[發明專利]用于確定物體的反射率的方法和相關設備

有效

• 申請號: 201680057148.6
• 申請日: 2016-09-30
• 公開（公告）號: CN108449962B
• 公開（公告）日: 2020-12-15
• 發明（設計）人: 雷米·沃克林;弗蘭克·埃內貝勒
• 申請（專利權）人: 卡勒格銳研究有限公司
• 主分類號: G01N21/25
• 分類號: G01N21/25;G01N21/47;G01J3/50;G01J3/10;G01J3/02
• 代理公司: 北京銀龍知識產權代理有限公司 11243
• 代理人: 曾賢偉;許靜

1.一種用于確定物體(4)的反射率的方法，所述方法包括以下步驟：

-使用具有未知且可變照度的外部光源(6)來照亮所述物體(4)，

-發射照亮所述物體(4)的至少一個閃光(18)，每個閃光(18)由源(10)來發射并且在波長范圍內具有已知的照度，

-收集被所述物體(4)反射的波(20)以在傳感器(12)上形成至少一個圖像，

-獲得將來自所形成的圖像的數據與所述物體(4)的反射率和所述外部光源(6)的照度聯系起來的方程，所述方程為

E^capteur(λ)_i＝ρ^OBJ(λ)*(I^ext(λ)+S^SOURCE(λ)_i)，

其中E^capteur(λ)_i、ρ^OBJ(λ)、I^ext(λ)和S^SOURCE(λ)_i分別表示獲得的反射光流、所述物體(4)的反射率、所述外部光源(6)的照度和所述源(10)的照度，N是嚴格大于2的自然數，i從1變到N，并且λ為波長，

-求解所述方程，

所述求解所述方程的步驟包括

-計算所述方程的解點，

-對通過插值函數計算的點進行插值，以及

-使用以下近似中的至少一個近似來求解所述方程：

第一近似，根據所述第一近似，從分開的閃光的發射導出每個圖像，

第二近似，根據所述第二近似，插值函數確定所述方程的穩定點，以及

第三近似，根據所述第三近似，外部光源在閃光發射時刻的照度等于外部光源在先前時刻的照度。

2.根據權利要求1所述的方法，其中所述源(10)和所述傳感器(12)被設置于同一裝置(16)中。

3.根據權利要求1或2所述的方法，其中發射多個閃光(18)，每個閃光(18)具有最大波長照度，所述收集步驟針對發射的每個閃光(18)來執行，并且至少兩個閃光(18)具有分開至少20納米的最大照度。

4.根據權利要求1或2所述的方法，其中所述收集步驟針對同一閃光(18)執行多次，所獲得的方程是超定方程組，所述求解步驟通過使用所述第一近似針對多個確定的方程組來進行以獲得多個反射函數，所述方法進一步包括通過計算多個反射函數的均值來計算物體(4)的反射率。

5.根據權利要求1或2所述的方法，其中在所述求解所述方程的步驟中使用所述第二近似，并且其中所述插值函數是由有限數量的插值點封閉的基函數的加權組合，尤其是三次樣條，每個插值點是所述方程的穩定點。

6.根據權利要求5所述的方法，其中發射多個閃光(18)，每個閃光(18)具有最大波長照度，所述收集步驟針對發射的每個閃光(18)來執行，并且所述插值點驗證至少以下性質：

-所述插值點的數量等于閃光(18)的數量。

7.根據權利要求1或2所述的方法，其中在所述求解所述方程的步驟期間使用所述第三近似，并且其中所述方法包括如下步驟：在不存在由所述源發射的閃光的情況下，通過收集由物體(4)反射的波(20)以在傳感器(12)上形成至少一個圖像，來拍攝參考圖像。

8.根據權利要求7所述的方法，其中所述求解所述方程的步驟包括減去參考方程以獲得簡化方程的運算，所述參考方程從所述參考圖像獲得。

9.根據權利要求7所述的方法，其中所述方法進一步包括如下步驟：

估計所述外部光源(6)的照度的變化時間間隔，

根據估計的變化時間間隔，確定為了保持所述第一近似有效而重復地拍攝參考圖像的步驟的頻率。