[發明專利]材料分揀系統有效
| 申請號: | 201680053690.4 | 申請日: | 2016-07-18 |
| 公開(公告)號: | CN108136445B | 公開(公告)日: | 2020-11-20 |
| 發明(設計)人: | M·G·加西亞;N·庫馬;S·達斯 | 申請(專利權)人: | 索特拉合金有限公司 |
| 主分類號: | B07C5/02 | 分類號: | B07C5/02;B07C5/10;B07C5/34;B07C5/342;B07C5/36;B07C5/38;G01N23/223 |
| 代理公司: | 上海專利商標事務所有限公司 31100 | 代理人: | 王穎;江磊 |
| 地址: | 美國特*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 材料 分揀 系統 | ||
1.一種將多個金屬合金件分揀到至少第一金屬合金件分揀集和第二金屬合金件分揀集中的方法,所述第一金屬合金件分揀集具有第一金屬合金組成,所述第二金屬合金件分揀集具有不同于第一金屬合金組成的第二金屬合金組成,所述方法包括:
將多個金屬合金件以預定的速度在輸送帶上輸送;
沿著與輸送帶的行進方向基本上平行的線確定多個金屬廢件中每個金屬廢件的近似長度,其中確定多個金屬合金件中每個金屬合金件的近似長度包括在多個金屬合金廢件中每個金屬合金廢件以預定的速度行進經過距離測量裝置時測量該金屬合金廢件的近似長度,其中距離測量裝置使用光源來確定多個金屬合金件中每個金屬合金件的近似長度;
使多個金屬廢件暴露于x射線熒光(“XRF”)系統的x射線源發射的x射線,并通過XRF系統檢測多個金屬廢件響應于x射線源發射的x射線所發射的x射線熒光信號;
其中,配置XRF系統,以僅僅在一段時間內測量從多個金屬合金件中每個金屬合金件中特定的一個金屬合金件發出的XRF光譜,所述一段時間是根據多個金屬合金件中每個金屬合金件中特定的一個金屬合金件所測得的近似長度確定的,其中所述一段時間是根據多個金屬合金件中每個金屬合金件中特定的一個金屬合金件測得的近似長度和預定的速度確定的,使得僅測量從多個金屬合金件中每個金屬合金件中特定的一個金屬合金件發出的XRF光譜,不測量來自多個金屬合金件中每個金屬合金件中特定的一個金屬合金件周圍環境的XRF光譜;
將所述多個金屬合金件中的第一金屬合金件分類為具有第一金屬合金組成,并且將所述多個金屬合金件中的第二金屬合金件分類為具有第二金屬合金組成,其中由使用XRF系統從多個金屬合金件中的每個金屬合金件檢測獲得的x射線熒光的結果對多個金屬合金件的金屬合金組成進行分類;
響應于以下(1)和(2)將多個金屬合金件中的第一金屬合金件與金屬合金件中的第二金屬合金件分揀開來:(1)將多個金屬合金件中的第一金屬合金件分類為具有第一金屬合金組成,(2)將多個金屬合金件中的第二金屬合金件分類為具有第二金屬合金組成。
2.如權利要求1所述的方法,其特征在于,XRF系統的一個或多個x射線檢測器獲得XRF光譜,所述XRF光譜包含在多個金屬合金件中的每個金屬合金件在從XRF系統發射的x射線束附近行進時該金屬合金件發出熒光的x射線的多個信道的能量計數,其中多個信道的每個信道表示多個金屬合金件中每個金屬合金件中的不同元素,其中多個信道中每個信道的能量計數累積為多個金屬合金件的運行總能量計數,其中對于多個金屬合金件中每個金屬合金件中特定的一個金屬合金件的多個信道中的每個信道的能量計數通過以下方式確定:基于每信道,從多個金屬合金件中特定的一個金屬合金件的x射線檢測器接收的累積運行總能量計數中減去之前掃描的金屬合金件的x射線檢測器接收的累積運行總能量計數。
3.如權利要求2所述的方法,所述方法還包括:
將多個信道中每個信道的各能量計數的凈峰面積進行歸一化,對多個金屬合金件中的第一金屬合金件產生元素組成標記;和
對多個金屬合金件中的第一金屬合金件的元素組成標記與一個或多個已知的元素組成標記逐個元素進行比較,其中所述一個或多個已知的元素組成標記各自對應于不同的金屬合金組成。
4.如權利要求3所述的方法,其特征在于,當多個金屬合金件中第一金屬合金件的元素組成標記與已知的對應第一金屬合金組成的元素組成標記基本匹配時,所述多個金屬合金件中的第一金屬合金件被分類為具有第一金屬合金組成。
5.如權利要求3所述的方法,其特征在于,所述凈峰面積通過以下方式確定:
向XRF光譜施加平滑濾波器,以產生XRF光譜的平滑曲線圖;
剝離XRF光譜的平滑曲線圖中的峰,以估計XRF光譜的背景能量計數;和
從XRF光譜的平滑曲線圖中減去估計的背景能量計數,得到多個信道中各信道的最終能量計數。
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