[發(fā)明專利]縮短發(fā)光中心的閃爍響應(yīng)的方法以及具有縮短的閃爍響應(yīng)的閃爍體的材料有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201680059080.5 | 申請日: | 2016-10-05 |
| 公開(公告)號: | CN108139492B | 公開(公告)日: | 2021-06-04 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 金得里希·胡茲維卡;卡雷爾·布拉澤克;彼得·胡羅迪斯基;馬丁·尼克爾;帕沃·波哈斯克 | 申請(專利權(quán))人: | 克萊托斯波爾公司;費(fèi)茲卡尼厄斯達(dá)AVCR公司 |
| 主分類號: | G01T1/202 | 分類號: | G01T1/202;C09K11/08 |
| 代理公司: | 廣州粵高專利商標(biāo)代理有限公司 44102 | 代理人: | 隆翔鷹 |
| 地址: | 捷克圖*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 縮短 發(fā)光 中心 閃爍 響應(yīng) 方法 以及 具有 材料 | ||
要解決的問題:目前,縮短閃爍材料的閃爍響應(yīng)的已知方法是抑制閃爍響應(yīng)的次波幅較慢成分(2),但是在這種方法中,顯著縮短閃爍響應(yīng)的主波幅成分的可能性受到限制。解決方案:本發(fā)明涉及縮短閃爍體發(fā)光中心的閃爍響應(yīng)的方法,該方法用Ce或Pr共摻雜,同時(shí)用來自鑭系元素、3d躍遷金屬、4d躍遷金屬或5s2或6s2離子族的離子共摻雜。已經(jīng)具有由被吸收的電磁輻射導(dǎo)致發(fā)光中心電子激發(fā),用這種方法生成的閃爍體可通過非輻射能量轉(zhuǎn)移從被激發(fā)的發(fā)光中心帶離部分能量,從而導(dǎo)致閃爍響應(yīng)的主波幅成分(1)的持續(xù)時(shí)間被顯著縮短。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及縮短用于檢測電離輻射的閃爍體的閃爍響應(yīng)的方法,并且涉及對入射電離輻射具有快速閃爍響應(yīng)的閃爍體材料。
背景技術(shù)
閃爍材料(也就是閃爍體),能夠吸收電離粒子或光子,所吸收的電離粒子或光子具有對它所處的環(huán)境進(jìn)行電離的充足能量,即一般在真空紫外線內(nèi)(7eV以上)或在電磁譜的更加的短波長區(qū)域,并且閃爍材料能夠發(fā)射在電磁譜的相關(guān)區(qū)域中具有更低的能量的電離粒子或光子。在任何環(huán)境中吸收電離輻射會(huì)引起晶格中的閃爍體原子、分子或離子的電子的激發(fā)態(tài)。在所謂的閃爍響應(yīng)中,被最頻繁使用的閃爍體在可見光譜區(qū)域以快速、有效和可再生的方法發(fā)射輻射,也就是以閃爍衰變的方法,作為吸收電離輻射的反應(yīng),而該電離輻射通常在可見光譜區(qū)域之外。這意味著閃爍體將人眼(檢測器)可能不敏感的任意波長和頻率的電磁輻射轉(zhuǎn)換為人眼(檢測器)可見的輻射。多數(shù)閃爍體對各種形式的電離輻射作出反應(yīng)。
吸收電磁輻射的能力其特點(diǎn)在于物質(zhì)的吸收光譜,發(fā)射電磁輻射的能力其特點(diǎn)在于物質(zhì)的發(fā)射光譜。為評估吸收光譜或發(fā)射光譜,或吸收光譜中的吸收帶或發(fā)射光譜中的發(fā)射帶,要使用單個(gè)帶所達(dá)到的峰值以及半峰全寬(FWHM),半峰全寬(FWHM)是兩個(gè)極值之差,該兩個(gè)極值是自變量,在兩個(gè)極值處的因變量等于其峰值的一半。半峰半寬(HWHM)等于半峰全寬的一半。
首要的主時(shí)間是閃爍響應(yīng)中最快的主波幅成分,首要的主時(shí)間由非常接近于光致發(fā)光衰變中的壽命的發(fā)射中心壽命決定。光致發(fā)光衰變在發(fā)射中心的直接激發(fā)處測量,一般在紫外光譜區(qū)域。閃爍響應(yīng)事實(shí)上總是還包含較慢的成分,該較慢的成分源自能量傳遞的結(jié)果,大多數(shù)以帶電載體遷移至發(fā)射中心的方式。
通常在各種形式的電離輻射的檢測和光譜測定的過程中使用閃爍體。這些檢測器頻繁地被用于核物理和粒子物理、醫(yī)學(xué)研究領(lǐng)域或質(zhì)量控制行業(yè)。許多的這些應(yīng)用都要求短的閃爍體衰變時(shí)間,因?yàn)殚W爍體衰變時(shí)間正比于閃爍體進(jìn)行技術(shù)操作的速度。技術(shù)操作的示例包括在PET(即正電子成象術(shù))中進(jìn)行患者的身體掃描、邊境管制處進(jìn)行掃描物體、粒子物理研究中的粒子檢測、電子顯微鏡和CT中的掃描和成像、晶體學(xué)和許多其他的示例,其中閃爍體衰變時(shí)間扮演關(guān)鍵角色。
目前,各種類型的單晶被用于制備閃爍體檢測器。取決于所要求的應(yīng)用,使用單個(gè)類型單晶的各種不同的物理-化學(xué)性能、材料性能和閃爍性能,例如密度、有效原子序數(shù)、波長發(fā)射、發(fā)光壽命和光輸出。
在工業(yè)中基于鋁酸鹽類的材料已經(jīng)被使用了很長時(shí)間,也就是摻雜Ce3+的釔鋁石榴石(YAG:Ce、Y3Al5O12:Ce)、摻雜Ce3+的釔鋁鈣鈦礦(YAP:Ce、YAlO3:Ce)或摻雜Ce3+的釔鋁硅酸鹽(YSO:Ce、Y2SiO5:Ce)。如果要求更高的密度和更高的有效原子序數(shù),Y離子被Lu離子完全或部分取代。檢測器閃爍響應(yīng)的速度被發(fā)光中心本身(鈰離子)的響應(yīng)限制,對于這些材料發(fā)光中心本身的響應(yīng)在20ns至70ns之間。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于克萊托斯波爾公司;費(fèi)茲卡尼厄斯達(dá)AVCR公司,未經(jīng)克萊托斯波爾公司;費(fèi)茲卡尼厄斯達(dá)AVCR公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201680059080.5/2.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。





