[發(fā)明專利]X射線檢查裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201680057725.1 | 申請(qǐng)日： | 2016-10-07 |
| 公開（公告）號(hào)： | CN108449979B | 公開（公告）日： | 2021-07-09 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 樽本祥憲;棲原一浩;廣瀨修;巖井厚司 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人： | 株式會(huì)社石田 |
| 主分類號(hào)： | G01N23/04 | 分類號(hào)： | G01N23/04;G01N23/18;G01N23/083 |
| 代理公司： | 北京康信知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11240 | 代理人： | 玉昌峰;吳孟秋 |
| 地址： | 日本*** | 國省代碼： | 暫無信息 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 射線 檢查 裝置 | ||
1.一種X射線檢查裝置，具備：
輸送部，輸送被檢查物；
X射線照射部，向由所述輸送部輸送的所述被檢查物照射X射線；
X射線檢測(cè)部，檢測(cè)照射到由所述輸送部輸送的所述被檢查物的所述X射線；以及
圖像處理部，基于從所述X射線檢測(cè)部輸出的檢測(cè)信號(hào)生成所述被檢查物的X射線透過圖像，并對(duì)所述X射線透過圖像實(shí)施圖像處理，
所述X射線檢測(cè)部具有多個(gè)直接轉(zhuǎn)換型X射線檢測(cè)元件陣列，該多個(gè)直接轉(zhuǎn)換型X射線檢測(cè)元件陣列沿著與所述輸送部輸送所述被檢查物的輸送方向以及所述X射線照射部照射所述X射線的照射方向的兩個(gè)方向交叉的方向并排設(shè)置，并將第一能量帶的X射線轉(zhuǎn)換為電荷，
所述圖像處理部具有：
邊緣檢測(cè)部，對(duì)所述X射線透過圖像實(shí)施邊緣檢測(cè)處理而生成邊緣檢測(cè)圖像；
水平方向模糊部，對(duì)所述邊緣檢測(cè)圖像實(shí)施除去異物的邊緣而留下亮度降低線的沿著所述輸送方向的水平方向模糊處理而生成水平方向模糊圖像；以及
合成部，將所述X射線透過圖像與所述水平方向模糊圖像進(jìn)行合成而生成處理后X射線透過圖像，
所述X射線檢測(cè)部還具有間接轉(zhuǎn)換型X射線檢測(cè)元件陣列，該間接轉(zhuǎn)換型X射線檢測(cè)元件陣列沿著與所述輸送部輸送所述被檢查物的輸送方向以及所述X射線照射部照射所述X射線的照射方向的兩個(gè)方向交叉的方向并排設(shè)置，并將比所述第一能量帶大的第二能量帶的X射線轉(zhuǎn)換為光進(jìn)而將該光轉(zhuǎn)換為電荷，
所述圖像處理部將基于從所述直接轉(zhuǎn)換型X射線檢測(cè)元件陣列輸出的第一檢測(cè)信號(hào)而生成的所述被檢查物的第一X射線透過圖像與基于從所述間接轉(zhuǎn)換型X射線檢測(cè)元件陣列輸出的第二檢測(cè)信號(hào)而生成的所述被檢查物的第二X射線透過圖像進(jìn)行合成，從而生成合成X射線透過圖像，
所述圖像處理部將所述合成X射線透過圖像作為所述X射線透過圖像而生成所述處理后X射線透過圖像。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的X射線檢查裝置，其中，
所述第一能量帶的X射線為軟X射線。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的X射線檢查裝置，其中，
所述第二能量帶的X射線是硬X射線。
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