權利要求1或2所述的直動旋轉檢測器，其特征在于，

所述反射圖案在所述磁化圖案的表面上繞著軸線以恒定寬度延伸，用于檢測所述軸線方向上的原點位置。

5.根據權利要求4所述的直動旋轉檢測器，其特征在于，

所述直動旋轉檢測器具有第1方向側反射圖案和第2方向側反射圖案作為所述反射圖案，該第1方向側反射圖案用于檢測所述軸線方向的第1方向上的第1原點位置，該第2方向側反射圖案用于檢測與所述第1方向相反的第2方向上的第2原點位置，

所述直動旋轉檢測器具有第1光傳感器和第2光傳感器作為所述光傳感器，該第1光傳感器檢測來自所述第1方向側反射圖案的所述反射光，該第2光傳感器檢測來自所述第2方向側反射圖案的所述反射光。

6.根據權利要求2所述的直動旋轉檢測器，其特征在于，

所述反射圖案具有第1反射圖案部分和第2反射圖案部分，該第1反射圖案部分用于檢測繞著所述軸線的方向上的原點位置，該第2反射圖案部分用于檢測所述軸線方向上的原點位置，

所述第1反射圖案部分在所述磁化圖案的表面上沿著所述軸線方向以恒定寬度延伸，

所述第2反射圖案部分在所述磁化圖案的表面上繞著軸線以恒定寬度延伸。

7.根據權利要求1至6中的任意一項所述的直動旋轉檢測器，其特征在于，

所述直動旋轉檢測器具有傳感器基板，該傳感器基板具有所述第1磁檢測元件和所述第2磁檢測元件，

所述第1磁檢測元件是磁阻元件，具有以彼此90°的相位差來檢測所述磁尺的直動的A相的第1磁阻圖案和B相的第1磁阻圖案，

所述第2磁檢測元件是磁阻元件，具有以彼此90°的相位差來檢測所述磁尺的旋轉的A相的第2磁阻圖案和B相的第2磁阻圖案，

所述A相的第1磁阻圖案和所述B相的第1磁阻圖案在所述傳感器基板上層疊，

所述A相的第2磁阻圖案和所述B相的第2磁阻圖案在所述傳感器基板上層疊。

8.根據權利要求7所述的直動旋轉檢測器，其特征在于，

所述第1磁檢測元件在所述傳感器基板上的與繞著所述磁尺的軸線的方向對應的寬度方向上的中心與所述第2磁檢測元件的所述寬度方向上的中心在所述傳感器基板上重疊，

所述光傳感器的所述檢測部與通過所述第1磁檢測元件和所述第2磁檢測元件的寬度方向上的中心并且包含所述軸線在內的假想面重疊，

所述第1磁檢測元件在所述寬度方向上的中心、所述第2磁檢測元件在所述寬度方向上的中心以及所述檢測部與所述磁尺的曲率的頂點對置。

9.根據權利要求7或8所述的直動旋轉檢測器，其特征在于，

所述檢測部比所述第1磁檢測元件和所述所述第2磁檢測元件離所述磁尺的表面遠。