[發明專利]通過光反射測量計測量液位的裝置、包括該裝置的結構和對應的測量方法在審
| 申請號: | 201680056249.1 | 申請日: | 2016-08-03 |
| 公開(公告)號: | CN108431558A | 公開(公告)日: | 2018-08-21 |
| 發明(設計)人: | 若瑟蘭·佩里塞;讓-雷納爾德·馬塞;西爾萬·吉拉爾;埃馬紐埃爾·馬林;塞蕾娜·里佐洛;阿齊茲·布肯特爾;約瑟夫·歐埃爾達內 | 申請(專利權)人: | 法瑪通公司;國家科學研究中心;讓·莫納-圣艾蒂安大學 |
| 主分類號: | G01F23/44 | 分類號: | G01F23/44;G01F23/68;G01M11/00 |
| 代理公司: | 北京銀龍知識產權代理有限公司 11243 | 代理人: | 丁文蘊;張敬強 |
| 地址: | 法國庫*** | 國省代碼: | 法國;FR |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 光纖 測量裝置 浮子 光輻射 偏轉 光反射測量 反向散射 自由表面 接合 滑動 測量液 分析儀 夾緊 液位 光源 推斷 測量 容納 分析 | ||
1.一種用于通過光反射測量計測量液位的測量裝置(1),其用于核設施的、含有一定量的液體(7)的結構(3),一定量的液體(7)由底部(9)和自由表面(13)界定,所述測量裝置(1)包括:
-至少一根光纖(15),其被設置為穿過所述自由表面(13)浸在所述液體中;
-光源(17),其將光輻射送入所述光纖(15)中;
-分析儀(19),其被設置為用于分析由所述光纖(15)反向散射的光輻射并由此推斷出所述液體相對于所述底部(9)的液位,
所述測量裝置(1)的特征在于其包括浮在所述液體的所述自由表面(13)上的浮子(21),所述浮子(21)包括其中滑動地容納所述至少一根或每根光纖(15)的通道(23),所述光纖(15)的、接合在所述通道中的部分(25)被夾緊或偏轉。
2.根據權利要求1所述的測量裝置,其特征在于,所述測量裝置(1)包括增穩管(41),其被設置為穿過所述自由表面(13)浸在所述液體中,所述浮子(21)在所述增穩管(41)內漂浮。
3.根據權利要求1或2所述的測量裝置,其特征在于,所述通道(23)被設置為使得所述光纖(15)的、接合在所述通道(23)中的所述部分(25)形成至少45°的圓弧,優選至少180°的圓弧。
4.根據前述任一項權利要求所述的測量裝置,其特征在于,所述通道(23)被設置為使得所述光纖(15)的、接合在所述通道(23)中的所述部分(25)形成為至少半S形,并優選形成為一個或多個S形。
5.根據前述任一項權利要求所述的測量裝置,其特征在于,所述測量裝置(1)包括至少兩根光纖(15),其中一根光纖涂覆有丙烯酸酯涂層,而另一根涂覆有聚酰亞胺或金屬涂層。
6.根據前述任一項權利要求所述的測量裝置,其特征在于,所述分析儀(19)是OFDR光頻域反射測量計類型或OTDR光時域反射測量計類型。
7.根據前述任一項權利要求所述的測量裝置,其特征在于,所述分析儀(19)被設置為用于確定作為由所述光纖(15)反向散射的光輻射的函數的、沿所述光纖(15)的機械應力曲線,并計算作為所述曲線的函數的、所述自由表面(13)相對于所述底部(9)的位置。
8.根據前述任一項權利要求所述的測量裝置,其特征在于,所述光纖(15)能夠承受超過1MGy、優選5MGy的輻射。
9.一種核設施的、含有一定量的液體(7)的結構(3),一定量的液體(7)由底部(9)和自由表面(13)界定,所述結構(3)還包括通過反射測量計測量液位的液位測量裝置(1),所述測量裝置(1)包括:
-至少一根光纖(15),其穿過所述自由表面(13)浸在所述液體中;
-光源(17),其將光輻射送入所述光纖(15)中;
-分析儀(19),其被設置為用于分析由所述光纖(15)反向散射的光輻射并由此推斷出所述液體相對于所述底部(9)的液位,
所述結構(3)的特征在于,所述測量裝置(1)包括浮在所述液體的所述自由表面(13)上的浮子(21),所述浮子(21)包括其中滑動地容納所述至少一根或每根光纖(15)的通道(23),所述光纖(15)的、接合在所述通道中的部分(25)被夾緊或偏轉。
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